考题
关于X射线"质"的描述错误的是A、即X射线的强度B、由X射线的波长决定C、由X射线的频率决定D、X射线波长越短，穿透力越强E、X射线波长越长，X射线"质"越硬
考题
物相鉴定的依据是衍射线方向和衍射强度,在衍射图谱上即为衍射峰的位置和峰高。()
此题为判断题(对，错)。
考题
()是鉴定物相的主要依据。
A.X射线B.衍射线相对强度C.衍射峰高D.晶面间距表征衍射线位置
考题
关于X线质,叙述正确的是
A、即X射线的强度B、由X射线的波长决定C、由X射线的频率决定D、X射线波长越短，穿透力越弱E、X射线波长越长，X射线质越硬
考题
关于X射线“质”的叙述，错误的是A.即X射线的强度B.由X射线的波长决定C.由X射线的频率决定D.X射线波长越短，穿透力越强E.X射线波长越长，X射线“质”越硬
考题
单色X射线束是（）A、窄X射线束B、标识X射线束C、连续谱X射线束D、由单一波长组成的X射线束
考题
（）技术是研究分子结构最有效和最精准的方法。A、离子共振技术B、磁共振技术C、质谱技术D、X-射线单晶衍射技术
考题
X射线管产生的一次X射线束是（），二次X射线束是（）。A、连续谱+特征谱B、纯特征谱C、连续谱D、散射线
考题
能量色散型X射线荧光光谱仪利用（）进行定性分析。A、脉冲数/秒B、能谱图峰位（脉冲高度）C、能谱图的峰高D、透光度
考题
能量色散X射线荧光分析仪从多道分析器得到的谱带必须经过谱处理，其中包括（）等，才能得到准确的谱峰和强度。A、谱平滑B、背景拟合扣除C、重叠峰的拟合D、分离
考题
波长色散X射线荧光光谱仪的分光晶体是利用晶体的（）现象使不同波长的X射线分开，以便从中选择被测元素的（）谱线进行测定。A、反射B、衍射C、折射D、特征
考题
比较仪器结构比较多晶X射线衍射仪与四圆单晶X射线衍射仪的异同。
考题
填空题X射线衍射的本质是（），产生衍射现象的必要条件是（）。
考题
问答题X射线的衍射峰、晶体参数与煤的结构性质有什么对应关系？
考题
单选题衍射花样的基本要素不包括（）A
衍射角B
线形C
强度D
衍射线的峰位
考题
单选题X射线衍射试样的晶粒尺寸变小会使（）A
衍射峰变强B
衍射峰变弱C
衍射峰变宽D
衍射峰变窄
考题
填空题尽管衍射花样可以千变万化，但是它们的基本要素只有三个：即衍射线的峰位、线形、（）
考题
填空题银的X射线光电子能谱的存在Ag4s峰、Ag3p峰、Ag3s峰、Ag3d峰四个特征峰，其中强度最大的峰是（）
考题
单选题单色X射线束是（）A
窄X射线束B
标识X射线束C
连续谱X射线束D
由单一波长组成的X射线束
考题
问答题衍射线峰位的确定方法有哪几种？各适用于什么情况？
考题
单选题关于X射线"质"的描述错误的是（）A
即X射线的强度B
由X射线的波长决定C
由X射线的频率决定D
X射线波长越短，穿透力越强E
X射线波长越长，X射线"质"越硬
考题
问答题如果一个样品的X射线衍射图谱中某个晶面衍射峰的2θ角比卡片值偏低，而衍射峰强度比卡片值明显偏高，说明该样品就有什么样的结构特征？
考题
填空题测量X射线衍射线峰位的方法有七种，它们分别是（）、峰巅法、切线法、（）、中线峰法、重心法、（）
考题
多选题关于X线质，叙述正确的是（）。A即X射线的强度B由X射线的波长决定C由X射线的频率决定DX射线波长越短，穿透力越弱EX射线波长越长，X射线质越硬
考题
单选题已知分光晶体的晶面距为0.598nm，X射线一级衍射峰的2θ=24.86o，此X射线的波长是（）A
0.503nmB
0.129nmC
0.251nmD
0.254nm
考题
填空题X射线衍射仪由X射线发生器、（）、（）和（）4个基本*部分组成，现代X射线衍射仪还配有控制操作和运行软件的计算机系统。
考题
填空题XPS光电子能谱图中通常会出现X射线卫星峰、能量损失峰、（）、（）和（）、（）等5种伴峰。
