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关于可靠性增长摸底试验剖面的正确说法有()。

  • A、试验剖面中的应力都要采用实测数据
  • B、试验剖面主要包括环境条件、工作条件和使用维护条件
  • C、应模拟产品实际的使用条件制定试验剖面
  • D、一般按GJB899《可靠性鉴定和验收试验》确定试验剖面

参考答案

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考题 可靠性试验一般分为工程试验和统计试验,下述属于工程试验的是( )。A.环境应力筛选试验B.可靠性鉴定试验C.产品性能试验D.可靠性验收试验E.可靠性增长试验

考题 可靠性试验可分为工程试验和( )。A.统计试验B.可靠性鉴定试验C.可靠性验收试验D.可靠性增长试验

考题 可靠性鉴定试验的目的是( )。A.为了验证开发的产品的可靠性是否与规定的可靠性要求一致B.为环境应力筛选试验作准备C.为进行可靠性增长试验服务D.对可靠性验收试验进行鉴定

考题 听力原文:可靠性验收试验是对已交付产品在规定条件下所做的试验,以验证产品可靠性不随生产条件的变化而降低。可靠性验收试验是一种统计试验,常采用的试验方案有( )。A.调整型抽样方案B.定时截尾试验方案C.序贯试验方案D.定数截尾试验方案E.计数抽样试验方案

考题 关于不同可靠性试验类型的说法,正确的有( )。 A.环境应力筛选试验可以剔除早期故障 B.可靠性增长试验可以提高产品可靠性 C.加速寿命试验是在超过正常应力水平下进行的寿命试验 D.可靠性鉴定试验是用具有代表性的产品在规定条件下所做的验证试验 E.可靠性验收试验用于发现设计缺陷

考题 下列关于可靠性试验的说法,正确的有( )。 A.可靠性试验是对产品的可靠性进行调查、分析和评价的一种手段,目的是使产品可靠性增长 B.环境应力筛选试验不但可以提高产品的固有可靠性,还可以提高产品的可靠性水平 C.可靠性增长试验本身并不能提高产品的可靠性,只有采取了有效的纠正措施产品的可靠性才能真正提高 D.可靠性测定试验的目的是通过试验测定产品的可靠性水平 E.可靠性验收试验的目的是对产品合格与否做出判定

考题 下列关于可靠性增长试验的说法正确的是( )。 A.可靠性增长试验是一个在规定的环境应力下,为暴露产品薄弱环节而进行的试验 B.可靠性增长试验是通过发现故障、分析和纠正故障以及对纠正措施的有效性进行验证以提高产品可靠性水平的过程 C.可靠性增长试验一般称为试验-改进-分析 D.顾名思义,可靠性增长试验本身就能提高产品的可靠性

考题 可靠性试验一般可分为工程试验和统计试验。工程试验包括( )、可靠性增长试验。 A.环境应力筛选试验 B.可靠性鉴定试验 C.可靠性测定试验 D.可靠性验收试验

考题 可用于剔除不良元器件,减少早期故障的可靠性试验是( ) A.可靠性增长试验 B.环境应力筛选试验 C.可靠性测定试验 D.可靠性鉴定试验

考题 可靠性试验一般可分为工程试验和统计试验,统计试验包括( )。 A.环境应力试验 B.可靠性增长试验 C.可靠性鉴定试验 D.可靠性验收试验 E.可靠性测定试验

考题 关于可靠性强化试验中随机振动试验剖面的错误说法是()。A、振动稳定后驻留时间一般为100分钟。B、电动台振动步进应力试验的初始值应为1Grms到2Grms开始试验。C、全轴台振动步进应力试验的初始值应为3Grms到5Grms开始试验。D、电动台振动步进应力步长一般为2Grms到3Grms,一般不超过5Grms。

考题 关于可靠性试验适用时机的正确说法有()。A、环境应力筛选适用于研发阶段、生产阶段B、可靠性研制试验适用于研发阶段C、可靠性鉴定试验适用于批量生产阶段D、可靠性验收试验适用于设计确认阶段

考题 关于正常应力寿命试验的错误说法是()。A、在正常环境条件下施加负荷,模拟工作状态的试验B、正常应力寿命试验是指贮存寿命试验C、目的是验证产品使用寿命或首翻期指标D、试验条件包括产品的环境条件、工作条件和维护条件

考题 可靠性研制试验中高于实际使用应力条件的试验有()。A、可靠性增长摸底试验B、可靠性摸底试验C、可靠性强化试验D、高加速寿命试验

考题 关于可靠性增长试验条件的错误说法是()。A、试验前不必制定可靠性增长试验大纲,不用试验前准备工作评审。B、剖面一般应与该产品的可靠性鉴定试验剖面一致。C、同一批产品通过性能试验与环境试验。D、受试产品应经过环境应力筛选。

考题 关于可靠性鉴定试验前应具备的条件的正确说法有()。A、技术状态应为设计定型状态B、受试产品已经通过环境应力筛选C、可靠性预计结果等于合同或任务书中要求的最低可接受值D、与受试产品同批的产品已经通过环境鉴定试验

考题 关于可靠性强化试验中高/低温试验剖面的错误说法是()。A、每步保持时间:包括产品完全热/冷透的时间和产品检测所需时间B、一般在高/低温工作极限后,步长调整为15℃或更长。C、步长通常为10℃,但是某些时候也可以增加到20℃或减小到5℃。D、起始点温度一般在室温或某一接近室温的条件下开始。

考题 可靠性增长试验的相关问题有()。A、可靠性增长试验的适用范围B、可靠性增长试验对受试产品的要求C、可靠性增长试验的选择D、可靠性增长试验与可靠性增长试验与可靠性鉴定试验的关系E、可靠性增长试验的随机性

考题 半导体产品的烤机试验,将产品暴露在高温下,来强制缺陷发生,这种可靠性试验属于()A、可靠性测定试B、可靠性鉴定试验C、可靠性验收实验D、环境应力筛选试验

考题 可靠性预计相似产品法考虑的相似因素一般包括()的相似性。A、产品结构、性能B、设计C、材料和制造工艺D、使用剖面(保障、使用和环境条件)

考题 关于可靠性强化试验中快速温变循环试验剖面的错误说法是()。A、通常快速温变循环的上、下限可采用低温工作极限加5℃为下限、高温工作极限减5℃为上限。B、温度变化率一般在15℃/min到60℃/min之间。C、为了节约试验费用,试验的循环次数一般不超过6次。D、在通常情况下,受试产品在上下限温度保持时间为120分钟。

考题 单选题可靠性鉴定试验的目的是(  )。A 为了验证开发的产品可靠性是否与规定的可靠性要求一致B 为环境应力筛选试验作准备C 为进行可靠性增长试验服务D 对可靠性验收试验进行鉴定

考题 多选题可靠性试验一般分为工程试验和统计试验,下述属于工程试验的是(  )。A环境应力筛选试验B可靠性鉴定试验C产品性能试验D可靠性验收试验E可靠性增长试验

考题 多选题可靠性预计相似产品法考虑的相似因素一般包括()的相似性。A产品结构、性能B设计C材料和制造工艺D使用剖面(保障、使用和环境条件)

考题 单选题半导体产品的烤机试验,将产品暴露在高温下,来强制缺陷发生,这种可靠性试验属于()A 可靠性测定试验B 可靠性鉴定试验C 可靠性验收实验D 环境应力筛选试验

考题 单选题可靠性试验可分为工程试验和(  )。A 统计试验B 可靠性鉴定试验C 可靠性验收试验D 可靠性增长试验

考题 多选题可开展的可靠性试验包括(  )。A产品功能试验B环境应力筛选试验C可靠性增长试验D可靠性鉴定试验