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用40KV或50KV的X射线对同一工件照相，两次摄影所获得的结果有什么差异？（）

  • A、40KV曝光时，衬度高，曝光范围比50KV时大
  • B、50KV曝光时，衬度低，曝光范围比40KV时大
  • C、40KV曝光时，衬度较低，曝光范围比50KV时大
  • D、50KV曝光时，衬度高，曝光范围比40KV时大

参考答案

更多 “用40KV或50KV的X射线对同一工件照相，两次摄影所获得的结果有什么差异？（）A、40KV曝光时，衬度高，曝光范围比50KV时大B、50KV曝光时，衬度低，曝光范围比40KV时大C、40KV曝光时，衬度较低，曝光范围比50KV时大D、50KV曝光时，衬度高，曝光范围比40KV时大” 相关考题
考题 用射线照相无损探伤的方法有()。 A、α射线B、γ射线C、β射线D、X射线
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考题 用同一测验对同一组被试在实验前后进行两次测验,所获得的两组测验结果属于相关样本。() 此题为判断题(对，错)。
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考题 60Co源的半衰期为5.3年,用一个新源进行射线照相可得到满意的射线底片,两年后用该源对同一工件按同样条件进行射线照相,为得到同样的底片,曝光时间()。 A、不变B、约延长10%C、约延长30%D、约延长60-100%
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考题 X射线诊断的筛选性普查还应避免使用()方法。 A、X射线摄影B、X射线CT检查C、乳腺X射线摄影D、X射线透视
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考题 摄影管电压范围为25~40kV时,称为A.高千伏摄影B.软X线摄影C.准高电压摄影SX 摄影管电压范围为25～40kV时，称为A.高千伏摄影B.软X线摄影C.准高电压摄影D.普通X线摄影E.准低电压摄影
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考题 在射线照相中，确定缺陷在工件中深度位置的方法是（）A、在互相垂直的两个方向对工件作二次照相B、对工件作平移二次照相C、对工件作旋转二次照相D、以上都是
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考题 曝光曲线在制作时往往把哪一些参数固定（）A、X射线机、照相的焦距、底片黑度、所使用的胶片和增感屏、射线能量B、X射线机、照相的焦距、底片黑度、所使用的胶片和增感屏、曝光量C、X射线机、照相的焦距、底片黑度、所使用的胶片和增感屏、透照厚度D、X射线机、照相的焦距、底片黑度、所使用的胶片和增感屏、暗室处理的工艺条件
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考题 当管电压高于50KV时，获得的X射线谱：（）A、只有标识谱B、只有连续谱C、有标识谱也有连续谱D、条件不足，不能确定
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考题 摄影管电压范围为25～40kV时，称为（）A、高千伏摄影B、软X线摄影C、准高电压摄影D、普通X线摄影E、准低电压摄影
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考题 γ射线照相的优点是射源尺寸小，且对大厚度工件照相曝光时间短。
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考题 在X射线照相检验中，工件的体积型缺陷，较易被发现
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考题 对Axios荧光光谱仪，以下手动升压正确的顺序是（）A、20kv/10mA20kv/20mA20kv/30mA20kv/40mA20kv/50mA30kv/50mA40kv/50mA50kv/50mAB、20kv/10mA30kv/10mA40kv/10mA50kv/10mA50kv/20mA50kv/30mA50kv/40mA50kv/50mAC、20kv/10mA30kv/10mA40kv/10mA50kv/10mA50kv/50mAD、20kv/10mA20kv/20mA20kv/30mA20kv/40mA20kv/50mA50kv/50mA
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考题 关于软X线摄影的叙述，正确的是（）A、40kV以下管电压摄影称"软X线摄影"B、适应于乳腺、喉侧位摄影等C、软组织摄影X线是由钨靶X线管产生D、可获得对比良好的软组织X线照片E、适应于被照物体组织较薄的软组织
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考题 射线照相法是利用X、γ射线穿透工件，以（）作为记录信息的无损检测方法。A、像质计B、胶片C、评定尺D、增感屏
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考题 Y射线照相法对厚度50mm以下的工件检测灵敏度比x射线高。（）
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考题 在普通X射线摄影中，用（）作为阳极靶。
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考题 什么是特殊X射线摄影？试述软X射线摄影、高千伏X射线摄影、体层摄影的基本原理。
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考题 射线照相探伤，工件对比度受（）的响。A、工件厚度差B、射线强度C、散热度D、工件材质
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考题 射线照相探伤，焦距是指（）的距离。A、焦点到工件B、焦点到胶片C、射线窗口到工件D、射线窗口到胶片
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考题 单选题用40KV或50KV的X射线对同一工件照相，两次摄影所获得的结果有什么差异？（）A 40KV曝光时，衬度高，曝光范围比50KV时大B 50KV曝光时，衬度低，曝光范围比40KV时大C 40KV曝光时，衬度较低，曝光范围比50KV时大D 50KV曝光时，衬度高，曝光范围比40KV时大
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考题 单选题60Co源的半衰期为5.3年，用一个新源进行射线照相可得到满意的射线底片，两年后用该源对同一工件按同样条件进行射线照相，为得到同样的底片，曝光时间（）A 不变B 约延长10%C 约延长30%D 约延长60-100%
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考题 单选题以下有关内部散射线和外部散射线的说法错误的是（）A 由于工件内部形成的散射线称内部散射线B 工件以外物体形成的散射线称外部散射线C 射线照相时，到达胶片的散射线，最主要是来自工件以外物体形成的外部散射线D 射线照相时，到达胶片的散射线，最主要是来自被透照工件本身的内部散射
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考题 单选题射线照相探伤，焦距是指（）的距离。A 焦点到工件B 焦点到胶片C 射线窗口到工件D 射线窗口到胶片
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考题 判断题γ射线照相的优点是射源尺寸小，且对大厚度工件照相曝光时间短。A 对B 错
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考题 判断题在X射线照相检验中，工件的体积型缺陷，较易被发现A 对B 错
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考题 单选题射线照相探伤，工件对比度受（）的响。A 工件厚度差B 射线强度C 散热度D 工件材质
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考题 单选题在射线照相中，确定缺陷在工件中深度位置的方法是（）A 在互相垂直的两个方向对工件作二次照相B 对工件作平移二次照相C 对工件作旋转二次照相D 以上都是
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