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测量滞后一般由测量元件特性引起，克服测量滞后的办法是在调节规律中增加积分环节。

参考答案

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考题 由于微分调节规律有超前作用,因此调节器加入微分作用主要是用来()。 A.克服调节对象的惯性滞后(时间常数T)、容量滞后τC和纯滞后τoB.克服调节对象的纯滞后τoC.克服调节对象的惯性滞后(时间常数T)、容量滞后τcD克服调节对象的惯性滞后(时间常数T)
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考题 滞后产生的原因包括()。 A、测量元件安装位置不当B、测量变送单位本身存在滞后C、测量信号的传递滞后D、以上都不对
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考题 双容对象特性与单容对象特性相比增加了()。A、纯滞后B、传送滞后C、测量滞后D、容量滞后
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考题 由于微分调节规律有超前作用，因此调节器加入微分作用主要是用来（）A、克服调节对象的惯性滞后（时间常数）、容量滞后和纯滞后B、克服调节对象的纯滞后C、克服调节对象的惯性滞后（时间常数）、容量滞后D、克服调节对象的容量滞后、纯滞后
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考题 化工测量过程中测量参数（）测量易引起纯滞后。A、温度、成分B、压力、成分C、流量、温度D、液位、流量
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考题 由于微分调节规律有超前作用，因此调节器加入微分作用主要是用来（）A、克服调节对象的惯性滞后（时间常数T）、容量滞后τc和纯滞后τo；B、克服调节对象的纯滞后τo；C、克服调节对象的惯性滞后（时间常数T）、容量滞后τc；
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考题 （）存在纯滞后，但不会影响调节品质。A、调节通道B、测量元件C、变送器D、干扰通道
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考题 （）是根据偏差的变化趋势（变化速度）而动作的，它主要用来克服容易滞后的对象。A、积分调节作用B、比例调节作用C、微分调节规律D、比例积分调节规律
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考题 测量设备计量特性的：（）。A、测量范围B、偏移C、重复性D、稳定性E、滞后
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考题 串级调节系统主要用于改善（）较大的对象，具有超前控制作用。A、容量滞后B、测量滞后C、惯性滞后D、纯滞后
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考题 （）存在纯滞后，通常不影响控制质量。A、调节通道B、测量元件C、变送器D、干扰通道
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考题 测量信号滞后产生的原因包括（）。A、测量元件安装位置不当B、测量变送单元本身存在滞后C、测量信号的传递滞后D、以上都不对
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考题 对象特性放大系数Km是动特性，时间常数Tm和滞后时间τm是测量元件和变送器的静态特性。
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考题 克服测量滞后大致有哪几种方法？
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考题 由于测量点选择不当，测量元件安装不合适等原因，也会造成传递滞后。
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考题 化工测量过程中测量参数（）的测量易引起纯滞后。A、温度、成分B、压力、成分C、流量、温度D、液位、流量
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考题 微分作用不能克服对象的（）。A、惯性滞后B、容量滞后C、测量滞后D、纯滞后
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考题 为减小由于测量元件引起的纯滞后，可以选取惰性性小的测量元件，减小时间常数。选择快速的测量元件，保证测量元件的时间常数小于（）控制通道的时间常数，减小动态误差。A、1/4B、1/6C、1/8D、1/10
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考题 引起测量滞后最不可能的原因是由于（）引起的。A、测量点位置不合理B、信号传递C、检测元件D、对象负荷变化
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考题 由于微分调节规律有超前作用，因此调节器加入微分作用主要是用来：（）。A、克服调节对象的惯性滞后（时间常数）、容量滞后和纯滞后B、克服调节对象的纯滞后C、克服调节对象的惯性滞后（时间常数）、容量滞后
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考题 在过程控制中克服测量滞后方法有：（）、（）和正确的使用微分单元。
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考题 当（）存在纯滞后，通常不影响控制质量。A、调节通道B、测量元件C、变送器D、干扰通道
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考题 测量滞后一般由（）引起，克服测量滞后的办法是在调节规律中（）。
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考题 串级调节系统可以用于改善（）时间较大对象，有超前作用。A、容量滞后B、测量滞后C、惯性滞后D、纯滞后
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考题 单选题当（）存在纯滞后，通常不影响控制质量。A 调节通道B 测量元件C 变送器D 干扰通道
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考题 单选题由于微分调节规律有超前作用，因此调节器加入微分作用主要是用来（）A 克服调节对象的惯性滞后（时间常数）、容量滞后和纯滞后B 克服调节对象的纯滞后C 克服调节对象的惯性滞后（时间常数）、容量滞后D 克服调节对象的容量滞后、纯滞后
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考题 填空题在过程控制中克服测量滞后方法有：（）、（）和正确的使用微分单元。
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