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采用电容式检测器的红外线气体分析仪,如果检测室漏气将会引起仪表()。

  • A、示值零点升高
  • B、示值零点降低
  • C、灵敏度升高
  • D、灵敏度降低

参考答案

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考题 红外线气体分析仪的基本元件有:()A、光源B、气室C、检测器D、切光器

考题 红外线分析仪零点连续正漂的原因有()。A、检测器漏气B、测量气室被污染或腐蚀C、晶片上有尘埃D、气室漏气

考题 电容式微量水分析仪探头开路将引起分析仪指示()。A、仪表读数为“0”B、指示满刻度C、仪表读数不稳定D、仪表响应缓慢

考题 红外线气体分析仪参比气室漏气,仪表示值会有什么变化?

考题 红外线分析仪使用的气室有()。A、参比气室B、检测器气室C、滤波气室D、测量气室

考题 双光路红外分析仪通常采用薄膜检测器,其接受气室要充有()气体。A、待测气B、氮气C、参比气体D、少量惰性气体

考题 下列选项中,()会造成红外线气体分析仪灵敏度下降。A、测量气室漏气B、检测器电容短路C、检测器漏气D、测量气室被污染

考题 热导检测器式分析仪参比气室中封装的气体的热导率及性能应与()相近。A、背景组分B、被测组分C、混合气体D、惰性气体

考题 双光路红外分析仪通常采用()。A、薄膜电容检测器B、半导体检测器C、光电检测器D、微电流检测器

考题 红外线气体分析仪薄膜电容检测器漏气会造成仪表()。A、指示回零B、指示满度C、零点连续正漂D、灵敏度下降

考题 红外线分析仪常用的检测器有()、半导体和微流量检测器三种。A、电阻式B、薄膜电容C、电感式D、电解式

考题 工业用的红外线气体检测器主要有哪些?

考题 采用薄膜电容检测器的红外线分析仪切光频率的选择与()有关。A、检测器的灵敏度B、切光片的几何尺寸C、光源强度D、切光马达

考题 如果红外线气体分析仪的检测气室窗口被沾污,将会引起仪表()。A、示值零点升高B、示值零点降低C、灵敏度升高D、灵敏度降低

考题 红外线分析仪检测器内封装()气体。A、被测气体B、干扰组分C、中性气体D、参比气体

考题 红外线气体分析仪测量室的长度与()相关。

考题 当红外线分析仪采用滤波气室时,滤波气室内封装()气体。A、测量气体B、干扰组分C、中性气体D、氮气

考题 红外线气体分析仪在检测过程中环境温度的变化可能对()造成影响。A、红外辐射的强度B、测量气室连续流动的气样密度C、检测器的正常工作D、气样放空流速

考题 红外线气体分析仪产生回程的原因是()。A、检测器故障B、测量室污染C、测量光路比参比光路的光强D、参比光路比测量光路的光强

考题 红外线分析仪指示出现摆动干扰可能的原因是()。A、晶片上有尘埃B、检测器漏气C、切光片松动D、元件老化

考题 红外线气体分析仪薄膜电容检测器电容短路会造成仪表()。A、指示回零B、指示满度C、零点连续正漂D、灵敏度下降

考题 下列选项中,()会造成红外线气体分析仪指示回零。A、切光片松动B、检测器电容短路C、测量气室漏气D、光路透镜污染

考题 可能导致红外线分析仪灵敏度下降的原因有()。A、样品流量大B、检测器漏气C、光路透镜污染D、元件老化

考题 以下仪表()按套统计,同时每套中独立的仪表按台件统计。A、色谱分析仪表B、可燃气体检测器C、氧化锆分析仪表D、轴振动仪表

考题 红外气体分析仪电容式检测器的输出信号大小是与检测电容的()成正比。A、大小B、变化量C、耐压值D、容量

考题 如果隔垫漏气,将会发生的现象是()。A、保留时间飘逸B、响应值降低C、柱前压降低D、检测器信号噪音加大

考题 多选题如果隔垫漏气,将会发生的现象是()。A保留时间飘逸B响应值降低C柱前压降低D检测器信号噪音加大