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以相同的探测灵敏度探测位于粗晶铸件和经过调质锻件中的缺陷,如两者探测面状态一样,同处深度200mm处的缺陷回波高度也一样,则两者的缺陷()
A、当量相同
B、铸件中的大
C、锻件中的大
D、上述都不对
参考答案
更多 “ 以相同的探测灵敏度探测位于粗晶铸件和经过调质锻件中的缺陷,如两者探测面状态一样,同处深度200mm处的缺陷回波高度也一样,则两者的缺陷() A、当量相同B、铸件中的大C、锻件中的大D、上述都不对 ” 相关考题
考题
一工件厚度为350mm,用2MHz直探头发现在距探测面200mm处有—缺陷回波,比底波低24dB,此缺陷相当于()当量直径的平底孔(钢G=5900m/s)。A.7mmB.6mmC.5mmD.3.7mm
考题
下列尺寸和深度都相同的缺陷,在相同探伤灵敏度下探测,回波最高的是()
A、最大表面与波束轴线呈75°角且平滑的缺陷B、最大表面与波束轴线呈75°角且粗糙的缺陷C、最大表面与波束轴线呈90°角且平滑的缺陷D、最大表面与波束轴线相垂直且粗糙的缺陷
考题
用垂直法以相同探测灵敏度探测同一试件同深度上的两个缺陷,调节衰减器使其回波降至屏高的50%,前一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是10dB,后一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是40dB则()
A、前一个缺陷大于后一个B、后一个缺陷大于前一个C、两者一样大D、任意
考题
在远场区用探测面为平面的对比试块中的Φ2mm平底孔校准的探伤灵敏度,去探测一个探测面为圆柱面的试件,发现一个深度和回波高度均与上述试块平底回波相同的缺陷,则该缺陷的当量()
A、等于Φ2mm平底孔B、比Φ2mm平底孔大C、比Φ2mm平底孔小D、大于等于Φ2mm平底孔
考题
处于同深度上的一个表面状态粗糙的缺陷和同样尺寸但表面光滑的缺陷,在相同探伤灵敏度下且波束垂直射及时,后者的回波高度()
A、与前两者一样B、比前者低C、比前者高D、比前者高而且显示位置提前
考题
尺寸和深度都相同的缺陷，在相同探伤灵敏度下探测，回波最高的是最大表面与波束轴线（ ）。A.呈75°角且平滑的缺陷B.呈75°角且粗糙的缺陷C.呈90°角且平滑的缺陷D.相垂直且粗糙的缺陷
考题
用探测面为平面的对比试块中 φ 2mm平底孔校准的探伤灵敏度，去探测一个探测面为圆柱面的试件，发现一个深度和回波高度均与试块相同的缺陷，则该缺陷的当量。（ ）A.等于φ2mm平底孔B.比φ2mm平底孔大C.比φ2mm平底孔小D.不小于φ2mm平底孔
考题
方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大，该缺陷的取向可能是()A.平行且靠近探测面
B.与声束方向平行
C.与探测面成较大角度
D.平行且靠近底面
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