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质控图至少应包括( )

A、上控制界限

B、下控制界限

C、中心线

D、允许误差限

E、允许不精密度限

参考答案

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考题 Levey-Jennings质控图以`x±3为A.警告限B.失控限C.在控限D.误差限E.系统误差限
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考题 控制图由( )组成。A．上、下控制限B．规范限C．中心线D．点子链
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考题 质控规则是解释质控数据和判断分析批是否在控的标准，以符号AL或nL表示，其中A代表A、测定质控结果的统计量B、超过控制限的质控测定值的个数C、控制限内的质控测定值的个数D、控制界限E、超过警告限的质控测定值的个数
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考题 常规控制图的组成部分有（ ）。 A.上下控制限 B.公差界限 C.子样数据的描点序列 D.控制中心线 E.数组
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考题 Levey-Jennings质控图以为A:警告限B:失控限C:在控限D:误差限E:系统误差限
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考题 Levey-Jennings质控图以±3s为A.警告限B.失控限C.在控限D.误差限E.系统误差限
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考题 常规控制图的构成部分有（ ）。 A.子组数值描点序列 B.中心线 C.上控制限（UCL) D.公差界限（USL，LSL) E.下控制限（LCL)
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考题 质控图至少应包括（）A上控制界限B下控制界限C中心线D允许误差限E允许不精密度限
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考题 控制图上有中心线CL、上控制界限UCL和下控制界限LCL，其中，上、下控制界限可以用来判断（）。A、产品是否合格B、过程是否稳定C、过程能力是否满足技术要求D、过程中心与规格中心是否发生偏移
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考题 控制图中，上控制界限用符号（）表示；中心线用符号（）表示；下控制界限用符号（）表示。
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考题 常规控制图对过程质量特性值进行测定、记录、评估，从而监察过程是否处于控制状态的一种用统计方法设计的图，图中组成部分有（）。A、上、下控制限B、公差界限C、子样数据的描点序列D、控制中心线E、数组
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考题 ELISA实验质控图的建立应包括（）A、保存失控情况分析处理记录B、设定质控图控制限C、绘制质控图D、质控图框架的重建E、设定质控图均值和标准差
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考题 控制限是指判断质控品测定的允许范围的上、下限，通常以标准差的倍数表示。
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考题 在计算出控制图的上下界限后，可以比较上下控制界限和上下公差限的数值，这两个界限范围的关系是：（）A、上下控制界限的范围一定与上下公差限的范围相同B、上下控制界限的范围一定比上下公差限的范围宽C、上下控制界限的范围一定比上下公差限的范围窄D、上下控制界限的范围与上下公差限的范围一般不能比较
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考题 通常质控符号以AL表示，其中A表示（）A、质控测定次数B、控制限C、控制限的测定值D、超出质量控制限的测定值的个数E、误差
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考题 关于灵敏限的数值，下面叙述不正确的是（）A、灵敏限的数值应不大于仪表允许误差绝对值的1/4B、灵敏限的数值应不大于仪表允许误差绝对值的1/3C、灵敏限的数值应不大于仪表允许误差绝对值的1/2D、灵敏限的数值应不大于仪表允许误差绝对值的1/5
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考题 判断题控制限是指判断质控品测定的允许范围的上、下限，通常以标准差的倍数表示。A 对B 错
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考题 填空题控制图中，上控制界限用符号（）表示；中心线用符号（）表示；下控制界限用符号（）表示。
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考题 多选题ELISA实验质控图的建立应包括（）A保存失控情况分析处理记录B设定质控图控制限C绘制质控图D质控图框架的重建E设定质控图均值和标准差
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考题 单选题在计算出控制图的上下界限后，可以比较上下控制界限和上下公差限的数值，这两个界限范围的关系是：（）A 上下控制界限的范围一定与上下公差限的范围相同B 上下控制界限的范围一定比上下公差限的范围宽C 上下控制界限的范围一定比上下公差限的范围窄D 上下控制界限的范围与上下公差限的范围一般不能比较
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考题 单选题通常质控符号以AL表示，其中A表示（）A 质控测定次数B 控制限C 控制限的测定值D 超出质量控制限的测定值的个数E 误差
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考题 多选题质控图至少应包括（）A上控制界限B下控制界限C中心线D允许误差限E允许不精密度限
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考题 单选题质控规则是解释质控数据和判断分析批是否在控的标准，以符号AL或nL表示，其中A代表（）A 测定质控结果的统计量B 超过控制限的质控测定值的个数C 控制限内的质控测定值的个数D 控制界限E 超过警告限的质控测定值的个数
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考题 多选题常规控制图的构成部分有（　　）。A子组数值描点序列B中心线C上控制限（UCL）D公差界限（USL，LSL）E下控制限（LCL）
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考题 多选题常规控制图对过程质量特性值进行测定、记录、评估，从而监察过程是否处于控制状态的一种用统计方法设计的图，图中组成部分有（）。A上、下控制限B公差界限C子样数据的描点序列D控制中心线E数组
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考题 多选题控制图由（　　）组成。A上、下控制限B规范限C中心线D点子链
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