网友您好， 请在下方输入框内输入要搜索的题目：

题目内容 （请给出正确答案）

一个几何形状不是扁平的缺陷，其取向、距离和直径均与扁平的缺陷相同，在相同探伤灵敏度下波束垂直射及时，前者的回波高度与后者的回波高度相比，通常是：（）

  • A、相同
  • B、增高 
  • C、降低
  • D、延长

参考答案

更多 “一个几何形状不是扁平的缺陷，其取向、距离和直径均与扁平的缺陷相同，在相同探伤灵敏度下波束垂直射及时，前者的回波高度与后者的回波高度相比，通常是：（）A、相同B、增高C、降低D、延长” 相关考题
考题 在超声波探伤中由于缺陷本身影响反射波高的因素有()。A.缺陷形状、取向和尺寸B.缺陷性质C.缺陷反射率D.上述都有
查看答案
考题 缺陷的形状、大小和取向直接影响到缺陷的回波高度。（）此题为判断题(对，错)。
查看答案
考题 缺陷反射声能的大小取决于()A.缺陷的尺寸 B.缺陷的类型 C.缺陷的形状和取向 D.以上全部
查看答案
考题 除缺陷的大小和声程外，影响缺陷波高的缺陷自身因素有（）A、缺陷取向B、缺陷形状C、缺陷类型D、缺陷的表面粗糙度
查看答案
考题 钢坯生产工艺缺陷有几何形状不正，尺寸公差不合，扭转和弯曲以及一些表面缺陷。
查看答案
考题 仪器及探头的性能、耦合与衰减、工件几何形状和尺寸、缺陷自身及缺陷位置都影响缺陷的定量。
查看答案
考题 A型扫描显示中，从荧光上直接可获得的信息是：（）A、缺陷的性质和大小B、缺陷的形状和取向C、缺陷回波的大小和超声传播的时间D、以上都是
查看答案
考题 在磁粉探伤时，缺陷处所产生的漏磁通的大小与缺陷的几何形状和方向无关
查看答案
考题 A型扫描显示中，从荧光屏上直接可获得的信息是：（）A、缺陷的性质和大小B、缺陷的形状和取向C、缺陷回波的大小和超声传播的时间D、以上都是
查看答案
考题 锻件探伤时，哪些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波（）A、边缘效应B、工件形状及外形轮廓C、缺陷形状和取向D、以上全部
查看答案
考题 缺陷的回波高度主要取决于其大小、形状和取向，缺陷的性质对其回波高度大小没有影响。（）
查看答案
考题 A型扫描显示从荧光屏时基线上直接可获得的信息是（）。A、 缺陷的性质和大小B、 缺陷的形状和取向C、 缺陷的回波幅度和时间距离D、 超声波的波形
查看答案
考题 以下不是影响几何不清晰度的主要原因是（）。A、 射线源焦点尺寸、焦距B、 缺陷至胶片距离C、 焦点至缺陷的距离D、 焦点至胶片的距离
查看答案
考题 在晶体的缺陷中，按几何形状，螺型位错属于（）A、点缺陷B、线缺陷C、面缺陷D、体缺陷
查看答案
考题 在超声波探伤中由于缺陷本身影响反射波高的因素有（）A、缺陷形状、取向和尺寸B、缺陷性质C、缺陷反射率D、上述都有
查看答案
考题 缺陷反射声能的大小，取决于（）A、缺陷的尺寸B、缺陷的类型C、缺陷的形状和取向D、以上全部
查看答案
考题 缺陷的形状、大小和取向直接影响到缺陷的回波高度。
查看答案
考题 射线底片上影像所代表的缺陷性质的识别通常可以从（）黑度分布和位置进行综合分析。A、缺陷影像的几何形状B、缺陷影像的厚度C、缺陷影像的大小D、缺陷影像的长度
查看答案
考题 单选题一个几何形状不是扁平的缺陷，其取向、距离和直径均与扁平的缺陷相同，在相同探伤灵敏度下波束垂直射及时，前者的回波高度与后者的回波高度相比，通常是：（）A 相同B 增高C 降低D 延长
查看答案
考题 判断题在磁粉探伤时，缺陷处所产生的漏磁通的大小与缺陷的几何形状和方向有关A 对B 错
查看答案
考题 判断题仪器及探头的性能、耦合与衰减、工件几何形状和尺寸、缺陷自身及缺陷位置都影响缺陷的定量。A 对B 错
查看答案
考题 多选题除缺陷的大小和声程外，影响缺陷波高的缺陷自身因素有（）A缺陷取向B缺陷形状C缺陷类型D缺陷的表面粗糙度
查看答案
考题 判断题缺陷的形状、大小和取向直接影响到缺陷的回波高度。A 对B 错
查看答案
考题 单选题在超声波探伤中由于缺陷本身影响反射波高的因素有（）A 缺陷形状、取向和尺寸B 缺陷性质C 缺陷反射率D 上述都有
查看答案
考题 单选题缺陷反射声能的大小，取决于（）A 缺陷的尺寸B 缺陷的类型C 缺陷的形状和取向D 以上全部
查看答案
考题 判断题缺陷的回波高度主要取决于其大小、形状和取向，缺陷的性质对其回波高度大小没有影响。（）A 对B 错
查看答案
考题 单选题A型扫描显示从荧光屏时基线上直接可获得的信息是（）。A 缺陷的性质和大小B 缺陷的形状和取向C 缺陷的回波幅度和时间距离D 超声波的波形
查看答案
热门标签
最新试卷