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不定项题
(六)加工一种轴承，其规格为10±0.08mm。要求Cpk ≥1。收集25组数据绘制分析用控制图，未显示异常。计算得到： μ=10.04mm，σ=0.02mm根据以上材料，回答{TSE}题：{TS}下列论述正确的是( )。
A
过程处于统计控制状态和技术控制状态
B
过程处于统计控制状态，未处于技术控制状态
C
过程未处于统计控制状态，处于技术控制状态
D
过程未处于统计控制状态和技术控制状态
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更多 “不定项题(六)加工一种轴承，其规格为10±0.08mm。要求Cpk ≥1。收集25组数据绘制分析用控制图，未显示异常。计算得到： μ=10.04mm，σ=0.02mm根据以上材料，回答{TSE}题：{TS}下列论述正确的是( )。A过程处于统计控制状态和技术控制状态B过程处于统计控制状态，未处于技术控制状态C过程未处于统计控制状态，处于技术控制状态D过程未处于统计控制状态和技术控制状态” 相关考题
考题
分析用控制图首先要分析过程是否处于稳态，( )的控制线延长能作为控制用的控制图。A．状态Ⅰ：统计控制状态与技术控制状态同时达到稳态B．状态Ⅱ：统计控制状态未达到稳态，技术控制状态达到稳态C．状态Ⅲ：统计控制状态达到稳态，技术控制状态未达到稳态D．状态Ⅳ：统计控制状态与技术控制状态均未达到稳态
考题
根据上述计算结果，判断过程（ ）。A.处于统计控制状态和技术控制状态B.处于统计控制状态，未处于技术控制状态C.未处于统计控制状态，处于技术控制状态D.未处于统计控制状态和技术控制状态
考题
关于技术控制状态和统计控制状态的说法，正确的有（ ）。A.没有达到技术控制状态则没有达到统计控制状态B.分析用控制图上的点子在控制限内随机排列，则过程达到统计控制状态C.处于统计控制状态的过程一定处于技术控制状态D.没达到统计控制状态的过程不能计算过程能力指数c，E.处于统计控制状态的过程可能并未达到技术控制状态
考题
当过程处于统计控制状态时,X控制图的点子落在控制界限外的概率为( )。A.6.8%B.3.4%S
当过程处于统计控制状态时，X控制图的点子落在控制界限外的概率为（ ）。A.6.8％B.3.4％C.0.27％D.0.135％
考题
根据计算得到的控制限和描点值绘制分析用控制图，判断过程处于统计控制状态，下一步需进行过程能力分析，查表得到，n=5时c4=0.94，计算得到的过程能力指数Cpk为( )A．0B．1.57C．1.67D．3.14
考题
某质量改进小组在分析用控制图阶段，利用控制图对过程进行分析，经过 努力，已使该过程的输出质量特性X服从正态分布N (210.5，1. 12),为进一步改 进质量，他们从明确分析用控制图的主要作用开始，一步一步深入进行质量改进工 作，具体如下：
下列说法正确的是（ ）。
A.此时过程未处于统计控制状态
B.此时过程处于技术控制状态
C.此时过程能力不足
D.此时过程应运用控制用控制图进行控制
考题
关于统计控制状态与失控状态的说法，正确的有（ ）。
A.当过程中既有偶然因素也有异常因素的影响时，过程处于统计控制状态
B.当过程中只有偶然因素而没有异常因素的影响时，过程处于统计控制状态
C.在统计控制状态下，过程的波动达到最小，不可能再改进
D.过程处于失控状态时，无法估计过程能力
E.当控制图上所有点子都落在控制限内时，可以判定过程处于统计控制状态
考题
工作人员收集了手表厂螺栓扭矩去年全年的监测数据，计算得样本标准差为5。工艺要求螺栓扭矩的规范上限是180，规范下限是140，则关于该过程的说法，正确的是（ ）。
A.过程能力指数为1. 33 B.过程性能指数为1. 33
C.过程处于统计控制状态 D.过程未处于统计控制状态
考题
分析用控制图首先要分析过程是否处于稳态，（ ）的控制线延长能作为控制用的控制图。
A.状态I，统计控制状态与技术控制状态同时达到稳态
B.状态II，统计控制状态未达到稳态，技术控制状态达到稳态
C.状态III，统计控制状态达到稳态，技术控制状态未达到稳态
D.状态IV，统计控制状态与技术控制状态均未达到稳态
考题
加工一种轴承，其规格为（10±0.08) mm。要求CPK≥1。收集25组数据绘制分析用控制图，未显示异常。计算得到：μ=10. 04mm σ= 0. 02 mm。
下列推断中，正确的是（ ）。
A.过程处于统计控制状态和技术控制状态
B.过程处于统计控制状态，未处于技术控制状态
C.过程未处于统计控制状态，处于技术控制状态
D.过程未处于统计控制状态和技术控制状态
考题
关于过程状态的说法，正确的有（ ）。
A.在统计控制状态下，可以预测过程波动的大小
B.当过程处于失控状态时，过程的分布将发生改变
C.过程处于统计控制状态时，CP≥1
D.异常因素会导致过程失控
E.当控制图上所有点子都落在控制限内时，可以判断过程一定处于统计控制状态
考题
从SPC的角度看，一个合格的过程应当具备的条件是（）。
A.过程处于统计控制状态
B.具有足够的生产能力
C.过程处于统计控制状态并具有足够的过程能力
D.过程处于统计控制状态但过程能力不足
考题
关于统计控制状态的说法，正确的有（ ）。
A.判定过程处于统计控制状态时，控制图上的点子均在控制限内
B.判定过程处于统计控制状态时，控制图上的点子在中心线上下随机分布
C.统计控制状态是指过程只有偶然因素的状态
D.统计控制状态是指过程能力充足的状态
E.统计控制状态是指过程既有偶然因素又有异常因素的状态
考题
使用控制用均值一极差控制图监控过程时，若根据某子组数据计算的样本点落在控制限外，则（ ）。
A.需要重新计算控制限
B.该子组中一定有不合格品
C.可判定过程处于统计失控状态
D.不能拒绝过程处于统计控制状态这个假设
考题
在过程控制中，最理想的状态是（ ）。
A.统计控制状态达到，技术控制状态未达到
B.统计控制状态未达到，技术控制状态达到
C.统计控制状态与技术控制状态均达到
D.统计控制状态与技术控制状态均未达到
考题
关于处于统计控制状态的过程的说法，正确的有（ ）。
A.处于统计控制状态的过程将连续生产出满足规定要求的产品
B.处于统计控制状态的过程的过程能力指数Cp大于或等于1
C.控制图上没有点子落在控制限外且界内点随机排列时，可判定过程处于统计控制状态
D.处于统计控制状态的过程中只有偶因而无异因产生的波动
E.处于统计控制状态的过程的性能是可预测的
考题
关于技术控制状态和统计控制状态的说法，正确的有（ ）。
A.没有达到技术控制状态则没有达到统计控制状态
B.分析用控制图上的点子在控制限内随机排列，则过程达到统计控制状态
C.处于统计控制状态的过程一定处于技术控制状态
D.没达到统计控制状态的过程不能计算过程能力指数Cp
E.处于统计控制状态的过程可能并未达到技术控制状态
考题
加工一种轴承，其规格为10±0.08mm，要求过程能力指数Cpk>l。收集25组 数据绘制分析用控制图，未显示异常。计算得到：
μ = 10. 04 mm, σ=0. 02 mm。
根据上述计算结果，判断过程（）。
A.处于统计控制状态和技术控制状态
B.处于统计控制状态，未处于技术控制状态
C.未处于统计控制状态，处于技术控制状态
D.未处于统计控制状态和技术控制状态
考题
加工一种轴承，其规格为10±0.08mm。要求Cpk≥1。收集25组数据绘制分析用控制图，未显示异常。计算得到： μ=10.04mm，σ=0.02mm 根据以上材料，回答：下列论述正确的是（）。A、过程处于统计控制状态和技术控制状态B、过程处于统计控制状态，未处于技术控制状态C、过程未处于统计控制状态，处于技术控制状态D、过程未处于统计控制状态和技术控制状态
考题
以下关于过程统计控制状态，说法不正确的是（）A、过程中没有异常因素影响，则说过程处于过程统计控制状态B、过程统计控制状态的好处是可预测下一时间的过程波动C、过程处于过程统计控制状态，则说明过程的产品处于规格限内D、过程统计控制状态是进行过程能力分析的前提条件
考题
单选题从SPC的角度看，一个合格的过程应当具备的条件是（ ）。[2006年真题]A
过程处于统计控制状态B
具有足够的生产能力C
过程处于统计控制状态并具有足够的过程能力D
过程处于统计控制状态但过程能力不足
考题
单选题以下关于过程统计控制状态，说法不正确的是（）A
过程中没有异常因素影响，则说过程处于过程统计控制状态B
过程统计控制状态的好处是可预测下一时间的过程波动C
过程处于过程统计控制状态，则说明过程的产品处于规格限内D
过程统计控制状态是进行过程能力分析的前提条件
考题
多选题控制图上点出界，则表明（ ）。[2007年真题]A过程处于技术控制状态B过程可能存在异常因素C小概率事件发生D过程稳定性较好E过程未处于统计控制状态
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