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单选题
当纳伪概率是0.0793时,每一百次抽样中有多少次采纳伪的错误被接受()
A

0.07次

B

1次

C

7次

D

8次


参考答案

参考解析
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考题 关于假设检验中两类错误的说法正确的有( )。A.如果拒绝的是真的H0,就可能犯弃真(第一类)错误,一般犯弃真错误的概率记为αB.如果接受的是不真的H0,就可能会犯取伪(第二类)错误,一般犯取伪错误的概率记为βC.在样本容量n固定的条件下,要使α,β同时减小是不可能的D.在样本容量n固定的条件下,当α增大时,β将随之减小;当α减小时,β要增大E.增大样本容量可以使α,β同时减小

考题 在假设检验中,显著性水平α是()。A.原假设为真时被拒绝的概率B.原假设为真时被接受的概率C.原假设为伪时被拒绝的概率D.原假设为伪时被接受的概率

考题 当原假设为真时,拒绝原假设的概率为()。 A、显著性水平B、犯第Ⅱ类错误的概率C、取伪错误的概率D、以上都不对

考题 假设检验中,当备择假设H1为真时作出接受原假设H0 的判断,则犯了存伪错误。()

考题 根据抽样检验的基本原理,一个好的抽样方案应当是( )。A.当批质量好时,能以高概率接收 B.当批质量差于某个规定界限时,能以高概率拒绝 C.当批产品质量变坏时,接收概率迅速减小 D.两种错误(拒真、受伪)的可能性风险都达到最小 E.

考题 工程质量抽样检验中,弃真错误的概率为α,存伪错误的概率为β,两类风险控制的一般范围是( )。A:α=1%~3%,β=3%~8% B:α=1%~5%,β=5%~10% C:α=2%~4%,β=4%~8% D:α=2%~5%,β=5%~10%

考题 当备择假设为真时,作出接受原假设的判断,这类错误称为存伪错误。()A对B错

考题 当纳伪概率是0.0793时,每一百次抽样中有多少次采纳伪的错误被接受()A、0.07次B、1次C、7次D、8次

考题 在假设检验中,犯第Ⅰ型错误的概率称为()A、置信水平B、显著水平C、取伪概率D、取真概率

考题 假设检验中显著性水平是()A、推断时犯取伪错误的概率B、推断时取伪弃真的概率C、正确推断的概率D、是推断的可信度

考题 抽样统计量落入拒绝域时可能发生的错误是()A、抽样错误B、计算错误C、纳伪错误D、弃真错误

考题 假设检验的错误类型有()A、统计错误B、弃真错误C、分析错误D、纳伪错误E、系统错误

考题 当纳伪概率是0.0289时,每一百次抽样中有多次纳伪的错误被接受()A、3次B、0.03次C、2次D、0.02次

考题 关于假设检验的两类错误,下列说法正确的有()A、第一类错误被称为弃真错误B、第一类错误被称为纳伪错误C、第二类错误被称为纳伪错误D、第二类错误是原假设不正确,但却被接受的错误E、第一类错误是原假设正确,但却被拒绝的错误

考题 当备择假设为真时,作出接受原假设的判断,这类错误称为存伪错误。()

考题 在假设检验中,显著性水平a是()A、原假设为真时被拒绝的概率B、原假设为真时被接受的概率C、原假设为伪时被拒绝的概率D、原假设为伪时被接受的概率

考题 假设检验中的Ⅰ类错误也叫()。A、弃真错误B、纳伪错误C、假设错误D、判断错误

考题 是否α+β=1?(这里的α是犯弃真错误的概率,β是犯取伪错误的概率)请说明为什么是或为什么不是?

考题 两类错误关系是指()A、弃真错误概率大,采伪错误概率也增大B、弃真错误概率大,采伪错误概率减小C、弃真错误概率小,采伪错误概率也减小D、两类错误没有关系

考题 判断题在抽样检验中,将合格批判为拒收所犯的错误,称为存伪错误。A 对B 错

考题 单选题有关数字乳腺摄影中伪影的描述,错误的是()A 伪影是没有反映被成像体真正形态结构的任何影像B 固定滤线栅会引起混叠伪影C IP扫描过程出现暂停产生的影像不能算作伪影D IP伪影是最普遍的硬件伪影E 扫描仪光学系统故障会产生伪影

考题 判断题当备择假设为真时,作出接受原假设的判断,这类错误称为存伪错误。()A 对B 错

考题 单选题两类错误关系是指()A 弃真错误概率大,采伪错误概率也增大B 弃真错误概率大,采伪错误概率减小C 弃真错误概率小,采伪错误概率也减小D 两类错误没有关系

考题 单选题抽样统计量落入拒绝域时可能发生的错误是()A 抽样错误B 计算错误C 纳伪错误D 弃真错误

考题 单选题假设检验中显著性水平是()A 推断时犯取伪错误的概率B 推断时取伪弃真的概率C 正确推断的概率D 是推断的可信度

考题 单选题当纳伪概率是0.0289时,每一百次抽样中有多次纳伪的错误被接受()A 3次B 0.03次C 2次D 0.02次

考题 单选题关于伪影的描述,错误的是(  )。A 伪影是由于设备或受检者所造成的,属于被扫描物体的影像B 可分为受检者造成的伪影和设备引起的伪影C 设备系统性能所造成的伪影是不可避免的D 环状和带状伪影是探测器通道故障E 由受检者造成的伪影多为运动伪影