考题
超声波探伤中，没有探测盲区的探伤方法是( )。A、反射法B、穿透法C、底面多次回波法D、底面一次回波反射法法
考题
根据接收到的回波情况来判断缺陷的方法称为脉冲反射法。 （ ）此题为判断题(对，错)。
考题
超声波探头发射脉冲波到被检试件内,根据反射波的情况来检测试件缺陷的方法,称为()。
考题
对球墨铸铁探伤时，可采用下列哪种方法判断铸件质量（）A、底面回波次数B、杂波高度C、缺陷波幅度D、缺陷波占宽
考题
根据接收到的回波情况来判断缺陷的方法称为脉冲反射法。
考题
JB/T8467-96标准规定：底波降低量BG/BF（db）中的BG表示（）A、底面回波高度B、有缺陷处的底面回波高度C、无缺陷处的底面回波高度D、缺陷回波高度
考题
JB/T8467-96标准规定：底波降低量BG/BF（db）中的BF表示（）A、缺陷回波高度B、底面回波高度C、有缺陷处的底面回波高度D、以上都是
考题
以下哪些缺陷尺寸的评定方法适用于焊缝等横波检测（）A、缺陷回波高度与底面回波高度比较B、缺陷回波高度与参考反射体回波高度比较C、以缺陷回波高度与基准波高的分贝差计算当量D、缺陷指示长度测定
考题
斜入射横波法探测平板形试件时，探测图形中（）。A、没有底面回波B、有底面回波C、有大型缺陷回波时底面回波消失D、有大型缺陷回波时有底面回波
考题
用任何方法作超声探伤时，为有效地检测缺陷应使（）。A、超声波束尽可能地与缺陷最大表面垂直B、超声波束与缺陷最大表面平行C、底面回波次数尽可能地多D、超声波束与试件底面垂直
考题
盲区最小的探伤方法是（）A、缺陷回波法B、底面多次回波法C、透过波高度法D、表面波法
考题
在超声波探伤中，缺陷自身影响缺陷回波高度的因素有哪些？
考题
超声波探伤，根据仪器示波屏上显示的缺陷回波进行探伤的方法称为（）。
考题
常用的以示波屏横轴代表超声波传播时间，纵轴代表回波高度，即按直角坐标形式显示的超声波探伤仪，称为（）探伤仪．
考题
底面多次回波法探伤主要用于（）A、厚度较小的板材B、形状复杂的试件C、大厚度试件
考题
单选题斜入射横波法探测平板形试件时，探测图形中（）。A
没有底面回波B
有底面回波C
有大型缺陷回波时底面回波消失D
有大型缺陷回波时有底面回波
考题
填空题超声波探伤，根据底面回波的高度变化，判断试件缺陷情况的方法，称为（）。
考题
单选题对球墨铸铁探伤时，可采用下列哪种方法判断铸件质量（）A
底面回波次数B
杂波高度C
缺陷波幅度D
缺陷波占宽
考题
单选题超声波探伤中，没有探测盲区的探伤方法是（）A
反射法B
穿透法C
底面多次回波法D
底面一次回波反射法法
考题
填空题超声波探伤，根据仪器示波屏上显示的缺陷回波进行探伤的方法，称为（）。
考题
单选题用任何方法作超声探伤时，为有效地检测缺陷应使（）。A
超声波束尽可能地与缺陷最大表面垂直B
超声波束与缺陷最大表面平行C
底面回波次数尽可能地多D
超声波束与试件底面垂直
考题
问答题在超声波探伤中，缺陷自身影响缺陷回波高度的因素有哪些？
考题
单选题盲区最小的探伤方法是（）A
缺陷回波法B
底面多次回波法C
透过波高度法D
表面波法
考题
单选题JB/T8467-96标准规定：底波降低量BG/BF（db）中的BG表示（）A
底面回波高度B
有缺陷处的底面回波高度C
无缺陷处的底面回波高度D
缺陷回波高度
考题
判断题根据接收到的回波情况来判断缺陷的方法称为脉冲反射法。A
对B
错
考题
问答题超声波探伤时，缺陷状况对回波高度有哪些影响？
考题
多选题以下哪些缺陷尺寸的评定方法适用于焊缝等横波检测（）A缺陷回波高度与底面回波高度比较B缺陷回波高度与参考反射体回波高度比较C以缺陷回波高度与基准波高的分贝差计算当量D缺陷指示长度测定
