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在磁性材料中出现的风裂缺陷是在（）过程中造成的。
参考答案
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考题
Myers提出的软件缺陷的群集现象指的是______。A) 在软件测试过程中，缺陷不会少量出现，而会成群出现B) 在测试一个功能部件的过程中，通常一次会发现很多缺陷C) 在测试的各个功能部件中，一般不是没有发现缺陷，就是发现许多缺陷D) 一个功能部件已发现的缺陷越多，找到它的更多未发现的缺陷的可能性就越大A．B．C．D．
考题
填空题产品中的层裂缺陷是在（）过程中造成的。
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