考题
超声波探伤,若仪器的重复频率过高,示波屏上将产生()信号,易造成错判。A.草状回波B.固定回波C.幻像D.杂波
考题
超声波探伤，若仪器的重复频率过高，示波屏上将产生( )信号，易造成错判。A、草状回波B、固定回波C、幻像D、杂波
考题
确定探头扫查速度时不必考虑仪器的脉冲重复频率。()
考题
超声多普勒检查出现混叠的可能原因不包括A、彩色滤波设置过高B、彩色滤波设置过低C、血流速度过快D、CDFI增益过高E、脉冲重复频率设置过高
考题
在直接接触法探伤时,若仪器的重复频率调得过高,将会产生()
A、扫描线变暗B、时基线变形C、始脉冲消失D、示波屏上出现幻象
考题
仪器重复频率（），就会出现扫描时示波屏上出现幻影。
考题
锻件接触法探伤中，如果探伤仪的“重复频率”调得过高，可能发生（）。A、 荧光屏“噪声”信号过高B、 时基线倾斜C、 始脉冲消失D、 容易出现“幻像波”
考题
探伤时幻象信号的产生是由于（）。A、发射电压过高B、重复频率过高C、放大增益过高D、发射电压过低
考题
若仪器重复频率过高，扫描时示波屏上将会出现（）。
考题
确定探头扫查速度时需要考虑仪器的脉冲重复频率
考题
若仪器重复频率过高，将不会出现（）。A、扫描时示波屏上出现幻影B、扫描亮度减弱C、时基线变形D、无波
考题
超声波探伤，若仪器的重复频率过高，示波屏上将产生幻像信号，易造成错判。
考题
在直接接触法探伤时，若仪器的重复频率调得过高，将会产生（）。A、扫描线变暗B、时基线变形C、始脉冲消失D、示波屏上出现幻像波
考题
若仪器重复频率过高，将会出现（）A、描线亮度减弱B、时基线变形C、始脉冲消失D、扫描时示波屏上出现幻影
考题
放大电路中，设置静态工作点的目的在于（），若静态工作点过低，将会引起（）失真；若静态工作点过高，将会引起（）失真。
考题
超声波探伤，若仪器的重复频率过高，示波屏上将产生（）信号，易造成错判。
考题
锻件接触法探伤时，如果探伤仪“重复频率”调的过高可能发生（）。A、荧光屏“噪声”信号过高B、时基线倾斜C、始脉冲消失D、容易出现“幻像波”
考题
探伤时幻象信号的产生是由于（）A、发射电压过高B、重复频率过高C、放大增益过高
考题
（）是由于在探测衰减小的材料时，使用过高的重复频率，在检查大锻件时容易出现的情况。
考题
单选题超声波探伤，若仪器的重复频率过高，示波屏上将产生（）信号，易造成错判.A
草状回波B
固定回波C
幻像D
杂波
考题
填空题超声波探伤，若仪器的重复频率过高，示波屏上将产生（）信号，易造成错判。
考题
单选题若仪器重复频率过高，将会出现（）A
描线亮度减弱B
时基线变形C
始脉冲消失D
扫描时示波屏上出现幻影
考题
单选题探伤时幻象信号的产生是由于（）A
发射电压过高B
重复频率过高C
放大增益过高
考题
单选题在直接接触法探伤时，若仪器的重复频率调得过高，将会产生（）。A
扫描线变暗B
时基线变形C
始脉冲消失D
示波屏上出现幻像波
考题
单选题锻件接触法探伤时，如果探伤仪“重复频率”调的过高可能发生（）。A
荧光屏“噪声”信号过高B
时基线倾斜C
始脉冲消失D
容易出现“幻像波”
考题
多选题若仪器重复频率过高，将不会出现（）。A扫描时示波屏上出现幻影B扫描亮度减弱C时基线变形D无波
考题
判断题超声波探伤，若仪器的重复频率过高，示波屏上将产生幻像信号，易造成错判。A
对B
错
考题
多选题超声多普勒检查出现混叠的可能原因不包括（）。A彩色滤波设置过高B彩色滤波设置过低C血流速度过快DCDFI增益过高E脉冲重复频率设置过高
