半机械半电子测量系统在测量中每次只能测量一个控制点,或两个控制点之间的位置参数,不能同时测量多个控制点。() 此题为判断题(对，错)。

题目内容（请给出正确答案）

半机械半电子测量系统在测量中每次只能测量一个控制点,或两个控制点之间的位置参数,不能同时测量多个控制点。()

此题为判断题(对，错)。

参考答案

考题半机械半电子测量系统不能随着测量点数据的变化而及时地反映出来,需要不断反复测量不同的控制点来确定相关尺寸的正确性,操作比较繁琐,效率较低。() 此题为判断题(对，错)。

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考题半机械半电子测量系统在测量中每次可以测量多个控制点,或多个控制点之间的位置参数。( ) 此题为判断题(对，错)。

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考题半机械半电子测量系统随着测量点数据的变化而及时地反映出来,无需不断反复测量不同的控制点来确定相关尺寸的正确性,操作简单,效率高。( ) 此题为判断题(对，错)。

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考题轨道式量规不仅每次能测量和记录一对测量点,同时还可以和另外两个控制点进行交叉测量和对比检验。() 此题为判断题(对，错)。

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考题在实际拉伸修复中经常要同时监控多个控制点,而自由臂测量系统不能做到多点同步进行测量。() 此题为判断题(对，错)。

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考题半自动电子的自由臂测量系统只有一个测量臂,在测量中每次只能测量一个控制点。() 此题为判断题(对，错)。

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考题控制测量分为平面控制测量和高程控制测量，平面控制测量确定控制点的平面位置（X，Y），高程控制测量确定控制点的高程（H）。

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考题具有控制全局作用的网点称为控制点，测定控制点平面位置和（）的测量称为控制测量。

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考题 16、具有控制全局作用的网点称为控制点，测定控制点平面位置和（）的测量称为控制测量。

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