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对分度值为0.02mm的游标卡尺,用0级样板直尺(刀口尺)以光隙法检定,必要时,可以用2级平面平晶检定。


参考答案

更多 “对分度值为0.02mm的游标卡尺,用0级样板直尺(刀口尺)以光隙法检定,必要时,可以用2级平面平晶检定。” 相关考题
考题 用()刀口尺以光隙法检定齿厚游标卡尺齿高量爪测量面的直线度时,不应有()。

考题 高度游标卡尺测量爪尺寸用()检定,其测量面的平行度,可用分度值为()的测微计进行检定。

考题 用刀口尺(样板直尺)检定工作面的平面度时,通常用光隙法进行,当采用此法检定时,其间隙量一般不大于()。 A、0.010mmB、0.005mmC、0.003mm

考题 刀口尺和量块在平面平晶上可组成标准光隙。

考题 高度游标卡尺量爪测量面的平面度用()刀口直尺检定,底座工作面用()刀口直尺以光隙法检定。

考题 对分度值为0.02mm的游标卡尺,检定外量爪测量面的平面度用0级样板直尺/刀口尺以()方法检定。A、比较法B、技术光波干涉法C、光隙法

考题 长边尺寸为1000mm的直角尺,其工作面的平面度或直线度的检定,通常采用的检定方法是()。A、用刀口尺以光隙法检定B、用平晶以技术光波干涉法分段检定C、用自准直仪以节距法检定

考题 用刀口尺检定工作面的平面度时,通常以光隙法进行,采用此法检定其间隙量一般不大于()。A、0.010mmB、0.005mmC、0.003mm

考题 外径千分尺平面度用二级平晶按()检定A、光波法B、光干涉法C、光条纹法D、干涉条纹法

考题 新制的及修理后的千分尺测量面平面度可用2级平晶以()方法检定。A、技术光波干涉法B、比较法C、光隙法

考题 深度游标卡尺尺身和尺框测量面的平面度用一级刀口尺以光隙法检定时应在被检测量面的长短边及()方向上进行.A、轴向B、径向C、对角线

考题 若有一量具工作面的平面度为0.010mm,为了达到检定结果的准确起见,该工作面的平面度采用合适的检定方法为()A、用刀口尺以光隙法检定B、用平晶以技术光波干涉法检定C、用刀口尺以量块比较法检定

考题 若有一量具工作面的平面度为0.010mm,为了达到检定结果的准确起见,该工作面的平面度采用合适的检定方法为()。A、用刀口尺以光隙法检定B、用平晶的技术光波干涉法检定C、用刀口尺以量块比较法检定

考题 检定深度尺示值误差时,可以用刀口尺以光隙法检查主尺端面与深度尺端面是否在同一平面内来代替量块检定深度尺示值误差。

考题 检定分度值为0.02mm的游标卡尺时,圆弧内量爪的平行度应不大于()mm。

考题 深度游标卡尺尺身和尺框测量面的表面粗糙度用表面粗糙度比较样块比较检定,对于分度值为0.02mm的Ra值不大于();分度值为0.05和0.1mm的Ra值不大于()。

考题 用刀口尺检定游标卡尺的平面度时,应在测量面纵、横向中间和两对角线四个方位检定。如检定时光隙在某一方位出现在中间部位,另一方位出现在两边部位时,则测量面的平面度以中间部位最大光隙量与两边部位最大光隙()确定。A、之和B、之和的1/2C、之差

考题 单选题对分度值为0.02mm的游标卡尺,检定外量爪测量面的平面度用0级样板直尺/刀口尺以()方法检定。A 比较法B 技术光波干涉法C 光隙法

考题 填空题检定分度值为0.02mm的游标卡尺时,圆弧内量爪的平行度应不大于()mm。

考题 判断题对分度值为0.02mm的游标卡尺,用0级样板直尺(刀口尺)以光隙法检定,必要时,可以用2级平面平晶检定。A 对B 错

考题 判断题刀口尺和量块在平面平晶上可组成标准光隙。A 对B 错

考题 单选题长边尺寸为1000mm的直角尺,其工作面的平面度或直线度的检定,通常采用的检定方法是()。A 用刀口尺以光隙法检定B 用平晶以技术光波干涉法分段检定C 用自准直仪以节距法检定

考题 单选题用刀口尺/样板直尺检定工作面的平面度时,通常以光隙法进行,当采用此法检定时,其间隙量一般不大于()A 0.010mmB 0.005mmC 0.003mm

考题 填空题高度游标卡尺量爪测量面的平面度用()刀口直尺检定,底座工作面用()刀口直尺以光隙法检定。

考题 单选题深度游标卡尺尺身和尺框测量面的平面度用一级刀口尺以光隙法检定时应在被检测量面的长短边及()方向上进行.A 轴向B 径向C 对角线

考题 单选题新制的及修理后的千分尺测量面平面度可用2级平晶以()方法检定。A 技术光波干涉法B 比较法C 光隙法

考题 判断题检定深度尺示值误差时,可以用刀口尺以光隙法检查主尺端面与深度尺端面是否在同一平面内来代替量块检定深度尺示值误差。A 对B 错