考题
比较开环、闭环、半闭环数控机床在位置检测装置、控制精度和应用领域上的不同。
考题
数控机床进给伺服系统的负载不大,加工精度不高时,可采用()控制。
A、全闭环B、半闭环C、开环
考题
按照伺服驱动系统控制方式的不同，可将数控机床分为()。A．半闭环控制数控机床B．开环控制数控机床C．半开环控制数控机床D．闭环控制数控机床E．半开半闭环控制数控机床
考题
在工作台上安装有位置检测装置的数控机床,按其控制方式属于()。
A、闭环控制数控机床B、开环控制数控机床C、半闭环控制数控机床D、直线控制数控机床
考题
将位置检测装置安装在机床的工作台上的数控机床属于（ ）数控机床。A．开环控制B．开环补偿型控制C．半闭环控制D．闭环控制
考题
将位置检测装置安装在机床的工作台上的数控机床属于()数控机床。A:开环控制
B:开环补偿型控制
C:半闭环控制
D:闭环控制
考题
数控机床的半闭环伺服系统中，用于角位移的检测元件通常有（）、（）、（）和（）。
考题
感应同步器用于（）控制系统的数控机床。A、闭环B、半闭环C、开环D、半开环
考题
旋转变压器用于（）控制系统的数控机床。A、闭环B、半闭环C、开环D、半开环
考题
数控机床进给伺服系统的负载不大，加工精度不高时，可采用（）控制。A、全闭环B、半闭环C、开环D、混合闭环
考题
开环控制系统用于（）样的机床。A、经济开环—无检测装置B、标准闭环—光栅尺C、精密半闭环—回转式D、加工中心闭环—光栅尺
考题
数控车床操作在开环和半闭环数控机床上，定位精度主要取决于进给丝杠的精度。（）
考题
数控机床按控制系统的特点可分为开环、闭环和半闭环系统。（）
考题
（）控制数控机床检测装置在电机轴端。A、开环B、闭环C、半闭环D、全闭环
考题
如果数控机床进给系统的负载不大，加工精度不高时，可采用（）控制。A、开环B、半闭环C、半开半闭D、环全闭环
考题
磁栅用于（）控制系统的数控机床。A、闭环B、半闭环C、开环D、半开环
考题
（）控制伺服系统，适用于简易或经济型数控机床A、开环B、闭环C、半开环D、半闭环
考题
数控机床进给伺服系统的负载不大，加工精度不高时，可采用（）控制A、全闭环B、半闭环C、开环D、传动链
考题
关于伺服控制下列说法中错误的是（）A、闭环系统的精度最高B、开环系统一般采用步进电机驱动C、闭环和半闭环系统都有位置检测元件D、半闭环系统的检测元件安装在传动链的最终执行部件上
考题
数控机床的控制方式可分为开环控制、半闭环控制和全闭环控制。
考题
填空题（）是数控车床加工螺纹时必不可少的检测元件，常用于半闭环和开环控制的数控机床上。
考题
单选题关于伺服控制下列说法中错误的是（）A
闭环系统的精度最高B
开环系统一般采用步进电机驱动C
闭环和半闭环系统都有位置检测元件D
半闭环系统的检测元件安装在传动链的最终执行部件上
考题
单选题数控机床进给伺服系统的负载不大，加工精度不高时，可采用（）控制A
全闭环B
半闭环C
开环D
传动链
考题
单选题数控机床进给伺服系统的负载不大，加工精度不高时，可采用（）控制。A
全闭环B
半闭环C
开环D
以上皆可
考题
问答题开环控制数控机床、半闭环控制数控机床及闭环控制数控机床的概念及特点？
考题
问答题简述开环控制数控机床、半闭环控制数控机床及闭环控制数控机床的概念及特点。
考题
单选题数控机床进给伺服系统的负载不大，加工精度不高时，可采用（）控制。A
全闭环B
半闭环C
开环
