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35kV及以下设备外绝缘及绝缘子盘形瓷绝缘子零值检测基准周期是()。

  • A、1年
  • B、2年
  • C、3年
  • D、4年

参考答案

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考题 35kV以上输电线路瓷质盘型绝缘子带电检测周期为()年。 A.1B.2C.4D.2~4

考题 111、检修人员应加强( )的检测,及时更换自爆玻璃绝缘子及零值、低值绝缘子。

考题 139、加强( )的检测,及时更换自爆玻璃绝缘子及零值、低值瓷绝缘子。 A、零值、低值瓷绝缘子B、玻璃绝缘子C、复合绝缘子D、钢化玻璃绝缘子

考题 75、加强零值、低值绝缘子的检测,及时更换自爆玻璃绝缘子及零值、低值绝缘子。( )

考题 红外检测220kV线路用盘形悬式瓷绝缘子时发现,从高压端数起第3片绝缘子的温度比相邻绝缘子温度要低,则以下说法不正确的是()。A、该绝缘子表面污秽程度严重B、该绝缘子的绝缘电阻可能为10MΩ左右C、该绝缘子可能为低值绝缘子D、该绝缘子可能为零值绝缘子

考题 盘形瓷绝缘子零值检测周期为()雷电日/年,500kV线路的基准周期为()年,采用轮试。A、10,2B、20,3C、30,4D、40,5

考题 带电检测绝缘子,使用火花间隙检测器检测绝缘子时,应遵守()规定。A、检测35kV电压等级的绝缘子串时,当发现同一串中的零值绝缘子片数达到2片时。应立即停止检测B、针式及少于3片的悬式绝缘子不得使用火花间隙检测器进行检测C、检测前应对检测器进行检测,保证操作灵活,测量准确D、应在干燥天气进行E、检测35kV电压等级的绝缘子串时,当发现同一串中的零值绝缘子片数达到1片时。应立即停止检测

考题 使用火花间隙检测一串4片绝缘子的35kV设备时,零值绝缘子达到()片时,应立即停止检测。A、1;B、2;C、3;D、4。

考题 在轻、中污区(II级及以下),复合绝缘子的爬电距离()盘型绝缘子;在重污区(III级及以上),其爬电距离()盘型绝缘子最小要求值的3/4;瓷棒绝缘子爬电距离应不小于盘型绝缘子

考题 在35kV电压等级线路上进行零值绝缘子检测,在同一串绝缘子上发现一片零值绝缘子时,应立即停止检测

考题 在35kV电压等级线路上进行绝缘子检测时,在同一串绝缘子上发现一片零值绝缘子时,应停止检测工作。

考题 检修人员应加强()的检测,及时更换自爆玻璃绝缘子及零值、低值瓷绝缘子。

考题 对于盘形悬式瓷质绝缘子,每年宜进行()的检测,发现()绝缘子应及时更换

考题 加强零值、低值瓷绝缘子的检测,及时更换()及零值、低值瓷绝缘子。A、自爆玻璃绝缘子B、玻璃绝缘子C、复合绝缘子D、钢化玻璃绝缘子

考题 加强零值、低值瓷绝缘子的检测,及时更换自爆玻璃绝缘子及零值、低值瓷绝缘子。()

考题 检测35kV及以上电压等级的绝缘子串时,当发现同一串中的零值绝缘子片数超标时,应立即换一支检测器再次确认。

考题 检测35kV及以上电压等级的绝缘子串时,当发现同一串中的零值绝缘子片数超标时,应立即申请停电。

考题 防止输变电设备污闪,应加强零值、低值瓷绝缘子的检测,及时更换()。A、自爆玻璃绝缘子;B、老旧绝缘子;C、损坏绝缘子;D、零值瓷绝缘子;E、低值瓷绝缘子。

考题 35kV及以下设备外绝缘及绝缘子盘形瓷绝缘子零值检测基准周期:()年。A、1B、2C、3D、4

考题 关于设备外绝缘及绝缘子盘形瓷绝缘子零值检测,说法正确的是()。A、条件不具备时,进行红外热像精确测温,着重温度分布的测量B、采用轮试的方法,即每年检测一部分,一个周期内完成全部普测C、如某批次的盘形瓷绝缘子零值检出率明显高于运行经验值,则对于该批次绝缘子应酌情缩短零值检测周期D、自上次检测以来又发生了新的闪络、或有新的闪络痕迹的,也应列入最近的检测计划

考题 加强瓷、玻璃绝缘子的检查,及时更换零值、低值及破损绝缘子。()

考题 以下哪种绝缘子具有零值“自爆”的特点,()。A、瓷质绝缘子B、玻璃绝缘子C、复合绝缘子D、棒式绝缘子

考题 110(66)~750kV盘形瓷绝缘子零值检测检测周期为()A、1年B、2年C、3年D、4年

考题 防止输变电设备污闪,应加强零值、低值瓷绝缘子的检测,及时更换及()。A、自爆玻璃绝缘子;B、老旧绝缘子;C、损坏绝缘子;D、零值瓷绝缘子;E、低值瓷绝缘子。

考题 盘形瓷绝缘子零值监测时,当绝缘电阻小于()MΩ时,加屏蔽环重新测量,仍然小于()MΩ时,判定为零值绝缘子。A、100,100B、200,200C、500,500D、1000,1000

考题 问答题35kV及以上电压等级的绝缘子串时,当发现同一串中的零值绝缘子片数达到多少时应立即停止检测?

考题 判断题检测35kV及以上电压等级的绝缘子串时,当发现同一串中的零值绝缘子片数超标时,应立即申请停电。A 对B 错