电离室探测射线依据的是（）A、电离作用B、荧光现象C、感光效应D、康普顿散射E、光电效应

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电离室探测射线依据的是（）

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考题气体闪烁探测器探测射线的依据是A、电离作用B、荧光现象C、感光效应D、康普顿散射E、光电效应

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考题多丝正比电离室探测器是A、直接探测器B、间接探测器C、模拟探测器D、平板探测器E、动态探测器

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考题电离室探测射线依据的是A、电离作用B、荧光现象C、感光效应D、康普顿散射E、光电效应

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考题中子个人剂量监测中常用的方法是A.电离室B.闪烁探测器C.半导体探测器中子个人剂量监测中常用的方法是A.电离室B.闪烁探测器C.半导体探测器D.CaS02热释光剂量元件E.a径迹(片)

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考题半导体探测器与空气电离室比较突出优点是（）A、具有很高的灵敏度B、不易受环境温度影响C、对中低能X射线的测量较准确D、不会产生“暗”电流E、探头不易受损

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考题半导体探测器又称为（）A、气体电离室B、液体电离室C、固体电离室D、晶体电离室E、空穴电离室

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考题需通过光敏元件成像的探测器是（）A、空气电离室B、CCD探测器C、多丝正比电离室D、半导体狭缝扫描仪E、直接转换平板探测器

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考题工业核仪表常用射线探测器有（）A、闪烁探测器B、电离室探测器C、盖革计数管

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考题放射性计量秤主要由（）等几部分组成。A、r射线放射源B、皮带支架C、射线探测器-长电离室D、主机系统

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考题以下哪一种探测器，不是利用射线在空气中电离效应原理（）A、电离室B、正比计数器C、盖革-弥勒记数管D、闪烁探测器

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考题工业核仪表中常用的射线探测器有（）。A、闪烁探测器B、霍尔探测器C、光电倍增管D、电离室探测器

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考题工业核仪表常用的射线探测器不包括下列哪类仪表（）。A、闪烁探测器B、电离室探测器C、光电隔离器

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考题 YJ17烟支重量控制系统中当烟条密度变化时，会引起进入电离室的（）变化，从而改变电离室内气体的电离程度，使电离室输出电流发生变化。A、β射线强度B、γ射线强度C、X射线强度D、铀射线强度

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考题工业核仪表常用射线探测器有（）A、闪烁探测器B、电离室探测器C、盖革计数管D、烟雾探测器

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考题单选题电离室探测射线依据的是（）。A 电离作用B 荧光现象C 感光效应D 康普顿散射E 光电效应

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考题单选题需通过光敏元件成像的探测器是（）A 空气电离室B CCD探测器C 多丝正比电离室D 半导体狭缝扫描仪E 直接转换平板探测器

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考题单选题以下哪一种探测器，不是利用射线在空气中电离效应原理（）A 电离室B 正比计数器C 盖革-弥勒记数管D 闪烁探测器

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考题单选题多丝正比电离室探测器是（）A 直接探测器B 间接探测器C 模拟探测器D 平板探测器E 动态探测器

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考题单选题工业核仪表常用的射线探测器不包括下列哪类仪表（）。A 闪烁探测器B 电离室探测器C 光电隔离器

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