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独立避雷针导通电阻低于500mΩ时应进行校核测试其他部分导通电阻大于50mΩ时应进行校核测试，应不大于200mΩ且初值差不大于（）%

(A)50 (B)40 (C)55 (D)35

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更多 “独立避雷针导通电阻低于500mΩ时应进行校核测试其他部分导通电阻大于50mΩ时应进行校核测试，应不大于200mΩ且初值差不大于（）%(A)50 (B)40 (C)55 (D)35 ” 相关考题
考题 独立避雷针导通电阻低于500mΩ时应进行校核测试
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考题 独立避雷针的接地电阻测试值应在 （）以上，当独立避雷针导通电阻值低于（）时，需进行校核测试。100mΩ，100m$;$Ω200mΩ，200mΩ$;$300mΩ，300mΩ$;$500mΩ，500mΩ
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考题 独立避雷针导通电阻低于500mΩ时应进行校核测试。其他部分导通电阻大于50mΩ时应进行校核测试，应不大于300mΩ且初值差不大于50%。
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考题 独立避雷针导通电阻低于500mΩ时应进行校核测试。其他部分导通电阻大于50mΩ时应进行校核测试，应不大于200mΩ且初值差不大于( )。20%$;$30%$;$40%$;$50%
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考题 接地装置运行一般规定中，独立避雷针导通电阻低于（）mΩ时应进行校核测试。其他部分导通电阻大于50mΩ时应进行校核测试，应不大于200mΩ且初值差不大于50%500$;$400$;$300$;$200
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考题 独立避雷针导通电阻低于300mΩ时应进行校核测试，其他部分导通电阻大于60mΩ时应进行校核测试
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考题 根据《国家电网公司变电运维管理规定》，除独立避雷针外其他部分导通电阻大于100mΩ时应进行校核测试，应不大于200mΩ且初值差不大于50%。
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考题 独立避雷针导通电阻低于500mΩ时应进行校核测试。其他部分导通电阻大于50mΩ时应进行校核测试，应不大于（ ）且初值差不大于50%。50mΩ$; $100mΩ$; $150mΩ$; $200mΩ
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考题 独立避雷针的接地电阻测试值应在(____)以上，当独立避雷针导通电阻值低于此值时，需进行校核测试。 100mΩ$; $ 200mΩ$; $ 300mΩ$; $ 500mΩ
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考题 独立避雷针导通电阻低于(____)时应进行校核测试。100mΩ$; $500mΩ$; $250mΩ$; $50mΩ
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考题 独立避雷针导通电阻大于500mΩ时应进行校核测试其他部分导通电阻大于50mΩ时应进行校核测试，应不大于200mΩ且初值差不大于50%
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考题 独立避雷针导通电阻低于500mΩ时应进行校核测试。其他部分导通电阻大于50mΩ时应进行校核测试，应不大于200mΩ且初值差不大于50%
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考题 独立避雷针的接地电阻测试值应在500mΩ以上，当独立避雷针导通电阻值低于500mΩ时，需进行校核测试
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考题 独立避雷针导通电阻低于 （）mΩ时应进行校核测试。50$;$500$;$450$;$550
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考题 独立避雷针导通电阻(____)时应进行校核测试。低于500mΩ$;$高于500mΩ$;$低于800mΩ$;$高于800mΩ
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考题 独立避雷针导通电阻低于1000mΩ时应进行校核测试
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考题 除独立避雷针外其他部分导通电阻大于100mΩ时应进行校核测试，应不大于200mΩ且初值差不大于50%
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考题 独立避雷针导通电阻低于（）时应进行校核测试500mΩ$;$300mΩ$;$400mΩ$;$600mΩ
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考题 独立避雷针导通电阻低于( )mΩ时应进行校核测试。其他部分导通电阻大于50mΩ时应进行校核测试，应不大于200mΩ且初值差不大于50%100$;$500$;$50$;$200
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考题 独立避雷针导通电阻低于（）时应进行校核测试(A)500mΩ (B)300mΩ (C)400mΩ (D)600mΩ
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考题 独立避雷针导通电阻低于（）mΩ时应进行校核测试其他部分导通电阻大于50mΩ时应进行校核测试，应不大于200mΩ且初值差不大于50%(A)100 (B)500 (C)50 (D)200
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考题 接地装置运行一般规定中，独立避雷针导通电阻低于（）mΩ时应进行校核测试其他部分导通电阻大于50mΩ时应进行校核测试，应不大于200mΩ且初值差不大于50%(A)500 (B)400 (C)300 (D)200
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考题 独立避雷针导通电阻低于（）mΩ时应进行校核测试(A)750 (B)500 (C)1000 (D)1500
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考题 （）导通电阻低于500mΩ时应进行校核测试。其他部分导通电阻大于50mΩ时应进行校核测试，应不大于200mΩ且初值差不大于50%。A、独立避雷针B、构架避雷针C、避雷线D、避雷器
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考题 独立避雷针每年进行接地导通检测，导通电阻（）或（）500mΩ时是否进行了校核测试。A、小于B、大于C、等于D、以上说法都不对
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考题 独立避雷针每年进行接地导通检测，导通电阻小于或等于500mΩ时是否进行了校核测试。
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考题 独立避雷针导通电阻低于500mΩ时应进行校核测试。其他部分导通电阻大于50mΩ时应进行校核测试，应不大于（）且初值差不大于50%。A、50mΩB、100mΩC、150mΩD、200mΩ
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