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晶粒较粗大的材料,在一定的射线透照条件下,射线底片上可能产生衍射斑纹。


参考答案

更多 “晶粒较粗大的材料,在一定的射线透照条件下,射线底片上可能产生衍射斑纹。” 相关考题
考题 以下说法正确的是()A、随着射线能量的提高,将使射线照相影像的对比度降低B、选取的射线能量应与透照物体的材料和厚度相适应C、在保证射线具有一定穿透能力的条件下选用较低的能量D、以上都对

考题 由于X射线在粗晶材料中可能发生衍射效应,因此散射的特殊表现形式是底片上出现斑点。

考题 工件射线透照时,靠近射线源侧的缺陷,在底片上所呈的影像可能会产生()A、影像重叠B、影像畸变C、影像放大D、以上都有可能

考题 通常在透照哪些材料时容易产生衍射斑点?()A、较薄的大晶粒重元素合金铸件B、镍基高温合金铸件C、铸造单晶叶片D、以上都是

考题 由于X射线在粗晶材料中可能发生衍射效应,因此散射的特殊形式表现为()A、底片的衬度差B、底片上出现斑点C、底片上发生严重灰雾D、底片的分辨率差

考题 X射线在大晶粒材料中衍射而引起的一种特殊形式的散射线会使底片上出现()状影像。

考题 判断射线照片上的影像斑纹是否是衍射斑纹的方法是()A、改变透照电压B、改变透照方向C、改变胶片与工件间距离D、以上都是

考题 在底片上出现特殊形状的斑点影像,又称为“劳埃斑”的可能原因是()A、X射线在粗晶材料中发生衍射效应所致B、X射线在细晶材料中发生折射效应所致C、背散射所致D、侧面散射所致

考题 在X射线底片上由于被显影的晶粒分布不均而引起的密度不均匀痕迹叫做()A、条纹B、粒度C、点D、白垢

考题 射线底片上产生一定黑度所用曝光量的倒数定义为感光度。

考题 散乱射线是怎样产生的?它对底片有何影响?透照时如何遮挡?

考题 由于X射线在粗晶材料中可能发生衍射效应,因此散射的特殊表现形式是底片的衬度差。

考题 曝光过程中,试样或胶片偶然移动或使用焦距变小()。A、产生射线照相底片对比度低B、不可能检出大缺陷C、产生射线照相底片不清晰D、产生发灰的射线照片

考题 射线透照厚度1.25in的铸件,射线底片上显示出ASTM20#像质计的2T孔,则该底片的当量灵敏度为()。A、 0.8%B、 1.6%C、 2.4%D、 3.2%

考题 当改变透照电压时,衍射斑纹在射线照片上的影像一般()。A、无变化B、有明显变化C、衍射斑纹的形成与管电压无关D、以上全是

考题 X射线透照探伤,影响底片清晰度的因素是(),()。

考题 X射线管的焦点小,透照灵敏度(),底片清晰度()。

考题 X射线在大晶粒材料中会发生衍射现象引起(),使射线照片出现()。

考题 单选题以下说法正确的是()A 随着射线能量的提高,将使射线照相影像的对比度降低B 选取的射线能量应与透照物体的材料和厚度相适应C 在保证射线具有一定穿透能力的条件下选用较低的能量D 以上都对

考题 单选题通常在透照哪些材料时容易产生衍射斑点?()A 较薄的大晶粒重元素合金铸件B 镍基高温合金铸件C 铸造单晶叶片D 以上都是

考题 单选题工件射线透照时,靠近射线源侧的缺陷,在底片上所呈的影像可能会产生()A 影像重叠B 影像畸变C 影像放大D 以上都有可能

考题 填空题X射线在大晶粒材料中会发生衍射现象引起(),使射线照片出现()。

考题 单选题判断射线照片上的影像斑纹是否是衍射斑纹的方法是()A 改变透照电压B 改变透照方向C 改变胶片与工件间距离D 以上都是

考题 单选题由于X射线在粗晶材料中可能发生衍射效应,因此散射的特殊形式表现为()A 底片的衬度差B 底片上出现斑点C 底片上发生严重灰雾D 底片的分辨率差

考题 填空题X射线透照探伤,影响底片清晰度的因素是(),()。

考题 单选题在底片上出现特殊形状的斑点影像,又称为“劳埃斑”的可能原因是()A X射线在粗晶材料中发生衍射效应所致B X射线在细晶材料中发生折射效应所致C 背散射所致D 侧面散射所致

考题 单选题射线透照厚度1.25in的铸件,射线底片上显示出ASTM20#像质计的2T孔,则该底片的当量灵敏度为()。A 0.8%B 1.6%C 2.4%D 3.2%