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当X或γ射线源移去以后工件不再受辐射作用，但工件本身仍残留极低的辐射。

参考答案

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考题 对环焊缝作源在外的单壁透照时，确定透照次数与（）相关A、透照厚度比、工件外径、工件壁厚B、工件外径、透照厚度比、射线源与工件表面距离C、工件壁厚、透照厚度比、工件外径、射线源与工件表面距D、透照厚度比、工件壁厚/工件外径、工件外径/射线源与工件表面距离
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考题 夹具的自锁作用是当原动力撤消后，工件仍处于夹紧状态。
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考题 细长轴的刚度极低，在磨削力的作用下，工件会产生（）变形和振动，使工件产生形状误差（如腰鼓形），多角形振痕和径向跳动等缺陷。
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考题 编程时，必须先确定工件的编程零点以及进行工件零点偏置。当工件编程零点偏置以后，编程方便多了。
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考题 以下有关环焊缝双壁单影透照的说法正确的是（）A、射线源放在工件外侧，而将胶片贴在射线源对面的工件外侧B、射线束透过工件的双层壁厚C、环焊缝源在外双壁单影透照技术较多地应用于管道射线照相检验中D、以下都对
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考题 工件中靠射线源一侧的缺陷图像，在下列哪种情况下清晰度最差？（）A、焦距增大B、焦点尺寸减小C、工件厚度增大D、将胶片与工件贴紧
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考题 后清洗是去除对以后使用或对工件材料有害的残留物。
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考题 剩磁法检测中磁悬液的施加是在工件磁化后且移去外磁场以后进行的。
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考题 当X射线源移去以后工件不再受辐射作用，但工件本身仍残余极低的辐射。
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考题 当X或γ射源移去以后工件不再受辐射作用，但工件本身仍残留极低的辐射。
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考题 应用几何原理的原则是（）A、选取尺寸尽量大的射线源B、射线源到被透照工件的距离尽可能小C、胶片离被透照工件尽可能远D、中心射线尽可能垂直于胶片平面
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考题 通常应将像质计放在工件射线源侧的表面上，并靠近被检工件的边缘。
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考题 线形透度计应放在（）。A、远离射线源一侧的工件表面上B、靠近射线源一侧的工件表面上C、胶片暗盒表面上D、A、B和C
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考题 当X射线源或γ射线源移去以后工件不再受辐射作用，（）也就没有辐射。
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考题 射线透射检验时，工件中靠近射线源的缺陷，在（）的情况下，清晰度降低。A、工件厚度减小B、焦点尺寸减小C、工件厚度增加D、焦距增大
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考题 在平板对接焊缝超声波探伤时，一般斜探头拆射角根据工件厚度选择，原则上薄工件选用大拆射角，原工件则采用小拆射角。
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考题 当X或γ射线源移去以后工件不再受辐射作用，工件本身也就没有辐射。
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考题 判断题剩磁法检测中磁悬液的施加是在工件磁化后且移去外磁场以后进行的。A 对B 错
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考题 单选题以下有关环焊缝双壁单影透照的说法正确的是（）A 射线源放在工件外侧，而将胶片贴在射线源对面的工件外侧B 射线束透过工件的双层壁厚C 环焊缝源在外双壁单影透照技术较多地应用于管道射线照相检验中D 以下都对
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考题 单选题工件中靠射线源一侧的缺陷图像，在下列哪种情况下清晰度最差？（）A 焦距增大B 焦点尺寸减小C 工件厚度增大D 将胶片与工件贴紧
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考题 单选题射线透射检验时，工件中靠近射线源的缺陷，在（）的情况下，清晰度降低。A 工件厚度减小B 焦点尺寸减小C 工件厚度增加D 焦距增大
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考题 判断题当X和γ射源移去以后工件不再受辐射作用，但工件本身仍残留极低的辐射。A 对B 错
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考题 判断题当X或γ射源移去以后工件不再受辐射作用，但工件本身仍残留极低的辐射。A 对B 错
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考题 判断题当X射线源移去以后工件不再受辐射作用，但工件本身仍残余极低的辐射。A 对B 错
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考题 判断题通常应将像质计放在工件射线源侧的表面上，并靠近被检工件的边缘。A 对B 错
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考题 判断题后清洗是去除对以后使用或对工件材料有害的残留物。A 对B 错
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考题 单选题关于浮动支承的说法正确的是（）。A 与工件的接触点虽然是两点或三点，但仍只限制工件的一个自由度B 对工件既起到支承作用又限制工件运动自由度C 采用浮动支承会产生过定位
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