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调制分析法只能适用于探头和试件相对()的情况.

  • A、运动
  • B、静止
  • C、接触
  • D、远离

参考答案

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考题 账户分析法是一种相对独立的分析方法,只能适用于缺乏历史成本数据的情况。( ) 此题为判断题(对,错)。

考题 超声波探头发射脉冲波到被检试件内,根据反射波的情况来检测试件缺陷的方法,称为()。

考题 在数字相位调制的应用中只能采用相对调相。()

考题 检测速度快,探头与试件可不直接接触,无需耦合剂。主要缺点是只适用于导体,对形状复杂试件难作检查,只能检查薄试件或厚试件的表面、近表面缺陷,检测方法应为()。A.涡流检测 B.磁粉检测 C.液体渗透检测 D.超声波检测

考题 探头能控制超声波的传播方向。例如:平探头只能适用于纵波探伤,斜探头只能适用于横波探伤。

考题 在进行超声波检测时,检测面上探头与试件的相对运动称为扫查。

考题 适用于截面数据的相对分析法有()A、结构相对分析法B、平均发展速度C、比例相对分析法D、比较相对分析法E、计划完成程度分析法

考题 液浸法检测适用于表面粗糙的试件,探头不易磨损,耦合稳定,检测结果重复性好,便于实现自动化检测。

考题 ()是指施加于探头和试件表面之间,使超声能量传入试件的液态介质。A、 耦合剂B、 探头线C、 仪器D、 缺陷

考题 THDS-BS系统外探探头采用()。A、光子调制探头B、光子直流探头C、热敏调制探头D、热敏直流探头

考题 THDS-A探测系统中探头按测温元件不同划分为()A、热敏探头和光子探头B、调制探头和光子探头C、热敏探头和直流探头D、调制探头和直流探头

考题 红外探头按放大电路的类型划分为()和直流探头两种A、调制探头;B、热敏探头;C、光子探头;D、直流探头

考题 (哈科)THDS-B系统衡柳线使用的外探探头采用()。A、光子调制探头B、光子直流探头C、热敏调制探头D、热敏直流探头

考题 将两个探头分别放在被检工件相对的表面上,其中一个探头发射另一个探头接收,通过观察声波穿透试件后的声压变化情况进行探伤的方法,称为()。A、接触法B、表面波法C、穿透法D、莱姆波法

考题 直探头辐射透入试件的波()A、只能是纵波B、也可以是横波C、也可以是表面波或板波

考题 调制分析能适用于探头和试件相对()的监测。A、运动B、静止C、两者都可以D、都不可以

考题 将纵波垂直透入试件的探头,称为()A、直探头B、斜探头C、表面波探头

考题 单选题(哈科)THDS-B系统衡柳线使用的外探探头采用()。A 光子调制探头B 光子直流探头C 热敏调制探头D 热敏直流探头

考题 单选题调制分析能适用于探头和试件相对()的监测。A 运动B 静止C 两者都可以D 都不可以

考题 单选题调制分析法只能适用于探头和试件相对()的情况.A 运动B 静止C 接触D 远离

考题 多选题适用于截面数据的相对分析法有()A结构相对分析法B平均发展速度C比例相对分析法D比较相对分析法E计划完成程度分析法

考题 单选题THDS-BS系统外探探头采用()。A 光子调制探头B 光子直流探头C 热敏调制探头D 热敏直流探头

考题 单选题红外探头按放大电路的类型划分为()和直流探头两种A 调制探头;B 热敏探头;C 光子探头;D 直流探头

考题 单选题THDS-A探测系统中探头按测温元件不同划分为()A 热敏探头和光子探头B 调制探头和光子探头C 热敏探头和直流探头D 调制探头和直流探头

考题 单选题将两个探头分别放在被检工件相对的表面上,其中一个探头发射另一个探头接收,通过观察声波穿透试件后的声压变化情况进行探伤的方法,称为()。A 接触法B 表面波法C 穿透法D 莱姆波法

考题 单选题()是指施加于探头和试件表面之间,使超声能量传入试件的液态介质。A 耦合剂B 探头线C 仪器D 缺陷

考题 多选题直探头辐射透入试件的波()A只能是纵波B也可以是横波C也可以是表面波或板波