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X线阶段曝光测定法的叙述，错误的是（）。
- A、时间阶段曝光法改变曝光时间取得照射量
- B、时间阶段曝光法X线质固定
- C、自举法用铝梯厚度改变X线强度
- D、铝梯下加一层0.5mm厚的铅片
- E、存在间歇效应的影响
参考答案
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考题
关于电离室控时自动曝光控制,下列叙述错误的是
A.利用气体的电离效应B.X线强度大时，电离电流大C.X线强度大时，曝光时间长D.电容充电电流与X线曝光量呈反比E.电离电流小时，曝光时间长
考题
采用中子照相法时,下列哪一种曝光方法是正确的?()
A、直接用X射线胶片曝光B、利用镉屏和钆屏受中子激发后再使用X射线胶片曝光C、利用铅箔增感屏加X射线胶片曝光D、利用荧光增感屏加X射线胶片曝光
考题
X线胶片的感光测定方法,错误的是A.距离法B.密度仪测定法C.感光仪测定法SXB
X线胶片的感光测定方法，错误的是A.距离法B.密度仪测定法C.感光仪测定法D.铝梯定量测定法E.时间阶段曝光法
考题
屏／片系统调制传递函数的测试方法是A.方波测试卡曝光／微密度计扫描法
B.狭缝曝光／微密度计扫描法
C.刃边曝光／微密度计扫描法
D.感光仪曝光／微密度计扫描法
E.时间阶段曝光法／微密度计扫描法
考题
关于电离室自动曝光控时的叙述，哪组是错误的（）A、X线辐射强度大，电离电流大B、电容器的放电速率与电离电流成反比C、V管导通的时间短，曝光时间则短D、电容器放电电流正比于X线辐射强度E、电容器放电与X线辐射强度成正比
考题
多数中型工频X线机限时器都有限时电路和限时保护电路，正常情况下，下列说法正确的是（）A、达到预置曝光时间，限时电路和限时保护电路同时使X线机曝光结束B、达到预置曝光时间，限时电路先于限时保护电路使得曝光中止C、达到预置曝光时间，限时保护电路先于限时电路使得曝光中止D、达到预置曝光时间，X线机停止曝光后，限时电路中的限时电容需放电，而限时保护电路中的限时电容则可以不需要完全放电E、达到预置的曝光时间，X线机曝光停止后，限时保护电路中的限时电容需放电，而限时电路中的限时电容则可以不需要完全放电
考题
光电管自动曝光控制时基本原理，哪组是错误的（）A、X线通过人体产生X线光电子B、控制曝光时间的元件是冷阴极三极管C、光电管接受X线产生光电流D、曝光时间的长短由摄影手闸决定E、胶片的感光量与电容器积累电荷量成正比
考题
多数中型工频X线机限时器在有限时电路和限时保护电路，正常情况下，下列说法正确的是（）A、达到预置的曝光时间，限时电路和限时保护电路同时使X线机停止曝光B、达到预置的曝光时间，限时电路先于限时保护电路使X线机停止曝光C、达到预置的曝光时间，限时保护电路先于限时电路使X线机停止曝光D、达到预置的曝光时间，X线机停止曝光后，限时电路中的限时电容需放电，而限时保护电路中的限时电容可以不完全放电E、达到预置的曝光时间，X线机停止曝光后，限时保护电路中的限时电容需放电，而限时电路中的限时电容可以不完全放电
考题
关于光电管自动曝光控时原理的叙述，哪组是错误的（）A、光电管接受X线辐射产生光电流B、光电流与电容器充速率成正比C、冷阴极充气管电离时间短曝光时间则短D、控制曝光时间是通过二极管完成E、X线辐射强度小，则自动延长曝光时间
考题
单选题关于光电管自动曝光控时原理的叙述，哪组是错误的（）A
光电管接受X线辐射产生光电流B
光电流与电容器充速率成正比C
冷阴极充气管电离时间短曝光时间则短D
控制曝光时间是通过二极管完成E
X线辐射强度小，则自动延长曝光时间
考题
单选题采用中子照相法时，下列哪一种曝光方法是正确的？（）A
直接用X射线胶片曝光B
利用镉屏和钆屏受中子激发后再使用X射线胶片曝光C
利用铅箔增感屏加X射线胶片曝光D
利用荧光增感屏加X射线胶片曝光
考题
单选题X线阶段曝光测定法的叙述，错误的是（）。A
时间阶段曝光法改变曝光时间取得照射量B
时间阶段曝光法X线质固定C
自举法用铝梯厚度改变X线强度D
铝梯下加一层0.5mm厚的铅片E
存在间歇效应的影响
考题
单选题关于电离室控时自动曝光控制叙述错误的是（）A
利用气体的电离效应B
X线强度大时，电离电流大C
X线强度大时，曝光时间长D
电容充电电流与X线曝光量成反比E
电离电流小时，曝光时间长
考题
单选题根据X线强度与距离平方成反比定律进行感光测定的方法是（）A
自举法B
距离法C
感光仪测定法D
时间阶段曝光法E
铝梯定量测定法
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