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题目内容 (请给出正确答案)
单选题
为消除部分容积效应,可采取的措施是(  )。
A

通过增加矩阵来避免

B

通过选用薄层扫描或改变选层位置得以消除

C

进行匀场

D

心电门控

E

加大观察野


参考答案

参考解析
解析:
当选择的扫描层面较厚或病变较小且又骑跨于扫描切层之间时,周围高信号组织掩盖小的病变或出现假影,这种现象为部分容积效应。部分容积效应可以通过选用薄层扫描或改变选层位置得以消除。
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考题 为消除静电危害,可采取的有效措施是()。 A、保护接零B、绝缘C、接地放电D、消磁

考题 入口部照明的临界部是为消除司机在接近隧道时产生的()所采取的照明措施。A、黑洞效应B、白洞效应C、红洞效应D、眩光效应

考题 哪一项可消除断层厚度伪像(部分容积效应):()。A、高频超声探头。B、超宽频或变频探头C、相控阵探头D、环阵式探头E、经上均不可能

考题 对于容积效应的理解,错误的是A.部分容积效应指CT值不能如实反映各种组织本身的CT值B.高密度组织中较低密度的病灶CT值测量偏高C.低密度组织中较小的高密度病灶CT值偏低D.部分容积效应是可以避免的E.通过薄层扫描可减少部分容积效应

考题 为消除部分容积效应的影响可采用A.减小层厚 B.增大FOV C.变化频率编码方向 D.变化相位编码方向 E.全矩阵采集

考题 有关部分容积效应的叙述中,错误的是()A、会遗漏小病变B、可产生假像C、改变选层位置可消除此效应D、增加扫描层厚可消除此效应E、对可疑部位边缘作垂直方向扫描可消除此效应

考题 下列哪一项可消除断层厚度伪像(部分容积效应)()A、高频超声探头B、超宽频或变频探头C、相控阵式探头D、环阵式探头E、以上均不可能

考题 为消除静电危害,可采取的有效措施是()。A、保护接零B、绝缘C、接地放电

考题 对于容积效应的理解,错误的是()A、部分容积效应指CT值不能如实反映各种组织本身的CT值B、高密度组织中较低密度的病灶CT值测量偏高C、低密度组织中较小的高密度病灶CT值偏低D、部分容积效应是可以避免的E、通过薄层扫描可减少部分容积效应

考题 关于部分容积效应伪像的表述,不正确的是()。A、又称切片厚度伪像B、形成的原因主要是超声断层较厚C、将探头适当加压或侧动可识别部分容积效应伪像D、肝小囊肿内出现的点状回声属部分容积效应伪像E、超声束越窄引起部分容积效应伪像的可能性越小

考题 为消除部分容积效应的影响可采用()A、变化频率编码方向B、变化相位编码方向C、增大FOVD、减小层厚E、全矩阵采集

考题 什么是部分容积效应?

考题 为消除静电危害,可采取的有效措施是()。

考题 某丙类建筑的地基液化等级为中等,其抗液化措施是()。A、全部消除液化沉陷B、部分消除液化沉陷,且对基础和上部结构进行处理C、对基础和上部结构进行处理,或更高要求的措施D、可不采取措施,或采取其他经济的措施

考题 为消除静电危害,可采取的最有效措施是()。A、保护接零B、绝缘C、接地放电D、增湿

考题 单选题入口部照明的临界部是为消除司机在接近隧道时产生的()所采取的照明措施。A 黑洞效应B 白洞效应C 红洞效应D 眩光效应

考题 多选题关于部分容积效应的描述,正确的是()A是由于线束硬化造成的B螺旋扫描不存在部分容积效应C采用薄层扫描可以减小部分容积效应D因部分容积效应形成的伪影易出现在后颅凹,呈条纹状E部分容积效应会影响组织的CT值测量的准确性

考题 单选题关于部分容积效应伪像的表述,不正确的是( )A 又称切片厚度伪像B 形成的原因主要是超声断层较厚C 将探头适当加压或侧动可识别部分容积效应伪像D 肝小囊肿内出现的点状回声属部分容积效应伪像E 超声束越窄引起部分容积效应伪像的可能性越小

考题 单选题关于部分容积效应的描述,正确的是(  )。A 病变较小,且骑跨于扫描切层之间B 病变较大,充满整个扫描切层C FOV一定时,缩小扫描矩阵可以消除部分容积效应D 扫描矩阵一定时,增大FOV可消除部分容积效应E 增加扫描层厚可以消除部分容积效应

考题 单选题有关部分容积效应的叙述中,错误的是()A 会遗漏小病变B 可产生假像C 改变选层位置可消除此效应D 增加扫描层厚可消除此效应E 对可疑部位边缘作垂直方向扫描可消除此效应

考题 单选题对于容积效应的理解,错误的是()A 部分容积效应指CT值不能如实反映各种组织本身的CT值B 高密度组织中较低密度的病灶CT值测量偏高C 低密度组织中较小的高密度病灶CT值偏低D 部分容积效应是可以避免的E 通过薄层扫描可减少部分容积效应