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35kV变压器绕组连同套管的tanδ值,在20℃时测得tanδ值为1.5%不合格。


参考答案

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考题 对于35kV以上的变压器,绕组连同套管一起的介质损耗因数tanδ在20℃时应大于1.5%。

考题 测量变压器绕组连同套管的介质损耗角正切值tanδ,测试时记录好试验时的环境温度,换算至出厂相同温度比较时,其值不应大于产品出厂值的()倍。A、1.2B、1.3C、1.4D、1.5

考题 测量电力变压器绕组连同套管的直流电阻,容量为180MVA三相变压器,各相测得值的相互差值应小于平均值的(),线间测得值的相互差值应小于平均值的()。

考题 变压器交接试验时,被测绕组的tanδ值不宜大于产品出厂试验值的()%。A、110B、120C、130D、140

考题 35kV变压器出厂验收时,应测量每一绕组连同套管对地及其余绕组间的介损、电容值,并将测试温度下的介损值换算到()℃。A、18B、20C、22D、25

考题 500kV变压器绕组连同套管的tanδ值,在20℃时测得tanδ值为()合格。A、0.6%B、0.1%C、1.5%D、0.8%

考题 500kV油浸式电抗器绕组连同套管的tanδ试验周期为()。A、3年B、6年C、大修后D、必要时

考题 变压器绕组连同套管的tanδ能发现变压器()、严重的局部缺陷等。A、局部受潮B、整体赃污C、整体受潮D、局部受潮绝缘油劣化

考题 测量20kV及以上非纯瓷套管的主绝缘介质损耗正切值tanδ和电容值,应符合下列规定:在温室不低于()℃ 下。A、10%B、20%C、30%D、40%

考题 运行中的35KV以上的电压互感器一次绕组连同套管的介质损耗因数tgδ的值规定为()。A、20℃时2.5B、20℃时3C、20℃3.5

考题 使用QS1型交流电桥测量tanØ时,造成-tanØ值出现的原因有()A、温度影响B、强电场干扰C、测量中接线错误D、测量有抽取电压装置的电容式套管时,套管表面脏污

考题 测量变压器电容型套管的tanδ和电容值用正接法测量()

考题 500kV变压器绕组连同套管的tanδ值,在20℃时测得tanδ值为0.8%合格。

考题 35kV油浸式串联电抗器,在20℃时测量绕组tanδ值不大于()。A、0.4%B、0.5%C、1.5%D、3.5%

考题 110kV~220kV变压器绕组连同套管的tanδ值,在20℃时测得tanδ值为1.5%合格。

考题 测量20kV及以上非纯瓷套管的主绝缘介质损耗角正切值tanδ和电容值,应符合以下规定()A、在室温不低于10℃的条件下,套管主绝缘类型电容式油浸纸tanδ(%)最大值0.7(500kV套管0.5);B、在室温不低于10℃的条件下,套管主绝缘类型电容式气体tanδ(%)最大值1.5;C、在室温不低于10℃的条件下,套管主绝缘类型非电容式浇铸树脂tanδ(%)最大值2.0;D、在室温不低于10℃的条件下,套管主绝缘类型非电容式复合绝缘tanδ(%)最大值由供需双方商定;E、电容型套管的实测电容量值与产品铭牌数值或出厂试验值相比,其差值应在±5%范围内。

考题 220kV变压器被测绕组的tanδ值不应大于产品出厂试验值的()。

考题 使用QS1型交流电桥测量tanØ时,温度对tanØ测量结果影响很大。尤其当试验温度小于0℃或天气潮湿(相对湿度大于85%)条件下测得的tanØ值,不能反映设备的实际绝缘状况。

考题 使用QS1型交流电桥测量tanØ时,设备温度不同,所测得的tanØ值不同。但可以用一个典型的温度换算系数进行tanØ的温度换算。

考题 大修后35KV以上的电压互感器一次绕组连同套管的介质损耗因素tgδ的值规定为()。A、20℃时2.0B、20℃时2.5C、20℃时4.0

考题 500kV电抗器绕组连同套管的tanδ值,在20℃时测得tanδ值不大于()。A、0.4%B、0.5%C、0.6%D、0.8%

考题 测得220kV变压器绕组连同套管,在温度4℃,相对湿度85%时的tanδ值为0.8%合格。

考题 油浸式电力变压器绕组连同套管的tanδ试验周期为()。A、3年B、6年C、大修后D、必要时

考题 110kV~220kV变压器绕组连同套管的tanδ值在20℃时()合格。A、0.2%B、0.5%C、0.4%D、0.8%

考题 有n个试品的介质损耗因数分别为tanδl、tanδ2、tanδ3、…、tanδn,若将它们并联在一起测得的总tanδ值必为tanδl、…、tanδn中的()。A、最大值B、最小值C、平均值D、某介于最大值与最小值之间的值

考题 属于油浸式电力变压器的预防性试验项目:()。A、油中溶解气体色谱分析B、绕组直流电阻C、电容型套管的tanδ和电容值

考题 填空题220kV变压器被测绕组的tanδ值不应大于产品出厂试验值的()。