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填空题
在高压输变电无线电干扰测试中，有效的测量是电磁环境电平至少比来自被测对象的干扰电平低（）dB
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考题
在互调衰减测试时,在干扰信号偏移被测发信机频率800kHz时,在频段100kHz~12.75GHz内任何发信机互调分量信号的功率电平应比被测发信机发射信号低()。
A.30dBB.50dBC.70dBD.103dB
考题
上行干扰测试系统天线增益为13dBi,馈线损耗为1dB,LNA增益为25Db,测得干扰电平为－70dBm／5MHz;WCDMA系统基站天线增益为18dBi,馈线损耗为3dB,塔放增益为12dB,则该干扰电平在基站机顶口的电平为:()
A.-50dBmB.-60dBmC.-70dBmD.-80dBm
考题
在“上下行平衡性能测量”话统中，统计指标落在“等级一”中，表示：（）A、测量报告中的“下行接收电平－上行接收电平”≤-15dBB、测量报告中的“下行接收电平－上行接收电平-6”≤-15dBC、测量报告中的“上行接收电平－下行接收电平”≤-15dBD、测量报告中的“上行接收电平－下行接收电平-6”≤-15dB
考题
当测量信号电平较低时，计算实际信号电平必须考虑频谱分析仪本底噪声对测量精度的影响。为了降低内部噪声对测量结果的影响，通常在实际测试过程中，应保持频谱分析仪的内部噪声比被测信号低（）dB以上，A、5B、10C、15D、20
考题
在互调衰减测试时，在干扰信号偏移被测发信机频率800kHz时，在频段100kHz~12.75GHz内任何发信机互调分量信号的功率电平应比被测发信机发射信号低（）。A、30dBB、50dBC、70dBD、103dB
考题
单选题在互调衰减测试时，在干扰信号偏移被测发信机频率800kHz时，在频段100kHz~12.75GHz内任何发信机互调分量信号的功率电平应比被测发信机发射信号低（）。A
30dBB
50dBC
70dBD
103dB
考题
单选题供电电压相同时，CMOS电路与TTL电路输出的高电平与低电平的情况为（）A
CMOS的输出高电平比TTL的输出高电平高，低电平比TTL输出的低电平低B
CMOS的输出高电平比TTL的输出高电平高，低电平比TTL输出的低电平高C
CMOS的输出高电平比TTL的输出高电平低，低电平比TTL输出的低电平低D
CMOS的输出高电平比TTL的输出高电平低，低电平比TTL输出的低电平高
考题
单选题上行干扰测试系统天线增益为13dBi，馈线损耗为1dB，LNA增益为25Db，测得干扰电平为-70dBm/5MHz；WCDMA系统基站天线增益为18dBi，馈线损耗为3dB，塔放增益为12dB，则该干扰电平在基站机顶口的电平为：（）A
-50dBmB
-60dBmC
-70dBmD
-80dBm
考题
填空题在高压输变电无线电干扰测试中，对线路而言，标准的测量距离是距边相导线投影（）m处。
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