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由工件引起的散射通常叫做:()

  • A、背散射
  • B、侧散射
  • C、咬边
  • D、正向散射

参考答案

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考题 为了减少由自重而引起的弯曲变形,对细长工件通常采用多点支承。() 此题为判断题(对,错)。

考题 由试样本身引起的散射通常叫做()。 A、背散射B、侧散射C、正向散射D、杂乱散射

考题 因工件表面粗糙使超声波束产生的漫射叫做()A.角度调整 B.散射 C.折射 D.扩散

考题 暗袋背面受到墙壁或地板产生的散射线叫做:()A、一次散射B、内部散射C、正向散射D、背散射

考题 背散射线的存在,会影响底片的对比度。通常可在工件和胶片之间放置一个铅字B来验证背散射线是否存在。

考题 背散射线的存在,会影响底片的对比度。通常可在工件和胶片之间放置一个嵌字B来验证背散射线是否存在。

考题 由被检工件引起的散射线是()A、背散射B、侧面散射C、正向散射D、全都是

考题 因工件表面粗糙使超声波束产生的漫射叫做()A、角度调整B、散射C、折射D、扩散

考题 比较大的散射源通常是()A、铅箔增感屏B、铅背板C、地板和墙壁D、被检工件本身

考题 透照工件时在暗袋后放薄铅板的作用是()A、起增感作用B、防止工件散射线C、防止背散射D、以上都不是

考题 窄束射线和宽束射线,在透照工件时出现下列情况()。A、窄束透照工件时,未散射的透过射线I和工件的散射线IS均到达检测器B、宽束透照工件时,未散射的透过射线I和工件的散射线IS均到达检测器C、窄束透照工件时,只有未散射的透过射线I到达检测器D、以上B和C均正确

考题 由粗晶组织引起的散射,在示波屏上会看到()。A、 工件底面回波B、 始脉冲消失C、 草状回波D、 以上都不对

考题 比较大的散射源通常是()。A、铅增感屏B、被检测工件C、地面和墙壁

考题 耦合剂的主要作用是()A、补偿被探件表面粗糙B、补偿因曲面引起的灵敏度下降C、确保探头与工件声能的传递D、补偿工件因晶粒度大引起的散射衰减

考题 单选题窄束射线和宽束射线,在透照工件时出现下列情况()。A 窄束透照工件时,未散射的透过射线I和工件的散射线IS均到达检测器B 宽束透照工件时,未散射的透过射线I和工件的散射线IS均到达检测器C 窄束透照工件时,只有未散射的透过射线I到达检测器D 以上B和C均正确

考题 单选题透照工件时在暗袋后放薄铅板的作用是()A 起增感作用B 防止工件散射线C 防止背散射D 以上都不是

考题 单选题由工件引起的散射通常叫做:()A 背散射B 侧散射C 咬边D 正向散射

考题 单选题由粗晶组织引起的散射,在示波屏上会看到()。A 工件底面回波B 始脉冲消失C 草状回波D 以上都不对

考题 单选题以下有关内部散射线和外部散射线的说法错误的是()A 由于工件内部形成的散射线称内部散射线B 工件以外物体形成的散射线称外部散射线C 射线照相时,到达胶片的散射线,最主要是来自工件以外物体形成的外部散射线D 射线照相时,到达胶片的散射线,最主要是来自被透照工件本身的内部散射

考题 单选题由试样本身引起的散射通常叫做()A 背散射B 侧散射C 正向散射D 杂乱散射

考题 判断题背散射线的存在,会影响底片的对比度。通常可在工件和胶片之间放置一个铅字B来验证背散射线是否存在。A 对B 错

考题 单选题比较大的散射源通常是()A 铅箔增感屏B 铅背板C 地板和墙壁D 被检工件本身

考题 单选题暗袋背面受到墙壁或地板产生的散射线叫做:()A 一次散射B 内部散射C 正向散射D 背散射

考题 单选题耦合剂的主要作用是()A 补偿被探件表面粗糙B 补偿因曲面引起的灵敏度下降C 确保探头与工件声能的传递D 补偿工件因晶粒度大引起的散射衰减

考题 判断题背散射线的存在,会影响底片的对比度。通常可在工件和胶片之间放置一个嵌字B来验证背散射线是否存在。A 对B 错

考题 单选题因工件表面粗糙使超声波束产生的漫射叫做()A 角度调整B 散射C 折射D 扩散

考题 单选题由被检工件引起的散射线是()A 背散射B 侧面散射C 正向散射D 全都是