考题
利用WGT-3试块上∮3×80横通孔可测定0°探头( )。A、分辨力B、穿透力C、声轴偏斜角D、盲区
考题
距离－幅度对比试块中,可改变的是()
A、孔的直径B、孔底的角度C、孔至探测面距离D、孔的长度与孔轴线和试块轴线的不平行度
考题
利用CSK-IB试块R50、R100两曲面回波按水平1：1调整扫描速度时，如探头K值为1，则R50、R100的回波前沿应分别对准水平刻度的（）和（）
考题
CSK-1A试块φ40、φ44、φ50、台阶孔，主要用来测试斜探头的（）。A、入射点B、折射角C、分辨率D、K值
考题
斜探头的K值常用CSK-ⅠA试块上的φ50和φ1.5横孔来测定。
考题
CSK-IB试块上，Φ50和Φ44mm两孔的台阶可用来测定（）的（）
考题
CSK-ⅠA试块上φ50 、φ44、φ40 三孔的台阶，可用来测定斜探头的分辨力。
考题
CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔，其目的是（）A、测定斜探头K值B、测定直探头盲区范围C、测定斜探头分辨力D、以上全是
考题
利用IIW试块上的φ50孔两侧面的距离，只能测定直探头盲区的大致范围。
考题
CSKⅠA试块上R100和R50两个阶梯圆弧面可用来调节横波扫描速度和探测范围。
考题
CSK-IA试块将IIW试块的φ50孔改为φ40、φ44和φ50台阶孔，其目的是（）A、测定斜探头K值B、测定直探头盲区范围C、测定斜探头分辨率D、以上全部
考题
70度探头折射角测定应（）。A、在CSK-1A试块A面探测Ф50圆弧B、在CSK-1A试块B面探测Ф50圆弧C、在CSK-1A试块探测Ф1.5横孔D、在半圆试块上测定
考题
70°探头折射角测定应（）。A、在CSK-1A试块A面探测φ50圆弧B、在CSK-1A试块B面探测φ50圆弧C、在CSK-1A试块探测φ1.5横孔D、在半圆试块上测定
考题
试块的用途有哪些？CSK－IA试块可测定仪器和探头的哪些性能？
考题
0°探头分辨率的测定应使用（）。A、CSK-1A试块85、91台阶底面B、CSK-1A试块φ40、44圆弧面C、WGT-1试块D、WGT-2试块
考题
WGT—1试块模拟螺孔上的3mm裂纹，从B面用二次波探伤时，可模拟（）和（）
考题
CSK-1A试块中85、91、100mm的台阶主要用来测试直探头的分辨率。
考题
填空题利用CSK-IB试块R50、R100两曲面回波按水平1：1调整扫描速度时，如探头K值为1，则R50、R100的回波前沿应分别对准水平刻度的（）和（）
考题
判断题CSK-ⅠA试块上φ50 、φ44、φ40 三孔的台阶，可用来测定斜探头的分辨力。A
对B
错
考题
判断题利用IIW试块上Φ50mm孔与两侧面的距离，仅能测定直探头盲区的大致范围。A
对B
错
考题
判断题斜探头的K值常用CSK-ⅠA试块上的φ50和φ1.5横孔来测定。A
对B
错
考题
问答题试块的用途有哪些？CSK－IA试块可测定仪器和探头的哪些性能？
考题
单选题70°探头折射角测定应（）。A
在CSK-1A试块A面探测φ50圆弧B
在CSK-1A试块B面探测φ50圆弧C
在CSK-1A试块探测φ1.5横孔D
在半圆试块上测定
考题
判断题CSKⅠA试块上R100和R50两个阶梯圆弧面可用来调节横波扫描速度和探测范围。A
对B
错
考题
判断题利用IIW试块上的φ50孔两侧面的距离，只能测定直探头盲区的大致范围。A
对B
错
考题
单选题CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔，其目的是（）A
测定斜探头K值B
测定直探头盲区范围C
测定斜探头分辨力D
以上全是
考题
单选题CSK-1A试块φ40、φ44、φ50、台阶孔，主要用来测试斜探头的（）。A
入射点B
折射角C
分辨率D
K值
