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在IC芯片生长中浅沟槽隔离技术STI逐渐取代了局部氧化LOCOS所制成的()而成为相邻电子元件的绝缘体

  • A、栅氧化层
  • B、沟槽
  • C、势垒
  • D、场氧化层

参考答案

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考题 地表流水逐渐向低洼沟槽中汇集,侵蚀使沟槽向深处下切,同时使沟槽不断变宽,这个过程叫做()。A、洗刷作用B、冲刷作用C、淋滤作用D、河流地质作用

考题 定额中“在沟槽坑底”、“在沟槽坑边”如何理解?

考题 在成核-生长机制的液-固相变过程中,其成核过程有非均匀成核与均匀成核之分。将非均匀成核与均匀成核过程的成核势垒相比较,有如下关系()。A、非均匀成核势垒≥均匀成核势垒B、非均匀成核势垒≤均匀成核势垒C、非均匀成核势垒=均匀成核势垒D、视具体情况而定,以上三种均可能。

考题 上下沟槽走马道或()。严禁攀登撑木或乘()、下沟槽,作业中不得碰撞沟槽支撑。严禁在槽内、管内休息。

考题 在铅酸蓄电池中,正极板栅比负极板栅厚,原因之一是在充电时,特别是在过充电时,正极板栅要遭到腐蚀,逐渐被氧化成二氧化铅而失去板栅的作用,为补偿其腐蚀量必须加粗加厚正极板栅。

考题 变容二极管是利用PN结的势垒电容而制成的,应工作在()状态。

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考题 单选题地表流水逐渐向低洼沟槽中汇集,侵蚀使沟槽向深处下切,同时使沟槽不断变宽,这个过程叫做()。A 洗刷作用B 冲刷作用C 淋滤作用D 河流地质作用

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考题 填空题列出热氧化物在硅片制造的4种用途()、()、场氧化层和()。

考题 判断题在铅酸蓄电池中,正极板栅比负极板栅厚,原因之一是在充电时,特别是在过充电时,正极板栅要遭到腐蚀,逐渐被氧化成二氧化铅而失去板栅的作用,为补偿其腐蚀量必须加粗加厚正极板栅。A 对B 错

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考题 单选题在成核-生长机制的液-固相变过程中,其成核过程有非均匀成核与均匀成核之分。将非均匀成核与均匀成核过程的成核势垒相比较,有如下关系()。A 非均匀成核势垒≥均匀成核势垒B 非均匀成核势垒≤均匀成核势垒C 非均匀成核势垒=均匀成核势垒D 视具体情况而定,以上三种均可能。