考题
利用WGT-3试块上∮3×80横通孔可测定0°探头( )。A、分辨力B、穿透力C、声轴偏斜角D、盲区
考题
H-1型半圆试块（）。A、可调整探测范围B、可测定直探头距离幅度特性C、可测定斜探头的入射角和折射角D、A与C都对
考题
CSK－ⅠA试块的的R50、R100圆弧面，可用来测定（）。A、 直探头的的远场分辨力B、 斜探头的K值C、 斜探头的入射点D、 斜探头的声束偏斜角
考题
与IIW试块相比，CSKⅠA试块的优点之一是可以测定斜探头的分辨力。
考题
用双晶直探头检测厚度不大于20mm的钢板时，应采用CB-Ⅱ标准试块对检测系统进行 校准。
考题
用CSK-1A试块可测定仪器和探头的哪些组合性能指标？
考题
用IIW标准试块测定斜探头的折射角度，在探测任何声速的试件时，此值（）。A、不变B、变化C、有条件的变化D、都不对
考题
CSK-IA试块将IIW试块的φ50孔改为φ40、φ44和φ50台阶孔，其目的是（）A、测定斜探头K值B、测定直探头盲区范围C、测定斜探头分辨率D、以上全部
考题
能够改变入射角的探头叫（）探头。A、纵波B、横波C、斜角D、可变角
考题
在不退轴承或轴承内圈情况下，探测轴颈卸荷槽裂纹时，如何用9°～11°小角度纵波探头、TZS-R标准试块进行标距测定？
考题
试块的用途有哪些？CSK－IA试块可测定仪器和探头的哪些性能？
考题
TB/T2340—2000标准中规定，测定钢轨超声波探伤仪70°探头通道的灵敏度余量应在（）试块上进行。
考题
用IIW标准块试块测定斜探头的折射角，在探测任何声波的试件时此值（）。A、不变B、变化
考题
用标准试块测定斜角探头的实际入射角与规定角度间的偏差不大于（）A、2°B、3°C、4°D、5°
考题
用IIW试块测定的斜探头的折射角度，在探测任何声束的试件时，比值（）。A、不变B、变化
考题
单选题能够改变入射角的探头叫（）探头。A
纵波B
横波C
斜角D
可变角
考题
判断题与IIW试块相比CSK－IA试块的优点之一是可以测定斜探头分辨力。A
对B
错
考题
判断题与IIW试块相比，CSKⅠA试块的优点之一是可以测定斜探头的分辨力。A
对B
错
考题
问答题在不退轴承或轴承内圈情况下，探测轴颈卸荷槽裂纹时，如何用9°～11°小角度纵波探头、TZS-R标准试块进行标距测定？
考题
判断题用双晶直探头检测厚度不大于20mm的钢板时，应采用CB-Ⅱ标准试块对检测系统进行 校准。A
对B
错
考题
问答题用CSK-1A试块可测定仪器和探头的哪些组合性能指标？
考题
单选题H-1型半圆试块（）。A
可调整探测范围B
可测定直探头距离幅度特性C
可测定斜探头的入射角和折射角D
A与C都对
考题
填空题TB/T2340—2000标准中规定，测定钢轨超声波探伤仪70°探头通道的灵敏度余量应在（）试块上进行。
考题
单选题用IIW试块测定的斜探头的折射角度，在探测任何声束的试件时，比值（）。A
不变B
变化
考题
单选题用IIW标准块试块测定斜探头的折射角，在探测任何声波的试件时此值（）。A
不变B
变化
考题
单选题CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔，其目的是（）A
测定斜探头K值B
测定直探头盲区范围C
测定斜探头分辨力D
以上全是
考题
单选题CSK－ⅠA试块的的R50、R100圆弧面，可用来测定（）。A
直探头的的远场分辨力B
斜探头的K值C
斜探头的入射点D
斜探头的声束偏斜角
