内建测试系统(BIS1)是SoC片上系统的重要结构之一,J1AG测试接口是IC芯片测试方法的标准。() 此题为判断题(对，错)。

题目内容（请给出正确答案）

内建测试系统(BIS1)是SoC片上系统的重要结构之一,J1AG测试接口是IC芯片测试方法的标准。()

此题为判断题(对，错)。

参考答案

考题子系统测试方法有:()。 A、系统测试和模块测试B、白盒测试和黑盒测试C、功能测试核结构测试D、非渐增式测试和渐增式测试

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考题集成测试时，能够较早发现高层模块接口错误的测试方法是 ______。A．自底向上渐增式测试方法B．自顶向下渐增式测试方法C．非渐增式测试方法D．系统测试方法

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考题集成测试时，能够较早发现高层模块接口错误的测试方法是______。A) 自底向上渐增式测试方法B) 自顶向下渐增式测试方法C) 非渐增式测试方法D) 系统测试方法A．B．C．D．

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考题 ● 现代电子设计方法包含了可测试设计，其中（39）接口是 IC 芯片测试的标准接口。（39）A. BIST B. JTAG C. UART D. USB

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考题 J1AG测试允许多个器件通过J1AG接口串联在一起形成一个J1AG 链,能实现对各个器件分别测试。() 此题为判断题(对，错)。

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考题关于测试类型的应用范围,下面哪个是正确的() A.结构测试只能用在组件测试或集成测试B.功能测试只能用在系统测试或验收测试C.白盒测试方法不能用于系统测试D.功能测试和结构性测试可以应用在任何测试级别

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考题现代电子设计方法包含了可测试设计，其中(39)接口是IC芯片测试的标准接口。A．BISTB．JTAGC．UARTD．USB

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考题使用程序设计的控制结构导出测试用例的测试方法是（）。A.黑盒测试 B.白盒测试 C.边界测试 D.系统测试

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考题集成测试时，能较早发现高层模块接口错误的测试方法是（）。A．自顶向下渐增式测试B．自底向上渐增式测试C．非渐增式测试D．系统测试

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