网友您好, 请在下方输入框内输入要搜索的题目:

题目内容 (请给出正确答案)
单选题
不使用显像剂的渗透检测方法所用渗透剂为()
A

荧光渗透剂

B

着色渗透剂

C

以上均不可

D

以上均可


参考答案

参考解析
解析: 暂无解析
更多 “单选题不使用显像剂的渗透检测方法所用渗透剂为()A 荧光渗透剂B 着色渗透剂C 以上均不可D 以上均可” 相关考题
考题 不使用显像剂的渗透检测方法所用渗透剂为()A、荧光渗透剂B、着色渗透剂C、以上均不可D、以上均可

考题 在着色渗透检测中,所用显像剂的用途是()?A、清除表面上的渗透剂。B、使表面上的渗透剂渗入到裂纹中。C、使渗透剂在黑暗中发光。D、将渗透剂吸到表面。

考题 使用过滤性微粒渗透剂检测石墨时,不用显像剂使用自现。

考题 可水洗型渗透检测,施加干粉显像剂应在()。A、施加渗透剂后B、去除渗透剂后C、去除渗透剂适当干燥后D、去除渗透剂彻底干燥后

考题 什么情况下白色背景上形成的红色不连续性图像最容易看到?()A、使用干粉显像剂时B、使用着色渗透剂时C、使用后乳化型荧光渗透剂时D、使用湿式显像剂时

考题 使用荧光渗透剂时,对工件的检测应()。A、在明亮的房间进行B、在施加渗透剂后立即进行C、在施加显像剂后立即进行D、在暗室里黑光灯下进行

考题 渗透检测中所用的渗透剂都是溶液,显像剂都是悬浮液。

考题 在着色渗透检测中,使用显像剂的目的是什么?()A、将渗透剂吸到表面。B、使表面上的渗透剂渗入到裂纹中。C、使渗透剂在黑暗中发光。D、清除表面上的渗透剂。

考题 渗透检测中引起灵敏度降低的是()。A、用蒸汽除油去除表面处理B、用浸入法施加渗透剂C、对已经过渗透检测的工件重新检测D、使用后乳化型渗透剂而不使用溶剂清洗渗透剂

考题 水溶性显像剂不能用于()A、水洗型渗透剂B、后乳化型渗透剂C、溶剂型渗透剂D、着色渗透剂

考题 ()最好使用干式显像剂。A、高光洁度工件表面使用着色渗透剂时B、当要求得到尽可能光滑和均匀的显像剂涂层C、在铸钢表面上使用荧光渗透剂时D、在钢丝刷刷过的焊缝上使用荧光渗透剂时

考题 渗透检测剂系统包括渗透剂、乳化剂、去除剂和显像剂所构成的组合系统。

考题 干燥的时机与表面多余渗透剂的清除方法和所使用的显像剂密切相关。

考题 荧光渗透检测中,黑光灯的作用是()。A、使渗透剂发出荧光B、有利于显像剂的显像C、提高渗透剂粘度D、降低渗透剂表面张力

考题 粗糙表面对渗透检测的影响,主要是()。A、渗透剂渗入缺陷有困难B、除去多余渗透剂有困难C、重新进行缺陷观察有困难D、施加显像剂有困难

考题 对渗透检测剂的描述与JB/T4730.5-2005相符合的说法是:()A、荧光渗透剂的荧光效率不得低于75%B、被校验的渗透剂与基准渗透剂的颜色浓度差超过20%时,应作为不合格处理C、渗透检测剂包括渗透剂、清洗剂和显像剂D、渗透剂必须标明生产日期和有效期,要有产品合格证和使用说明书

考题 渗透检测操作的基本步骤有:预清洗、施加渗透剂、()、干燥、施加显像剂、观察及评定。

考题 后乳化型渗透检测法增加一道乳化工序的目的?()A、使乳化剂扩散并溶解到渗透剂中,便于用水将表面渗透剂和乳化剂混合物冲洗掉。B、使乳化剂扩散并溶解到渗透剂中,使渗透剂更容易渗透到表面的缺陷中去。C、使乳化剂扩散并溶解到渗透剂中,使裂缝中的渗透剂更容易被显像剂吸上来。D、在使用渗透剂之前先使用乳化剂,以便用这种检测法检测表面粗糙的工件。

考题 单选题渗透检测中引起灵敏度降低的是()。A 用蒸汽除油去除表面处理B 用浸入法施加渗透剂C 对已经过渗透检测的工件重新检测D 使用后乳化型渗透剂而不使用溶剂清洗渗透剂

考题 单选题什么情况下白色背景上形成的红色不连续性图像最容易看到?()A 使用干粉显像剂时B 使用着色渗透剂时C 使用后乳化型荧光渗透剂时D 使用湿式显像剂时

考题 单选题水溶性显像剂不能用于()A 水洗型渗透剂B 后乳化型渗透剂C 溶剂型渗透剂D 着色渗透剂

考题 单选题荧光渗透检测中,黑光灯的作用是()。A 使渗透剂发出荧光B 有利于显像剂的显像C 提高渗透剂粘度D 降低渗透剂表面张力

考题 填空题渗透检测操作的基本步骤有:预清洗、施加渗透剂、()、干燥、施加显像剂、观察及评定。

考题 单选题使用荧光渗透剂时,对工件的检测应()。A 在明亮的房间进行B 在施加渗透剂后立即进行C 在施加显像剂后立即进行D 在暗室里黑光灯下进行

考题 单选题可水洗型渗透检测,施加干粉显像剂应在()。A 施加渗透剂后B 去除渗透剂后C 去除渗透剂适当干燥后D 去除渗透剂彻底干燥后

考题 判断题渗透检测中所用的渗透剂都是溶液,显像剂都是悬浮液。A 对B 错

考题 单选题粗糙表面对渗透检测的影响,主要是()。A 渗透剂渗入缺陷有困难B 除去多余渗透剂有困难C 重新进行缺陷观察有困难D 施加显像剂有困难