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在选择或分析测量系统时，首先我们关心的是测量系统的( )。
A.准确度
B.分辨力
C.最小分度值
D.不易探测度
B.分辨力
C.最小分度值
D.不易探测度
参考答案
参考解析
解析：
更多 “在选择或分析测量系统时，首先我们关心的是测量系统的( )。A.准确度 B.分辨力 C.最小分度值 D.不易探测度” 相关考题
考题
下列对测量系统陈述中，选择所有正确的内容（）A、在测量阶段检讨是否需要进行测量系统分析后，没有必要时不需要进行分析B、破坏性检验无法进行测量系统分析C、测量值的‘真值’是无法知道的，我们定义的真值是理论真值D、线性是检验随着测量范围的大小变化的测量仪器准确度
考题
压力测量系统出现故障时，首先检查测量引压导管系统是否有堵的现象，不堵，检查压力变送器输出系统有无变化，有变化，故障出在（）控制器测量指示系统。A、压力测量系统B、压力调节系统C、压力控制系统D、控制器测量指示系统
考题
下列对测量系统分析的陈述中正确地是（）A、破坏性检测无法进行测量系统分析B、每个测量系统必须使用数字显示的计量仪器C、测量系统误差影响被测量对象的真值D、随机测量是测量系统分析的基本原则
考题
在测量系统分析时，我们知道总变异等于测量系统的变异加上样本的变异，其中测量系统的变异又是由以下哪一对变异造成的？（）A、系统方差和偏倚B、噪声系统和重复性C、操作员的变异和仪器的变异D、重复性的变异和再现性的变异
考题
某六西格玛团队在测量阶段对某关键检测设备进行测量系统分析前，计量部门的人说，该设备定期进行校准，不必再进行测量系统分析。有关设备校准和测量系统分析之间的关系，正确的是（）A、定期校准可以保证测量系统的有效性，因此不必专门进行测量系统分析B、校准可以消除或减少测量系统的偏倚（bias）C、定期进行GRR研究一般可以代替定期校准D、定期进行GRR研究不能代替定期校准
考题
多选题某六西格玛团队在测量阶段对某关键检测设备进行测量系统分析前，计量部门的人说，该设备定期进行校准，不必再进行测量系统分析。有关设备校准和测量系统分析之间的关系，正确的是（）A定期校准可以保证测量系统的有效性，因此不必专门进行测量系统分析B校准可以消除或减少测量系统的偏倚（bias）C定期进行GRR研究一般可以代替定期校准D定期进行GRR研究不能代替定期校准
考题
多选题下列对测量系统陈述中，选择所有正确的内容（）A在测量阶段检讨是否需要进行测量系统分析后，没有必要时不需要进行分析B破坏性检验无法进行测量系统分析C测量值的‘真值’是无法知道的，我们定义的真值是理论真值D线性是检验随着测量范围的大小变化的测量仪器准确度
考题
多选题以下关于测量系统分析的说法正确的是（）A根据数据类型，测量系统可分为计量型测量系统分析和计数型测量系统分析B计量型测量系统分析从准确性和精确性两方面去分析C测量系统的准确性分析包含：偏倚、偏倚线性性、稳定性D测量系统的精确性包含：重复性和再现性研究
考题
单选题下列对测量系统分析的陈述中正确地是（）A
破坏性检测无法进行测量系统分析B
每个测量系统必须使用数字显示的计量仪器C
测量系统误差影响被测量对象的真值D
随机测量是测量系统分析的基本原则
考题
多选题下面对测量系统分析的陈述中，选择所有正确的项目（）A在测量阶段确认是否需要进行测量系统分析后，没有必要时不需要进行测量系统分析B破坏性检验无法进行测量系统分析C测量值的‘真值’是无法知道的，我们定义的真值是理论真值D线性是检验随着测量范围的大小变化的测量仪器正确度
考题
单选题在测量系统分析时，我们知道总变异等于测量系统的变异加上样本的变异，其中测量系统的变异又是由以下哪一对变异造成的？（）A
系统方差和偏倚B
噪声系统和重复性C
操作员的变异和仪器的变异D
重复性的变异和再现性的变异
考题
单选题计量型测量系统分析的应用，以下说法正确的是（）A
在进行测量系统分析之前，应先分析测量量具的分辨力，如果分辨力不足，更换量具B
测量系统的分辨力应越小越好，企业应购置同类分辨力最小的量具C
测量系统分析应先进行准确性的判断，如果准确性无法满足，则一定要重新购买新的量具D
测量系统分析应首先进行精确性的判断，精确性无法满足，只要知道精确性的真实数据，还可以使用
考题
问答题什么是测量仪器或测量系统的动态特性分析？作用？
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