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题目内容 (请给出正确答案)
多选题
关于装备伪影的说法,正确的是()
A

卷褶伪影属于装备伪影

B

与主磁场强度不均匀有关

C

与受检者不自主的生理运动有关

D

与装机时机架内遗留的金属物有关

E

SE序列T加权或质子密度加权像易出现


参考答案

参考解析
解析: 本题考查磁共振成像伪影的相关知识。根据伪影产生的原因,可分为装备伪影、运动伪影和金属异物伪影。装备伪影是指机器设备系统本身产生的伪影。它包括机器主磁场强度、磁场均匀度、软件质量、电子元件、电子线路以及其附属设备产生的伪影。装备伪影包括化学位移伪影、卷褶伪影、截断伪影、部分容积效应、层间干扰及磁敏感伪影。
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考题 上腹部横轴位SE序列质子密度加权像见数个环形高信号覆盖全图像,可能为:()。A.呼吸运动伪影B.血管搏动伪影C.化学位移伪影D.卷褶伪影E.金属异物伪影

考题 有关化学位移伪影的叙述,下列哪一项是错误的( )A.化学位移伪影是一种装备伪影B.化学位移伪影与呼吸运动有关C.化学位移伪影与主磁场强度有关D.化学位移伪影与观察视野有关E.化学位移伪影可以通过改变相位编码的方向加以识别

考题 上腹部横断面SE序列质子加权像,近中线位置有前后走向的一连串圆形高信号影重叠,最可能为:()。A、呼吸运动伪影。B、血管搏动伪影。C、化学位移伪影。D、卷褶伪影。E、金属异物伪影。

考题 磁共振的装备伪影包括()A、化学位移伪影B、卷褶伪影C、生理运动伪影D、金属伪影E、磁敏感性伪影

考题 关于装备伪影的说法,正确的是()A、卷褶伪影属于装备伪影B、与主磁场强度不均匀有关C、与受检者不自主的生理运动有关D、与装机时机架内遗留的金属物有关E、SE序列T加权或质子密度加权像易出现

考题 与交叉对称信号伪影的无关的是()A、属装备伪影B、SE序列T2加权或质子密度加权像易出现C、B0不均匀D、T2对B0不均匀敏感E、受RF频率影响

考题 与交叉对称信号伪影无关的是()A、属装备伪影B、SE序列T2加权或质子密度加权像易出现C、B0不均匀D、T2对B0不均匀敏感E、受RF频率影响

考题 与交叉对称信号伪影无关的因素为()A、属装备伪影B、SE序列T2加权或质子密度加权像易出现C、Bo不均匀D、T2对Bo不均匀敏感E、受RF频率影响

考题 有关化学位移伪影的叙述,下列正确的是()A、化学位移伪影是一种装备伪影B、化学位移伪影与呼吸运动有关C、化学位移伪影与主磁场强度有关D、化学位移伪影以观察视野有关E、化学位移伪影可以通过改变相位编码的方向加以识别

考题 上腹部横轴位SE序列质子密度加权像见数个环形高信号覆盖全图像,可能为()A、呼吸运动伪影B、血管搏动伪影C、化学位移伪影D、卷褶伪影E、金属异物伪影

考题 有关化学位移伪影的叙述,下列哪一项是错误()。A、化学位移伪影是一种装备伪影B、化学位移伪影与呼吸运动有关C、化学位移伪影与主磁场强度有关D、化学位移伪影与观察视野有关E、化学位移伪影可以通过改变相位编码的方向加以识别

考题 有关化学位移伪影的叙述,下列哪项是错误的()A、化学位移伪影是一种装备伪影B、化学位移伪影与呼吸运动无关C、化学位移伪影与主磁场强度有关D、化学位移伪影与观察视野有关E、化学位移伪影可以通过改变相位编码来消除

考题 多选题有关化学位移伪影的叙述,下列正确的是()A化学位移伪影是一种装备伪影B化学位移伪影与呼吸运动有关C化学位移伪影与主磁场强度有关D化学位移伪影以观察视野有关E化学位移伪影可以通过改变相位编码的方向加以识别

考题 单选题上腹部横轴位SE序列质子密度加权像见数个环形高信号覆盖全图像,可能为()A 呼吸运动伪影B 血管搏动伪影C 化学位移伪影D 卷褶伪影E 金属异物伪影

考题 单选题与交叉对称信号伪影的无关的是()A 属装备伪影B SE序列T2加权或质子密度加权像易出现C B0不均匀D T2对B0不均匀敏感E 受RF频率影响

考题 多选题磁共振的装备伪影包括(  )。A化学位移伪影B卷褶伪影C生理运动伪影D金属伪影E磁敏感性伪影

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考题 单选题上腹部横断面SE序列质子加权像,近中线位置有前后走向的一连串圆形高信号影重叠,最可能为()A 呼吸运动伪影。B 血管搏动伪影。C 化学位移伪影。D 卷褶伪影。E 金属异物伪影。

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