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单选题
关于影响X线减弱的因素,叙述错误的是()。
A

电子数多的物质更容易衰减射线

B

物质密度越高,衰减越少

C

原子序数越高的物质,吸收X射线越多

D

射线能量越高,衰减越少

E

入射光子能量越大,X射线穿透力越强


参考答案

参考解析
解析: X线通过物质时,决定衰减程度的因素主要有四个:射线能量、原子序数、组织密度和克电子数。X线衰减与组织的密度成正比。
更多 “单选题关于影响X线减弱的因素,叙述错误的是()。A 电子数多的物质更容易衰减射线B 物质密度越高,衰减越少C 原子序数越高的物质,吸收X射线越多D 射线能量越高,衰减越少E 入射光子能量越大,X射线穿透力越强” 相关考题
考题 关于物质对X线衰减的叙述,错误的是A.X线穿过物质时被衰减B.康普顿效应不产生衰减SXB 关于物质对X线衰减的叙述,错误的是A.X线穿过物质时被衰减B.康普顿效应不产生衰减C.吸收衰减为光电效应所致D.诊断领域X线衰减与电子对效应无关E.X线能量影响衰减

考题 关于阳性对比剂的叙述,错误的是A.与周围组织相比X线减弱系数大B.与阴性对比剂相比X线减弱系数大C.阳性对比剂易被X线透过D.碘剂和钡剂均为阳性对比剂E.非离子型对比剂毒性较小

考题 关于光学对比度叙述错误的是A、指X线照片上相邻组织影像的密度差B、依存于X线对比度C、双面药膜的对比度是单面药膜的2倍D、主要受胶片γ值等因素影响E、与被照体因素无关

考题 关于阳性对比剂的叙述,错误的是A、与周围组织相比X线减弱系数大B、与阴性对比剂相比X线减弱系数大C、阳性对比剂容易被X线透过D、碘剂和钡剂均为阳性对比剂E、非离子型对比剂毒性较小

考题 关于模糊度的叙述,错误的是A.是两密度值的移行幅B.是以长度(mm)度量C.是影响锐利度的因素D.直接影响着影像质量E.X线摄影中可以避免

考题 关于影响X线减弱的因素,叙述错误的是A.入射光子能量越大,X射线穿透力越强B.射线能量越高,衰减越少C.原子序数越高的物质,吸收X射线越多D.物质密度越高,衰减越小E.电子数多的物质更容易衰减射线

考题 在影响X线减弱的因素中错误的是 A、X线能量增加,光电作用的百分数下降B、原子序数大的物质μ值大C、质密度大的μ值小D、组织密度决定组织阻止射线的能力E、每克物质的电子数是X线减弱的主要因素

考题 关于X线减弱特点的叙述,错误的是A.强度与距离平方成反比B.X线通过物质后,质和量都发生改变C.X线通过物质,低能光子被吸收少D.X线通过物质后射线平均能量提高E.X线的能量影响衰减

考题 关于X线照片颗粒度的叙述,错误的是A.物理测定值为颗粒度B.X线量了斑点影响照片颗粒性C.X线照片上颗粒聚集的区域,称噪声D.增感屏斑点是造成照片斑点的主要因素E.量子斑点是X线量子的统计涨落在照片上的记录

考题 在影响X线减弱的因素中,错误的是A.X线能量增加,光电作用的百分数下降B.原子序数大的物质μ值大C.物质密度大的μ值小D.组织密度决定组织阻止射线的能力E.每克物质的电子数是X线减弱的主要因素

考题 关于X线照片颗粒度的叙述,错误的是A.物理测定值为颗粒度B.X线量子斑点影响照片颗粒性C.X线照片上颗粒聚集的区域,称噪声D.增感屏斑点是造成照片斑点的主要因素E.量子斑点是X线量子的统计涨落在照片上记录

考题 下列关于X线照片对比度的影响因素,错误的是A.胶片的反差系数B.X线质C.X线量D.被照体本身因素E.被照体与球管距离

考题 关于X线的叙述,错误的是A.X线管电压增高,X线波长变短B.高压波形不影响X线强度C.X线质是由管电压决定D.X线诊断范围X线量用mAs表示E.X线质也可用HVL表示

考题 关于光学对比度叙述错误的是A.指X线照片上相邻组织影像的密度差 B.依存于X线对比度 C.双面药膜的对比度是单面药膜的2倍 D.主要受胶片γ值等因素影响 E.与被照体因素无关

考题 关于X线减弱特点的叙述,错误的是()A、强度与距离平方成反比B、X线通过物质后,质和量都发生改变C、X线通过物质,低能光子被吸收少D、X线通过物质后射线平均能量提高E、X线的能量影响衰减

考题 关于X线的叙述,错误的是()A、X线管电压增高,X线波长变短B、高压波形不影响X线强度C、X线质是由管电压决定D、X线诊断范围X线量用mAs表示E、X线质也可用HVL表示

考题 与影响X线减弱的因素无关的是()A、X线能量B、原子序数C、密度D、每克电子数E、X线管灯丝温度

考题 关于X线强度的叙述,错误的是()A、X线管电压增高,X线波长变短B、高压波形不影响X线强度C、X线质是由管电压决定D、X线量用管电流量mAs表示E、X线质也可用HVL表示

考题 X线强度减弱有哪两种方式?简述影响减弱的因素。

考题 关于X线强度的叙述,哪组是错误的()A、X线强度是指管电压的高低B、KVP代表X线的质,mAs代表X线的量C、影响X线强度的因素有靶物质、管电压、管电流、高压波形、滤过方式等

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