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根据控制流图,回答以下问题。 (1) 根据边覆盖准则,找出所有的测试路径 (2) 根据边对覆盖准则,找出所有的测试路径 (3) 根据主路径覆盖准则,找出所有的测试路径


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考题 有人认为控制流图的节点覆盖准则和边覆盖准则生成的测试用例完全相同,因此两个测 试准则是重复的。请判定以上描述是否正确,并给出相应的解释。

考题 以下代码用于判断闰年,由C 语言书写。其对应的控制流图如下图所示。 请按要求回答问题。 int isLeap(int year){ int leap; if (year % 4 = = 0){ if (year % 100 = = 0){ if ( year % 400 = = 0) leap = 1; else leap = 0; } else leap = 1; } else leap = 0; return leap; } (1)请画出控制流图,并计算圈复杂度V(G)。 (2)找出独立路径。

考题 现有控制流图如下 (1) 根据节点覆盖准则,给出测试路径 (2) 根据边覆盖准则,给出测试路径 (3) 根据边对覆盖准则,给出测试路径

考题 根据源代码请回答以下问题。 void sort( int Num, int Type ){ int x = 0; int y = 0; while (Num 0) { if( Type = = 0) x = y + 2; else { if( Type = = 1 ) x = y + 5; else x = y + 10; } Num--; } } (1) 请画出控制流图并计算控制流图复杂度V(G) 。 (2) 找出独立路径。 (3) 请使用基本路径测试法设计测试用例。 (4) 根据控制流图,找出变量x和y的DU path

考题 根据控制流图,回答以下问题 (1)根据边覆盖准则,找出所有的测试路径 (2)根据边对覆盖准则,找出所有的测试路径 (3)根据主路径覆盖准则,找出所有的测试路径

考题 使用基本路径测试方法,为以下程序段设计测试用例。(1)画出程序的控制流图,编号已经给出。(2)计算程序的循环复杂度,导出程序基本路径集中的独立路径条数。(3)导出基本路径集,确定程序的独立路径。(4)根据(3)中的独立路径,设计测试用例(确保基本路径集中的每一条路径的执行)的输入数据和预期输出。void Do (int X,int A,int B){1 if ( (A1)(B=0) )2 X = X/A;3 if ( (A=2)||(X1) )4 X = X+1;5 }由于控制流图假设的是单条件,因此对于复合条件,可将其分解为多个单个条件,并映射成控制流图。1: A1;2: B=0 ;3: X = X/A ;4: A=2 ;5:X1 ;6: X = X+1;7: }

考题 阅读下列Java程序,回答问题1至问题3,将解答填入答题纸的对应栏内。【说明】逻辑覆盖法是设计白盒测试用例的主要方法之一,它是通过对程序逻辑结构的遍历实现程序的覆盖。针对以下由Java语言编写的程序,按要求回答问题。 问题1:(2分) 请简述基本路径测试法的概念。 问题2:(8分)请画出上述程序的控制流图,并计算其控制流图的环路复杂度V(G)。 问题3:(3分)请给出【问题2】中控制流图的线性无关路径。

考题 阅读下列程序,回答问题1至问题3,将解答填入答题纸的对应栏内。【说明】逻辑覆盖法是设计白盒测试用例的主要方法之一,它是通过对程序逻辑结构的遍历实现程序的覆盖。针对以下由C 语言编写的程序,按要求回答问题。 问题1:(5分)请给出满足100%DC(判定覆盖)所需的逻辑条件。 问题2:(7分)请画出上述程序的控制流图,并计算其控制流图的环路复杂度V(G)。 问题3:(3分)请给出【问题2】中控制流图的线性无关路径。

考题 3、下列关于结构覆盖的说法错误的是A.结构覆盖是一种常用的图覆盖类型,仅关注点和边而不关注其中具体的内容B.一个满足边覆盖的测试用例集一定满足点覆盖C.测试准则C1蕴含测试准则C2,这说明满足C1的测试用例集的错误检测能力要强于满足C2的测试用例集D.一个测试集合T满足边覆盖当且仅当对于任意一条语法可达的边e,测试路径集合path(T)中都存在一条边p覆盖e