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DT测试过程中，TEMS手机在扫频的工作模式下，下面（）设置的情况下，被扫频的“频率集合”是动态变化的。
- A、扫频所有频道
- B、扫频指定的频率集合
- C、扫频指定半径内的频率集
- D、扫频制指定手机的邻频
参考答案
更多 “DT测试过程中，TEMS手机在扫频的工作模式下，下面（）设置的情况下，被扫频的“频率集合”是动态变化的。A、扫频所有频道B、扫频指定的频率集合C、扫频指定半径内的频率集D、扫频制指定手机的邻频” 相关考题
考题
DT测试过程中,TEMS手机在扫频的工作模式下,下面()设置的情况下,被扫频的“频率集合”是动态变化的。
A.扫频所有频道B.扫频指定半径内的频率集C.扫频指定手机的邻频D.扫频指定的频率集合
考题
干扰排查过程中,下列操作正确的是()
A.使用定向天线连接扫频仪进行室外扫频B.使用全向天线连接扫频仪进行室外扫频C.将功放直接连到扫频仪进行功放的杂散测试D.将馈线口直接连到扫频仪上进行测试
考题
新版TEMS的特点有()
A.广泛的测试手机支持能力B.MS的行为可控制性，丰富的语音及数据业务命令行支持功能C.可用内部扫频器或外部扫频器（TEMS扫频器）进行扫频D.广泛的数据业务支持功能E.话音质量索引（SQI）
考题
新版TEMS的特点有（） A、广泛的测试手机支持能力B、MS的行为可控制性，丰富的语音及数据业务命令行支持功能C、可用内部扫频器或外部扫频器（TEMS扫频器）进行扫频D、广泛的数据业务支持功能E、话音质量索引（SQI）
考题
共振吸收将出现在下列的哪种位置？（）A、扫场下的高场和扫频下的高频，较小的化学位移值（δ）B、扫场下的高场和扫频下的低频，较小的化学位移值（δ）C、扫场下的低场和扫频下的高频，较大的化学位移值（δ）D、扫场下的低场和扫频下的低频，较大的化学位移值（δ）
考题
关于扫频仪，下述说法错误的是（）A、Scanner无需安装Scanner的驱动程序B、计算机和Scanner通过以太网口连接方式进行物理连接，需要设置本机IP地址，系统才能识别Scanner并建立物理连接C、离散扫频模式，只扫描用户所关心的频点，连续扫频模式，该模式根据设定的开始、结束频率、扫频步长等进行自动搜索频点D、频谱分析测量是在整个频率范围内进行RSSI频谱分析的测量，该模式主要用于建网初期进行清频和频率规划；CW测量，该模式主要用于覆盖区域的传播模型校正及覆盖验证
考题
TD-LTE路测中，如路测采集系统发现信号很弱，通过扫频仪扫频也发现信号很弱接近-126dB，下面说法正确的是（）。A、基站可能有故障；B、终端测量信号很弱时可用扫频仪确认；C、扫频仪测试不依赖网络，故测试结果更可信；D、扫频仪测试不准。
考题
多选题TD-LTE路测中，如路测采集系统发现信号很弱，通过扫频仪扫频也发现信号很弱接近-126dB，下面说法正确的是（ ）A基站可能有故障B终端测量信号很弱时可用扫频仪确认C扫频仪测试不依赖网络，故测试结果更可信D扫频仪测试不准
考题
多选题新版TEMS的特点有（）A广泛的测试手机支持能力BMS的行为可控制性，丰富的语音及数据业务命令行支持功能C可用内部扫频器或外部扫频器（TEMS扫频器）进行扫频D广泛的数据业务支持功能E话音质量索引（SQI）
考题
问答题描述使用SonyEricsson手机进行GSM频点扫频时的操作步骤？
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