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【填空题】定性分析 从开始,可在X射线衍射仪上绘画衍射图,或者用X射线晶体分析仪摄照德拜相,从衍射花样上要测量出各衍射线对应的 及 。


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考题 ()是鉴定物相的主要依据。 A.X射线B.衍射线相对强度C.衍射峰高D.晶面间距表征衍射线位置

考题 有关X射线衍射的描述,错误的是()。 A、X射线是一种电磁波B、X射线衍射分析中得到的信息事实上是晶体中原子的电子密度分布图C、X-射线晶体结晶学技术可用于蛋白质结构的分析D、X-射线衍射图需要通过计算机进行计算,最终才能得出所测物质的结构特征

考题 波长为λ的X射线,投射到晶体常数为d的晶体上,取k=0,2,3,…,出现X射线衍射加强的衍射角θ(衍射的X射线与晶面的夹角)满足的公式为: A. 2dsinθ = kλ B. dsinθ= kλ C. 2dcosθ= kλ D. dcosθ = kλ

考题 波长为λ的X射线,投射到晶格常数为d的晶体上,取k=1,2,3...,出现X射线衍射加强的衍射角θ(衍射的射线与晶面的夹角)满足的公式为: (A)2dsinθ=kλ (B)dsinθ=kλ(C)2dcosθ=kλ (D)2dcosθ=kλ

考题 波长为λ的X射线,投射到晶格常数为d的晶体上,取k=1,2, 3,…,出现X 射线衍射加强的衍射角θ (衍射的X射线与晶面的夹角)满足的公式为( )。 A. 2dsinθ= kλ B. dsinθ = kλC. 2dcosθ = kλ D. dcosθ = kλ

考题 X射线的概念及其特点;为什么X射线经过晶体会发生衍射?

考题 X射线荧光仪晶体的衍射和可见光的光学反射意义相同。

考题 X射线晶体衍射分析为什么采用X射线和晶体?

考题 比较仪器结构比较多晶X射线衍射仪与四圆单晶X射线衍射仪的异同。

考题 波长为λ的X射线,投射到晶格常数为d的晶体上,取k=1,2,3,…,出现X射线衍射加强的衍射角θ(衍射的X射线与晶面的夹角)满足的公式为()。A、2dsinθ=kλB、dsinθ=kλC、2dcosθ=kλD、dcosθ=kλ

考题 实验人员都要注意防止被实验设备产生的X射线照射,下列能够产生X射线的仪器是()。A、X射线衍射仪B、721分光光度计C、X射线荧光分析仪D、气相色谱

考题 多晶X射线衍射仪法分为()和()两种方法。X光的衍射图的横坐标表示()为(),纵坐标表示()。

考题 从非晶体和晶体的X射线衍射特征的区别解释其结构的区别。

考题 单选题最常用的X射线衍射方法是()。A 劳厄法;B 粉末多法;C 周转晶体法;D 德拜法。

考题 问答题试述X射线粉末衍射法物相定性分析过程及注意的问题。

考题 多选题实验人员都要注意防止被实验设备产生的X射线照射,下列能够产生X射线的仪器是()。AX射线衍射仪B721分光光度计CX射线荧光分析仪D气相色谱

考题 问答题比较X射线粉末多晶衍射仪法测定物质晶体结构与单晶衍射法测定物质晶体结构。

考题 填空题德拜法衍射花样的测量主要是测量衍射线条的()和(),然后在计算出θ角和晶面间距。

考题 单选题(2007)波长为λ的X射线,投射到晶体常数为d的晶体上,取k=0,2,3,…,出现X射线衍射加强的衍射角θ(衍射的X射线与晶面的夹角)满足的公式为:()A 2dsinθ=KλB dsinθ=KλC 2dcosθ=KλD dcosθ=Kλ

考题 填空题晶体产生X射线衍射的必要条件()。

考题 问答题比较仪器结构比较多晶X射线衍射仪与四圆单晶X射线衍射仪的异同。

考题 问答题简述x射线衍射物相定性分析的一般步骤。

考题 问答题说明X射线衍射仪法定性分析物相组成的基本过程,注意事项及PDF卡片的检索方法。

考题 问答题用单色X射线照射圆柱多晶体试样,其衍射线在空间将形成什么图案?为摄取德拜图相,应当采用什么样的底片去记录?

考题 填空题X射线衍射仪由X射线发生器、()、()和()4个基本*部分组成,现代X射线衍射仪还配有控制操作和运行软件的计算机系统。

考题 问答题试从入射光束、样品形状、成相原理、衍射线记录、衍射花样、样品吸收与衍射强度(公式)、衍射装备及应用等方面比较衍射仪法与德拜的异同点。

考题 问答题宏观应力对X射线衍射花样的影响是什么?衍射仪法测定宏观应力的方法有哪些?

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