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单选题
超声波探伤试缺陷的位置主要依据探伤图形中显示的()。
A

缺陷回波

B

固有信号

C

假象信号

D

杂乱信号


参考答案

参考解析
解析: 暂无解析
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考题 不能检查内部缺陷的探伤方法是()。A、射线探伤B、超声波探伤C、渗透探伤

考题 超声波显示缺陷的灵敏度比射线探伤高得多,故经超声波探伤的焊缝不必再进行X射线探伤。() 此题为判断题(对,错)。

考题 C型显示所能提供的超声波探伤记录,其主要参数是() A、缺陷深度和尺寸B、缺陷深度、取向和尺寸C、缺陷的位置和深度D、缺陷的位置和尺寸(平面视图)

考题 超声波探伤利用缺陷处反射回来的超声波并在仪器上显示来分析判断缺陷,而对工件没有损伤.所以称无损探伤。()

考题 设计要求全焊透的一、二级焊缝应采用( )进行内部缺陷的检验,( )不能对缺陷作出判断,应采用( ),其内部缺陷分级及探伤方法应符合现行国家标准。A.声波探伤,射线探伤,超声波探伤 B.超声波探伤,超声波探伤,射线探伤 C.射线探伤,射线探伤,超声波探伤 D.超声波探伤,射线探伤,超声波探伤

考题 设计要求全焊透的一、二级焊缝应采用( )进行内部缺陷的检验,(不能对缺陷作出判断的,应采用(其内部缺陷分级及探伤方法应符合现行国家标准。A.声波探伤射线探伤超声波探伤 B.超声波探伤超声波探伤射线探伤 C.射线探伤射线探伤超声波探伤 D.超声波探伤射线探伤超声波探伤

考题 超声波探伤是利用超声振动以波动形式在工件内部传播,当工件内存在缺陷时,超声波则被反射回来,凭借仪器荧光屏显示判断缺陷的图形(大小)和位置。

考题 下列无损探伤中,能够探测零件表面缺陷的有()。 Ⅰ.渗透探伤; Ⅱ.磁粉探伤; Ⅲ.涡流探伤; Ⅳ.超声波探伤; Ⅴ.射线探伤; Ⅵ.声发射探伤。A、Ⅰ+Ⅱ+Ⅲ+ⅤB、Ⅰ+Ⅱ+ⅢC、Ⅱ+Ⅴ+ⅥD、Ⅰ+Ⅱ+Ⅴ+Ⅵ

考题 超声波探伤试缺陷的位置主要依据探伤图形中显示的()。A、缺陷回波B、固有信号C、假象信号D、杂乱信号

考题 超声波探伤适应范围广泛,既能探测缺陷的位置和大小,又能探知缺陷性质。

考题 用于检测焊缝内部缺陷的探伤方法是()。A、射线探伤B、磁粉探伤C、渗透探伤D、超声波探伤

考题 超声波显示缺陷的灵敏度比射线探伤高得多,故经超声波探伤的焊缝不必再进行X射线探伤。

考题 着色探伤和磁粉探伤主要检查金属()缺陷,射线探伤和超声波探伤检查金属()缺陷。

考题 A型显示超声波探伤中,缺陷的定量评定方法有那些?

考题 A型超声波探伤仪,荧光屏上的垂直显示表示()。A、回波大小B、缺陷位置C、材料厚度D、传播时间

考题 超声波探伤中通过缺陷脉冲在荧光屏上的位置可以判别缺陷的大小。

考题 超声波探伤仪的水平线性与确定缺陷的位置有关。

考题 超声波探伤,根据仪器示波屏上显示的缺陷回波进行探伤的方法称为()。

考题 大厚度的平板形试件用直探头按缺陷回波法探伤时,如无缺陷,则探伤图形中只有发射脉冲和底波,如发现缺陷,则在底波之前显示()

考题 超声波探伤时,可以通过缺陷脉冲在荧光屏上的位置确定缺陷在工件中的位置,但是无法确定缺陷的大小。

考题 超声波探伤仪B型显示是显示试件中缺陷的()图形。A、二维B、三维C、横截面D、纵剖面

考题 ()是利用某些液体的渗透性来发现和显示缺陷的。A、超声波探伤B、磁粉探伤C、渗透探伤D、X射线探伤

考题 问答题A型显示超声波探伤中,缺陷的定量评定方法有那些?

考题 填空题超声波探伤,根据仪器示波屏上显示的缺陷回波进行探伤的方法,称为()。

考题 单选题超声波探伤仪B型显示是显示试件中缺陷的()图形。A 二维B 三维C 横截面D 纵剖面

考题 填空题大厚度的平板形试件用直探头按缺陷回波法探伤时,如无缺陷,则探伤图形中只有发射脉冲和底波,如发现缺陷,则在底波之前显示()

考题 单选题下列无损探伤中,能够探测零件表面缺陷的有()。 ①渗透探伤 ②磁粉探伤 ③涡流探伤 ④超声波探伤 ⑤射线探伤 ⑥声发射探伤A ①②③⑤B ①②③C ②⑤⑥D ④⑤⑥