考题
用直探头检验钢锻件时,引起底波明显降低或消失的因素有()。
A、底面与探伤面不平行B、工件内部有倾斜的大缺陷C、工件内部有材质衰减大的部位D、以上全部
考题
超声波检验中，当探伤面比较粗糙时，宜选用()A.较低频探头
B.较粘的耦合剂
C.软保护膜探头
D.以上都对
考题
探头软保护膜和硬保护膜相比，突出优点是（）A、透声性能好B、材质衰减小C、有利消除耦合差异D、以上全部
考题
薄壁管超声探伤采用水浸的目的是（）A、减少摩擦B、耦合声能C、冷却探头D、上述三种目的都有
考题
对表面粗糙的工件进行超声波探伤时，应考虑采用（）A、等于大于5MHz的工作频率B、透声性好粘度大的耦合剂C、晶片尺寸小的探头D、以上全部
考题
超声检测中,选用晶片尺寸大的探头优点是（）。 A、 曲面检测时可减少耦合损失B、 可减少材质衰减损失C、 辐射声能大D、 声束能量
考题
超声波检验中，当探伤面比较粗糙时，宜选用（）A、较低频探头B、较粘的耦合剂C、软保护膜探头D、以上都对
考题
用直探头检验钢锻件时，引起底波明显降低或消失的因素有（）A、底面与探伤面不平行B、工件内部有倾斜的大缺陷C、工件内部有材质衰减大的部位D、以上都有可能
考题
超声波检验中，选用晶片尺寸大的探头的优点是（）。A、曲面探伤时减少耦合损失B、减少材质衰减损失C、辐射声能大且能量集中D、以上都是
考题
超声检验中，当探伤面比较粗糙时，宜选用探头（）。A、较低频探头B、较粘的耦合剂C、软保护膜探头D、以上都是
考题
超声波探伤，为获得稳定的耦合状态，在曲面探伤时探头上可加用（）。
考题
为减少凹面探伤时的耦合损耗，通常采用以下方法（）A、使用高声阻抗耦合剂B、使用软保护膜探头C、使用较低频率和减少探头耦合面尺寸D、以上都可以
考题
超声检验中，当探伤面比较粗糙时，宜选用（）A、较低频探头B、较粘的耦合剂C、软保护膜探头D、以上都对
考题
探头晶片尺寸（），半扩散角减少，波束指向性变好，超声波能量集中，对探伤有利。
考题
在超声波检测法中，用工件底面作为探伤灵敏度校正基准时，可以（）。A、不考虑探伤面的声能损失补偿B、不考虑材质衰减的补偿C、不使用校正试块D、以上都不行
考题
填空题探头晶片尺寸（），半扩散角减少，波束指向性变好，超声波能量集中，对探伤有利。
考题
单选题超声检验中，当探伤面比较粗糙时，宜选用（）A
较低频探头B
较粘的耦合剂C
软保护膜探头D
以上都对
考题
单选题对表面粗糙的工件进行超声波探伤时，应考虑采用（）A
等于大于5MHz的工作频率B
透声性好粘度大的耦合剂C
晶片尺寸小的探头D
以上全部
考题
多选题在超声波检测法中，用工件底面作为探伤灵敏度校正基准时，可以（）。A不考虑探伤面的声能损失补偿B不考虑材质衰减的补偿C不使用校正试块D以上都不行
考题
单选题在超声波检测法中，用工件底面作为探伤灵敏度校正基准时可以：（）A
不考虑探伤面的声能损失补偿B
不考虑材质衰减的补偿C
不使用校正试块D
以上都是
考题
单选题为减少凹面探伤时的耦合损耗，通常采用以下方法：（）A
使用高声阻抗耦合剂B
使用软保护膜探头C
使用较低频率和减少探头耦合面尺寸D
以上都可以
考题
单选题薄壁管超声探伤采用水浸的目的是（）A
减少摩擦B
耦合声能C
冷却探头D
上述三种目的都有
考题
单选题超声波检验中，当探伤面比较粗糙时，宜选用（）A
较低频探头B
较粘的耦合剂C
软保护膜探头D
以上都对
考题
单选题超声波检验中，选用晶片尺寸大的探头的优点是（）A
曲面探伤时减少耦合损失B
减少材质衰减损失C
辐射声能大且能量集中D
以上都对
考题
单选题用直探头检验钢锻件时，引起底波明显降低或消失的因素有（）A
底面与探伤面不平行B
工件内部有倾斜的大缺陷C
工件内部有材质衰减大的部位D
以上全部
考题
单选题超声检测中,选用晶片尺寸大的探头优点是（）。A
曲面检测时可减少耦合损失B
可减少材质衰减损失C
辐射声能大D
声束能量
考题
单选题超声检验中，选用镜片尺寸大的探头的优点是（）A
曲面探伤时可减少耦合损失B
可减少材质衰减损失C
辐射声能大且能量集中D
以上全部