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题目内容
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使用Mood’s中位数检验时，选择应用的条件和假设是（）
- A、非正态数据、方差相等、分布形状相同，检验中位数的相等性
- B、非正态数据、方差不相等、分布形状相同，检验中位数的相等性
- C、正态数据、方差相等、分布形状相同，检验中位数的相等性
- D、非正态数据、或方差不相等、或分布形状不相同，检验中位数的相等性
参考答案
更多 “使用Mood’s中位数检验时，选择应用的条件和假设是（）A、非正态数据、方差相等、分布形状相同，检验中位数的相等性B、非正态数据、方差不相等、分布形状相同，检验中位数的相等性C、正态数据、方差相等、分布形状相同，检验中位数的相等性D、非正态数据、或方差不相等、或分布形状不相同，检验中位数的相等性” 相关考题
考题
关于检验假设,下面哪个说法是正确的()。
A.检验假设是对总体作的某种假定B.检验假设是对样本作的某种假定C.检验假设包括零假设和无效假设D.检验假设是希望被拒绝的假设E.检验假设是被证明的假设
考题
使用Mood's中位数检验时,选择应用的条件和假设()
A.正态/非正态数据、方差相等、分布外形相同，检验中位数的相等性B.正态/非正态数据、方差相等/不相等、分布外形相同，检验中位数的相等性C.正态数据、方差相等、分布外形相同，检验中位数的相等性D.正态/非正态数据、方差相等/不相等、分布外形相同/不相同，检验中位数的相等性
考题
使用破坏性测试对贵重产品进行抽样检验时，适宜使用的检验水平为（）。
A. 一般检验水平I B. —般检验水平II
C. 一般检验水平III D.特殊检验水平s — I
E.特殊检验水平S—2
考题
关于中位数检验的说法，正确的是（）A、中位数检验是一种两独立样本的非参数检验方法B、中位数检验是一种多独立样本的非参数检验方法C、中位数检验使用的统计量是卡方统计量D、中位数检验中要求各组样本中的个案相同E、中位数检验中要计算各变量值的秩
考题
关于检验假设，下面哪些说法是正确的（）。A、检验假设是对总体作的某种假定B、检验假设是对样本作的某种假定C、检验假设包括零假设和备择假设D、检验假设与备择假设是对立的E、检验假设与备择假设地位是相等的
考题
第1类错误（Ⅰ型错误）的概念是（）A、零假设是不对的，统计检验结果未拒绝零假设B、零假设是对的，统计检验结果未拒绝零假设C、零假设是不对的，统计检验结果拒绝零假设D、零假设是对的，统计检验结果拒绝零假设E、以上都不对
考题
在检验改进工作后的产量是否比改进前的产量有增加时，先要检查改进前后数据的方差是否相等。为此可以用F检验或Levene’s检验。对于F检验及Levene’s检验的使用条件和检验的功效，正确的论述是：（）A、Levene’s检验适用于任何连续型分布，而F检验只适用于正态分布。因此Levene’s检验适用性要比F检验广泛，因此应优先选用Levene’s检验B、由于F检验适用于正态分布，因此只有当数据不是正态分布时，才选用Levene’s检验，当数据是正态分布时，不能肯定哪种检验更好，可以随意选取F检验或Levene’s检验，最好两者都进行C、由于F检验只适用于正态分布，因此只有当数据不是正态分布时，才选用Levene’s检验。当数据是正态分布时，选取F检验肯定比用Levene’s检验的功效要高些（即犯II类错误概率小些）D、以上论述都不准确
考题
单选题使用Mood’s中位数检验时，选择应用的条件和假设是（）A
非正态数据、方差相等、分布形状相同，检验中位数的相等性B
非正态数据、方差不相等、分布形状相同，检验中位数的相等性C
正态数据、方差相等、分布形状相同，检验中位数的相等性D
非正态数据、或方差不相等、或分布形状不相同，检验中位数的相等性
考题
多选题关于中位数检验的说法，正确的是（）A中位数检验是一种两独立样本的非参数检验方法B中位数检验是一种多独立样本的非参数检验方法C中位数检验使用的统计量是卡方统计量D中位数检验中要求各组样本中的个案相同E中位数检验中要计算各变量值的秩
考题
单选题电气设备选择的一般条件是：（）A
按正常工作条件选择，按短路情况检验B
按设备使用寿命选择，按短路情况检验C
按正常工作条件选择，按设备使用寿命检验D
按短路工作条件选择，按设备使用寿命检验
考题
多选题关于检验假设，下面哪些说法是正确的（）。A检验假设是对总体作的某种假定B检验假设是对样本作的某种假定C检验假设包括零假设和备择假设D检验假设与备择假设是对立的E检验假设与备择假设地位是相等的
考题
问答题选择统计检验程序的方法时要考虑哪些条件，才能正确应用统计检验方法分析问题。
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