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颗粒性是指均匀曝光的射线底片上影像黑度分布不均匀的视觉印象。


参考答案

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考题 底片冲洗中,定影液与冲洗用水的水温若相差超过15oF时,可能会发生()。 A、底片上乳剂层脱落B、底片上乳剂层不均匀膨胀C、底片产生大理石斑纹D、底片上黑度不均匀

考题 底片反差是指()。A、底片上相邻区域的曝光量差B、底片上相邻区域的黑度差C、胶片特性曲线的r值D、曝光曲线上的tgQ值

考题 曝光曲线在制作时往往把哪一些参数固定()A、X射线机、照相的焦距、底片黑度、所使用的胶片和增感屏、射线能量B、X射线机、照相的焦距、底片黑度、所使用的胶片和增感屏、曝光量C、X射线机、照相的焦距、底片黑度、所使用的胶片和增感屏、透照厚度D、X射线机、照相的焦距、底片黑度、所使用的胶片和增感屏、暗室处理的工艺条件

考题 射线底片上影像所代表的缺陷性质的识别通常可以从缺陷影像的几何形状、()和位置进行综合分析。A、长度B、厚度C、大小D、黑度分布

考题 影响射线照像影像清晰度的三个因素为()A、散射、工件几何形状及底片黑度B、底片黑度、曝光时间及管电流C、曝光时间、管电流及底片颗粒度D、散射、工件几何形状及底片颗粒度

考题 X射线照相结果底片黑度太低,判断为射线穿透力不够,应如何改进才能得到规定的黑度?()A、增加管电流B、增加管电压C、增加曝光时间D、降低射源至底片的距离

考题 实时射线检测法(RealTimeRT)即利用射线穿过试件而在荧光屏上成像,其气孔处的影像为()A、与底片成像相同,黑度较大B、与底片成像相同,黑度较小C、与底片成像不同,黑度较大D、与底片成像不同,黑度较小

考题 在X射线底片上由于被显影的晶粒分布不均而引起的密度不均匀痕迹叫做()A、条纹B、粒度C、点D、白垢

考题 夹渣在射线底片上呈现的影像是()A、宽度和黑度都很均匀的黑线条B、形状不规则、黑度也不均匀的较大面积的黑色阴影C、呈树枝状分布的花纹D、呈两端尖细中间较粗的黑色弯曲细线

考题 射线底片上产生一定黑度所用曝光量的倒数定义为感光度。

考题 射线照相底片的颗粒性是由什么因素造成的?()A、影像颗粒或颗粒团块的不均匀分布;B、底片单位面积上颗粒数的统计变化;C、颗粒团块的重重叠叠;D、以上都是。

考题 X射线照相灵敏度取决于()。A、底片上缺陷影响的不清晰度B、底片黑度C、曝光时间D、以上都对

考题 下列()情况要求选用大颗粒的X射线底片。A、最快的速度B、较长的曝光时间C、低的黑度D、最好的清晰度

考题 胶片特性曲线的横坐标表示()。A、底片黑度B、曝光量C、曝光量的对数D、底片黑度的对数

考题 底片黑度范围,在胶卷特性曲线的适当曝光区,透照底片()。A、黑度大B、黑度均匀C、对比度大D、灵敏度高

考题 射线底片上产生黑的月牙形痕迹的原因可能是曝光后使胶片弯曲。

考题 射线底片上影像所代表的缺陷性质的识别通常可以从()黑度分布和位置进行综合分析。A、缺陷影像的几何形状B、缺陷影像的厚度C、缺陷影像的大小D、缺陷影像的长度

考题 要求选用大颗粒的X射线底片情况的是()。A、最快的速度B、较长的曝光时间C、低的黑度D、最好的清晰度

考题 单选题X射线照相结果底片黑度太低,判断为射线穿透力不够,应如何改进才能得到规定的黑度?()A 增加管电流B 增加管电压C 增加曝光时间D 降低射源至底片的距离

考题 单选题实时射线检测法(RealTimeRT)即利用射线穿过试件而在荧光屏上成像,其气孔处的影像为()A 与底片成像相同,黑度较大B 与底片成像相同,黑度较小C 与底片成像不同,黑度较大D 与底片成像不同,黑度较小

考题 单选题底片黑度范围,在胶卷特性曲线的适当曝光区,透照底片()。A 黑度大B 黑度均匀C 对比度大D 灵敏度高

考题 单选题夹渣在射线底片上呈现的影像是()A 宽度和黑度都很均匀的黑线条B 形状不规则、黑度也不均匀的较大面积的黑色阴影C 呈树枝状分布的花纹D 呈两端尖细中间较粗的黑色弯曲细线

考题 判断题颗粒性是指均匀曝光的射线底片上影像黑度分布不均匀的视觉印象。A 对B 错

考题 单选题底片冲洗中,定影液与冲洗用水的水温若相差超过15ºF时,可能会发生()A 底片上乳剂层脱落B 底片上乳剂层不均匀膨胀C 底片产生大理石斑纹D 底片上黑度不均匀

考题 判断题射线底片上产生一定黑度所用曝光量的倒数定义为感光度。A 对B 错

考题 单选题影响射线照像影像清晰度的三个因素为()A 散射、工件几何形状及底片黑度B 底片黑度、曝光时间及管电流C 曝光时间、管电流及底片颗粒度D 散射、工件几何形状及底片颗粒度

考题 单选题射线照相底片的颗粒性是由什么因素造成的?()A 影像颗粒或颗粒团块的不均匀分布;B 底片单位面积上颗粒数的统计变化;C 颗粒团块的重重叠叠;D 以上都是。