实验本身可避免内源性非特异荧光干扰的检测方法为A.FPIAB.TRFIAC.间接法荧光抗体染色D.荧光酶免疫分析E.直接法荧光抗体染色

题目内容（请给出正确答案）

实验本身可避免内源性非特异荧光干扰的检测方法为

A.FPIA

B.TRFIA

C.间接法荧光抗体染色

D.荧光酶免疫分析

E.直接法荧光抗体染色

参考答案

考题关于直接法荧光抗体染色的特点,错误的是A.简单易行,特异性高B.敏感度偏低C.每检测一种抗原需制备一种相应的荧光抗体D.非特异性荧光染色因素步E.可检测抗原及抗体

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考题能用于抗原定位检测的实验为A.直接法荧光抗体染色B.TRFIAC.荧光偏振免疫分析D.ELISAE.免疫比浊分析

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考题实验本身即可避免内源性非特异荧光干扰的检测方法是 ( )A、TRFIAB、FPIAC、荧光酶免疫分析D、直接法荧光抗体染色E、间接法荧光抗体染色

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考题实验本身即可避免内源性非特异性荧光干扰的检测方法为A、时间分辨荧光免疫测定B、荧光偏振免疫测定C、荧光酶免疫测定D、直接荧光抗体染色法E、间接荧光抗体染色法

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考题直接法荧光抗体技术的缺点是A．简便易行B．特异性高C．检测抗原D．每检查一种抗原需要制备相应的荧光抗体E．非特异荧光染色少

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考题实验本身即可避免内源性非特异性荧光干扰的检测方法为A.时间分辨荧光免疫测定B.荧光偏振免疫测定C.荧光酶免疫测定D.直接荧光抗体染色法E.间接荧光抗体染色法

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考题直接法荧光抗体技术的缺点是A、简便易行B、特异性高C、检测抗原D、每检查一种抗原需要制备相应的荧光抗体E、非特异荧光染色少

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考题直接法荧光抗体技术的缺点是A:简便易行B:特异性高C:检测抗原D:每检查一种抗原需要制备相应的荧光抗体E:非特异荧光染色少

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考题直接法荧光抗体技术的缺点是A.简便易行 B.特异性高 C.检测抗原 D.每检查一种抗原需要制备相应的荧光抗体 E.非特异荧光染色少

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