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填空题
靠近探头的缺陷不一定都能探测到，因为超声波检测仪器存在有仪器（）效应

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考题 靠近探头的长条形缺陷并不一定都能测到，因为（ ）。A.声束扩散B.材质衰减C.仪器阻塞效应D.折射
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考题 影响超声波检测缺陷定量的因素有（）A、仪器及探头性能的影响B、耦合与衰减的影响C、工件几何形状和尺寸的影响D、缺陷的影响
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考题 超声波探伤试块的作用是（）A、检验仪器和探头的组合性能B、确定灵敏度C、缺陷定位评级D、缺陷定量评级E、以上都是
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考题 当超声波检测到一个缺陷时，缺陷波在仪器上出现的情况是（）A、缺陷波出现在底波之前B、缺陷波出现在底波之后C、仪器上无任何波形D、以上情况都是
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考题 外部缺陷指凡致热效应部位裸露，能用红外检测仪器直接检测出的缺陷
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考题 靠近探头的缺陷不一定都能探测到，因为有（）A、声束扩散B、材质衰减C、仪器阻塞效应D、折射
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考题 对于超声波检测法中的测长法，在仪器灵敏度一定的条件下，探头沿缺陷长度方向平行移动，当缺陷高度降到规定位置时，探头移动的距离，即为缺陷的指示长度，上述方法被称为相对灵敏度测长法。
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考题 超声波检测条件的主要考虑因素是（）A、工作频率B、探头和仪器参数C、耦合条件与状态D、探测面
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考题 非记录性超声波检测仪器对缺陷检测的定性和定量都比TOFD技术强（）
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考题 超声波探伤拭块的作用是检验仪器和探头的组合性能，确定灵敏度，缺陷定位和缺陷定量。
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考题 超声波探伤试块的作用是（）A、检验仪器和探头的组合性能B、确定灵敏度C、缺陷定位D、缺陷定量
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考题 靠近探头的缺陷不一定都能探测到，因为超声波检测仪器存在有仪器（）效应
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考题 超声波试验系统分辨底面回波与靠近底面的小缺陷回波的能力（）A、主要取决于仪器发射的脉冲持续时间B、与被探工件的底面粗糙度无关C、主要取决于被检零件的厚度D、用直径较大的探头可以得到改善
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考题 靠近探头的长条形缺陷并不一定都能探测到，因为（）。A、声束扩散B、材质衰减C、仪器阻塞效应D、折射
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考题 超声波探伤中，能从各个方向都能探测到的缺陷是（）缺陷。
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考题 超声波探伤，从各个方向都能探测到的缺陷是片状形缺陷。
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考题 靠近滩头的长条形缺陷并不一定都能检测到，是应为（）。
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考题 判断题对于超声波检测法中的测长法，在仪器灵敏度一定的条件下，探头沿缺陷长度方向平行移动，当缺陷高度降到规定位置时，探头移动的距离，即为缺陷的指示长度，上述方法被称为相对灵敏度测长法。A 对B 错
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考题 多选题影响超声波检测缺陷定量的因素有（）A仪器及探头性能的影响B耦合与衰减的影响C工件几何形状和尺寸的影响D缺陷的影响
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考题 单选题靠近探头的缺陷不一定都能探测到，因为有（）A 声束扩散B 材质衰减C 仪器阻塞效应D 折射
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考题 单选题靠近探头的长条形缺陷并不一定都能测到，因为（）。A 声束扩散B 材质衰减C 仪器阻塞效应D 折射
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考题 单选题超声波试验系统分辨底面回波与靠近底面的小缺陷回波的能力（）A 主要取决于仪器发射的脉冲持续时间B 与被探工件的底面粗糙度无关C 主要取决于被检零件的厚度D 用直径较大的探头可以得到改善
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考题 多选题超声波探伤试块的作用是（）A检验仪器和探头的组合性能B确定灵敏度C缺陷定位D缺陷定量
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考题 单选题当超声波检测到一个缺陷时，缺陷波在仪器上出现的情况是（）A 缺陷波出现在底波之前B 缺陷波出现在底波之后C 仪器上无任何波形D 以上情况都是
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考题 判断题超声波探伤拭块的作用是检验仪器和探头的组合性能，确定灵敏度，缺陷定位和缺陷定量。A 对B 错
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考题 填空题靠近滩头的长条形缺陷并不一定都能检测到，是应为（）。
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考题 单选题超声波探伤试块的作用是（）A 检验仪器和探头的组合性能B 确定灵敏度C 缺陷定位D 缺陷定量E 以上都是
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