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关于可靠性试验适用时机的正确说法有()。

  • A、环境应力筛选适用于研发阶段、生产阶段
  • B、可靠性研制试验适用于研发阶段
  • C、可靠性鉴定试验适用于批量生产阶段
  • D、可靠性验收试验适用于设计确认阶段

参考答案

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考题 可靠性试验一般分为工程试验和统计试验,下述属于工程试验的是( )。A.环境应力筛选试验B.可靠性鉴定试验C.产品性能试验D.可靠性验收试验E.可靠性增长试验

考题 下列关于环境应力筛选试验正确的说法是( )。A.环境应力不必准确模拟真实的环境条件,但不应超过产晶设计能耐受的极限,其大小应根据产品总体要求确定B.环境应力筛选试验能提高产品的固有可靠性C.环境应力筛选试验不能提高产品的固有可靠性,但通过改进设计和工艺等可以提高产品的可靠性水平D.环境应力筛选试验是通过在产品上施加一定的环境应力,以剔除由不良元器件、零部件或工艺缺陷引起的产品早期故障的一种工序或方法E.在批生产阶段早期,环境应力筛选在元器件、组件、部件等产品层次上可以抽样进行

考题 可靠性鉴定试验的目的是( )。A.为了验证开发的产品的可靠性是否与规定的可靠性要求一致B.为环境应力筛选试验作准备C.为进行可靠性增长试验服务D.对可靠性验收试验进行鉴定

考题 关于不同可靠性试验类型的说法,正确的有( )。 A.环境应力筛选试验可以剔除早期故障 B.可靠性增长试验可以提高产品可靠性 C.加速寿命试验是在超过正常应力水平下进行的寿命试验 D.可靠性鉴定试验是用具有代表性的产品在规定条件下所做的验证试验 E.可靠性验收试验用于发现设计缺陷

考题 某企业决定根据市场竞争的需要开发一种新的通信设备。为了保证产品的质量和可靠性,在产品设计开发过程中,该企业认真贯彻GB/T 19001—2008中7.3的要求,开展了一系列的可靠性工作。 在该产品的设计和开发确认中,应开展的与可靠性有关的试验有( )。 A.环境应力筛选试验 B.可靠性强化试验 C.可靠性鉴定试验 D.可靠性验收试验

考题 可靠性试验一般可分为工程试验和统计试验。工程试验包括( )、可靠性增长试验。 A.环境应力筛选试验 B.可靠性鉴定试验 C.可靠性测定试验 D.可靠性验收试验

考题 可用于剔除不良元器件,减少早期故障的可靠性试验是( ) A.可靠性增长试验 B.环境应力筛选试验 C.可靠性测定试验 D.可靠性鉴定试验

考题 可靠性鉴定试验的目的是( )。 A.验证所研发产品可靠性是否满足规定的可靠性要求 B.为可靠性增长试验服务 C.为环境应力筛选作准备 D.为加速寿命试验提供依据

考题 可靠性试验一般可分为工程试验和统计试验,统计试验包括( )。 A.环境应力试验 B.可靠性增长试验 C.可靠性鉴定试验 D.可靠性验收试验 E.可靠性测定试验

考题 下列工作中,属于产品可靠性设计阶段工作内容的有( )。 A.可靠性预计 B.可靠性增长试验 C.可靠性评估 D.可靠性分配 E.可靠性建模

考题 下列关于环境应力筛选试验正确的说法是()。A、环境应力不必准确模拟真实的环境条件,但不应超过产品设计能耐受的极限,其大小应根据产品总体要求确定。B、环境应力筛选试验能提高产品的固有可靠性C、环境应力筛选试验不能提高产品的固有可靠性,但通过改进设计和工艺等可以提高产品的可靠性水平。D、环境应力筛选试验是通过在产品上施加一定的环境应力,以剔除由不良元器件、零部件或工艺缺陷引起的产品早期故障的一种工序或方法。E、在批生产阶段早期,环境应力筛选在元器件、组件、部件等产品层次上可以抽样进行。

考题 可靠性研制试验中高于实际使用应力条件的试验有()。A、可靠性增长摸底试验B、可靠性摸底试验C、可靠性强化试验D、高加速寿命试验

考题 关于可靠性增长试验条件的错误说法是()。A、试验前不必制定可靠性增长试验大纲,不用试验前准备工作评审。B、剖面一般应与该产品的可靠性鉴定试验剖面一致。C、同一批产品通过性能试验与环境试验。D、受试产品应经过环境应力筛选。

考题 关于可靠性鉴定试验的错误说法是()。A、是验证产品的设计是否达到了规定的可靠性要求所做的试验。B、是产品可靠性的确认试验。C、属于验证试验,不是统计试验。D、是研发产品进入量产前的一种验证试验。

考题 FMEA对于可靠性的影响在下列哪个发展阶段最大?()A、设计阶段B、样品阶段C、试验阶段D、操作(运行)

考题 关于环境应力筛选与可靠性统计试验关系的正确说法有()。A、环境应力筛选是可靠性统计试验的预处理工艺B、任何提交用于可靠性统计试验的样本必须经过环境应力筛选C、先进行可靠性统计试验,后进行环境应力筛选D、不进行环境应力筛选,直接进行可靠性统计试验

考题 半导体产品的烤机试验,将产品暴露在高温下,来强制缺陷发生,这种可靠性试验属于()A、可靠性测定试B、可靠性鉴定试验C、可靠性验收实验D、环境应力筛选试验

考题 可靠性预计相似产品法()。A、仅适用于研制初期的产品B、仅适用于非电类产品C、具有普适性,无条件适用于各种产品D、适用于各阶段、各类产品

考题 可靠性的等分配法适用于()阶段。A、指标论证B、方案论证C、工程研制D、研制各

考题 单选题在一定的环境应力下,为暴露产品的薄弱环节,同时证明改进可靠性的措施是否有效而进行的再现实验属于()A 可靠性测定试验B 可靠性鉴定试验C 环境应力筛选试验D 可靠性增长试验

考题 多选题可靠性试验一般可分为工程试验和统计试验,统计试验包括(  )。A环境应力试验B可靠性增长试验C可靠性鉴定试验D可靠性验收试验E可靠性测定试验

考题 单选题可靠性鉴定试验的目的是(  )。A 为了验证开发的产品可靠性是否与规定的可靠性要求一致B 为环境应力筛选试验作准备C 为进行可靠性增长试验服务D 对可靠性验收试验进行鉴定

考题 多选题可靠性试验一般分为工程试验和统计试验,下述属于工程试验的是(  )。A环境应力筛选试验B可靠性鉴定试验C产品性能试验D可靠性验收试验E可靠性增长试验

考题 单选题可靠性的等分配法适用于()阶段。A 指标论证B 方案论证C 工程研制D 研制各

考题 单选题可靠性预计相似产品法()。A 仅适用于研制初期的产品B 仅适用于非电类产品C 具有普适性,无条件适用于各种产品D 适用于各阶段、各类产品

考题 单选题半导体产品的烤机试验,将产品暴露在高温下,来强制缺陷发生,这种可靠性试验属于()A 可靠性测定试验B 可靠性鉴定试验C 可靠性验收实验D 环境应力筛选试验

考题 多选题可开展的可靠性试验包括(  )。A产品功能试验B环境应力筛选试验C可靠性增长试验D可靠性鉴定试验