考题
双晶直探头由于延迟块的存在，避免了始脉冲引起的盲区问题，可以检测近表面缺陷和进行薄板检测。
考题
检验近表面缺陷，最有效的方法是（）A、可变角探头B、直探头C、斜探头D、收发联合双晶探头
考题
双晶片联合探头，由于盲区小，因此有利（）缺陷的探测。
考题
检验近表面缺陷，最有效的探头是（）A、可变角探头B、直探头C、斜探头D、收/发联合双晶探头
考题
双晶片联合探头，由于盲区较小，因此有利于（）缺陷的探测。
考题
以下哪一条，不属于双晶探头的优点（）A、探测范围大B、盲区小C、工件中近场长度小D、杂波少
考题
双晶探头用于探测工件（）缺陷。A、近表面B、表面C、内部D、平面形
考题
检验近表面缺陷，最有效的方法是（）。A、可变角探头B、直探头C、斜探头D、收/发联合双晶探头
考题
双晶片联合探头，由于盲区较小，因此有利于近表面缺陷的探测。
考题
检验（）缺陷，有效的方法是采用收发联合双晶探头。
考题
填空题双晶片联合探头，由于盲区较小，因此有利于（）缺陷的探测。
考题
问答题在超声波探伤中，双晶探头用于探测工件中什么部位的缺陷？
考题
判断题双晶片联合探头，由于盲区较小，因此有利于近表面缺陷的探测。A
对B
错
考题
填空题检验（）缺陷，有效的方法是采用收发联合双晶探头。
考题
填空题双晶片联合探头，由于盲区小，因此有利（）缺陷的探测。
考题
判断题双晶直探头由于延迟块的存在，避免了始脉冲引起的盲区问题，可以检测近表面缺陷和进行薄板检测。A
对B
错
考题
判断题检验近表面缺陷时，最好选用联合双晶探头。A
对B
错
考题
单选题检验近表面缺陷，最有效的方法是（）。A
可变角探头B
直探头C
斜探头D
收/发联合双晶探头
考题
单选题检验近表面缺陷，最有效的探头是（）A
可变角探头B
直探头C
斜探头D
收/发联合双晶探头
考题
判断题双晶探头主要用于近表面缺陷的探测。A
对B
错
考题
填空题双晶联合探头，由于盲区较小，因此有利于发现（）缺陷的探测。
考题
单选题双晶探头用于探测工件（）缺陷。A
近表面B
表面C
内部D
平面形
考题
判断题双晶探头用于探测工件近表面缺陷。A
对B
错
考题
单选题检验近表面缺陷，最有效的方法是（）A
可变角探头B
直探头C
斜探头D
收发联合双晶探头
