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多选题
EDI产品水水质差的可能原因()。
A

进水压力低

B

电流太低

C

电源极性接反

D

进水水质超出允许值


参考答案

参考解析
解析: 暂无解析
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考题 EDI的产品水与进水压差增加的主要原因是()。A.产品水出口有异物堵塞B.运行流量增加C.离子交换膜结垢D.运行温度升高

考题 EDI浓水出口与入口压差增加的主要原因是()。A.产品水出口有异物堵塞B.运行流量增加C.离子交换膜结垢或污堵D.运行温度升高

考题 EDI运行有一个最佳温度范围,温度高于规定值,离子泄漏量增加,产品水水质将降低。A对B错

考题 EDI组件给水电导率低时,模块的电流较小,这样会影响产品水水质。这时可以选择减少浓水循环量来提高电导率。A对B错

考题 为了保证EDI组件内部泄漏不影响纯水水质,产品水出口压力应当比()压力高。A浓水出口B极水出口C给水D浓水和极水出口

考题 EDI产品水流量低的可能原因()。A进水压力低B电流太低C进水水质超出允许值D模块堵塞

考题 EDI的浓水出口对入口的压差增加的主要原因是()。A产品水出口有异物堵塞B运行流量增加C离子交换膜结垢或污堵D运行温度升高

考题 为了保证EDI组件内部泄漏不影响纯水水质,产品水出口压力应当比浓水和极水出口压力高。A对B错

考题 EDI组件实际运行电流低于规定值,可能引起离子极化现象使产品水的电阻率降低。

考题 为了防止EDI组件内部泄漏不影响纯水水质,浓水出口应当保持一定的背压。

考题 EDI运行有一个最佳温度范围,温度高于规定值,离子泄漏量增加,产品水水质将降低。

考题 EDI的产品水对给水的压差增加的主要原因是()。A、产品水出口有异物堵塞B、运行流量增加C、离子交换膜结垢D、运行温度升高

考题 进水电导率低时,EDI模块的电流较小,会影响产品水水质。这时应启动加盐装置,来提高浓水电导率。

考题 为了保证EDI组件内部泄漏不影响纯水水质,产品水出口压力应当比浓水和极水出口压力高。

考题 EDI组件给水电导率低时,模块的电流较小,这样会影响产品水水质。这时可以选择()来提高电导率。A、增加浓水排放量B、减少浓水循环量C、加盐D、增加极水排放量

考题 EDI组件给水电导率低时,模块的电流较小,这样会影响产品水水质。这时可以选择减少浓水循环量来提高电导率。

考题 EDI产品水水质差的可能原因()。A、进水压力低B、电流太低C、电源极性接反D、进水水质超出允许值

考题 单选题EDI的浓水出口对入口的压差增加的主要原因是()。A 产品水出口有异物堵塞B 运行流量增加C 离子交换膜结垢或污堵D 运行温度升高

考题 问答题高速混床运行时间短,产水水质差的原因?

考题 判断题EDI组件给水电导率低时,模块的电流较小,这样会影响产品水水质。这时可以选择减少浓水循环量来提高电导率。A 对B 错

考题 单选题EDI的产品水对给水的压差增加的主要原因是()。A 产品水出口有异物堵塞B 运行流量增加C 离子交换膜结垢D 运行温度升高

考题 单选题EDI组件给水电导率低时,模块的电流较小,这样会影响产品水水质。这时可以选择()来提高电导率。A 增加浓水排放量B 减少浓水循环量C 加盐D 增加极水排放量

考题 判断题为了保证EDI组件内部泄漏不影响纯水水质,产品水出口压力应当比浓水和极水出口压力高。A 对B 错

考题 多选题EDI产品水流量低的可能原因()。A进水压力低B电流太低C进水水质超出允许值D模块堵塞

考题 单选题为了保证EDI组件内部泄漏不影响纯水水质,产品水出口压力应当比()压力高。A 浓水出口B 极水出口C 给水D 浓水和极水出口

考题 判断题为了保证EDI组件内部泄漏不影响纯水水质,产品水出口压力应当比浓水和极水出口压力高0.03~0.07 MPa。A 对B 错

考题 判断题EDI运行有一个最佳温度范围,温度高于规定值,离子泄漏量增加,产品水水质将降低。A 对B 错