考题
使用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时,应依次将四块厚度差为()螺距的平行平晶放入两测量面间,并调整平晶使其接触点在()时读数。
考题
钟面式百分表测量头的选用是:球形工件应选用平测量头,圆柱形或平面形的工件应选用()。
A、平测量头B、球面测量头C、尖测量头
考题
常用的平面度的测量方法（）。A、光隙法B、测微仪法C、平晶法D、水平仪法
考题
使用平面平晶、平行平晶测量前，必须擦净平晶的测量面和被测表面，否则会影响（）的产生，甚至会（）。
考题
在刨削斜面的方法中，（）常用于工件数量较小的情况.A、倾斜刀架法B、斜装工件水平走刀法
考题
用平面平晶检验工件表面平面度时，当入射角不变，而厚度各处有变化，干涉带发生于厚度（）的地方，这种现象称为（）。
考题
用平晶检定测量面的平面度时，其计算平面度的公式为F=λb/2a或F=n.λ/2，式中λ在任何条件下都为0.6。
考题
三坐标测量机测量工件上的两个面的平行度，一般要分别在平面上多触测一些点以确定（），最后经过计算机对数据进行处理，得到两个平面的平行度。A、平面的直线性B、平面的平面度C、平面上各测量直线上的不直度D、平面的斜度
考题
以下列举了几种测量直线度误差的方法。其中，（）最简便实用，适用于小平面或短圆柱面素线的直线度误差测量。A、光学平晶等厚干涉法B、测微法C、激光准值仪法D、光隙法
考题
测量高精度的小平面的平面度误差宜用（）。A、准直望远镜B、罐式水平量器C、平晶
考题
用百分表测量（）时，采用平测量头。A、平面工件B、圆柱形工件C、球形工件D、平面或圆柱形工件
考题
光学平晶等厚干涉法适用于测量精度较高的（）。A、大平面B、小平面C、圆柱面D、圆跳动
考题
刀口形直尺采用（）测量工件表面的直线度和平面度。A、光隙法B、对比法C、比较法D、涂色法
考题
用半晶干涉法测量小平面的平面度，这种测量方法符合（）。A、最小条件B、包容原则C、相关原则
考题
水平仪不但能检验平面的位置是否成水平，而且能测出工件上两平面的平行度。
考题
框式水平仪可以用比较测量法和绝对测量法来检验工件表面的水平度和垂直度。
考题
检定千分表工作面的平面度用二级平晶用技术光波干涉法检定。
考题
如何用平晶检定外径千分尺测量面的平面度和平行度？
考题
新制的及修理后的千分尺测量面平面度可用2级平晶以（）方法检定。A、技术光波干涉法B、比较法C、光隙法
考题
用平晶检定工作面的平面度，是一种光波干涉法测量，那么产生光波干涉的条件是什么？
考题
将平面平晶放在工件表面上，如果工件表面是标准平面，则产生的干涉条纹是（）；如果工件表面呈凸、凹，则将看到若干个（）条纹。
考题
填空题使用平面平晶、平行平晶测量前，必须擦净平晶的测量面和被测表面，否则会影响（）的产生，甚至会（）。
考题
多选题常用的平面度的测量方法（）。A光隙法B测微仪法C平晶法D水平仪法
考题
判断题用平晶检定测量面的平面度时，其计算平面度的公式为F=λb/2a或F=n.λ/2，式中λ在任何条件下都为0.6。A
对B
错
考题
问答题如何用平晶检定外径千分尺测量面的平面度和平行度？
考题
填空题将平面平晶放在工件表面上，如果工件表面是标准平面，则产生的干涉条纹是（）；如果工件表面呈凸、凹，则将看到若干个（）条纹。
