考题
收/发联合双晶探头适合于检验近表面缺陷。（）此题为判断题(对，错)。
考题
检验近表面缺陷，最有效的方法是（ ）。A.可变角探头B.直探头C.斜探头D.收/发联合双晶探头
考题
检验近表面缺陷时,最好选用联合双晶探头。()
此题为判断题(对，错)。
考题
检验近表面缺陷最有效的方法是采用收发联合双晶探头
考题
双晶直探头由于延迟块的存在，避免了始脉冲引起的盲区问题，可以检测近表面缺陷和进行薄板检测。
考题
检验近表面缺陷，最有效的方法是（）A、可变角探头B、直探头C、斜探头D、收发联合双晶探头
考题
检验近表面缺陷，最有效的探头是（）A、可变角探头B、直探头C、斜探头D、收/发联合双晶探头
考题
双晶直探头的最主要用途是（）。A、探测近表面缺陷B、精确测定缺陷长度C、精确测定缺陷高度D、用于表面缺陷检测
考题
检测与焊接接头垂直或成一定角度的缺陷，最好采用（） 。A、 直探头B、 双晶探头C、 横波斜探头D、 聚焦探头
考题
检验近表面缺陷时，最好采用联合双晶探头是因为该探头晶片前面带有机玻璃延迟块，减小了纵波单晶探头存在的阻塞。
考题
检验近表面缺陷，最有效的方法是（）。A、可变角探头B、直探头C、斜探头D、收/发联合双晶探头
考题
双晶片联合探头，由于盲区较小，因此有利于近表面缺陷的探测。
考题
检验（）缺陷，有效的方法是采用收发联合双晶探头。
考题
单选题双晶直探头的最主要用途是（）。A
探测近表面缺陷B
精确测定缺陷长度C
精确测定缺陷高度D
用于表面缺陷检测
考题
判断题双晶片联合探头，由于盲区较小，因此有利于近表面缺陷的探测。A
对B
错
考题
判断题检验近表面缺陷时，最好选用联合双晶探头。A
对B
错
考题
单选题检验近表面缺陷，最有效的方法是（）。A
可变角探头B
直探头C
斜探头D
收/发联合双晶探头
考题
单选题检验近表面缺陷，最有效地方法是（）A
可变角的探头B
直探头C
斜探头D
收/发联合双晶探头
考题
单选题检验近表面缺陷，最有效的探头是（）A
可变角探头B
直探头C
斜探头D
收/发联合双晶探头
考题
判断题检验近表面缺陷时，最好采用联合双晶探头是因为该探头晶片前面带有机玻璃延迟块，减小了纵波单晶探头存在的阻塞。A
对B
错
考题
判断题收/发联合双晶探头适合于检验近表面缺陷。A
对B
错
考题
单选题检验近表面缺陷，最有效的方法是（）A
可变角探头B
直探头C
斜探头D
收发联合双晶探头
考题
判断题检验近表面缺陷最有效的方法是采用收发联合双晶探头。A
对B
错
考题
单选题检测与焊接接头垂直或成一定角度的缺陷，最好采用（） 。A
直探头B
双晶探头C
横波斜探头D
聚焦探头
