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用CSK-1A试块测定探头和仪器分辨力,现测得台孔φ50、φ44反射波等高时,波峰高H1=80%,波谷高H2=50%,求分辨力为多少?


参考答案

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考题 CSK-1A试块φ40、φ44、φ50、台阶孔,主要用来测试斜探头的()。A、入射点B、折射角C、分辨率D、K值

考题 斜探头的K值常用CSK-ⅠA试块上的φ50和φ1.5横孔来测定。

考题 CSK-IB试块上,Φ50和Φ44mm两孔的台阶可用来测定()的()

考题 CSK-ⅠA试块上φ50 、φ44、φ40 三孔的台阶,可用来测定斜探头的分辨力。

考题 与IIW试块相比,CSKⅠA试块的优点之一是可以测定斜探头的分辨力。

考题 CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔,其目的是()A、测定斜探头K值B、测定直探头盲区范围C、测定斜探头分辨力D、以上全是

考题 用CSK-1A试块可测定仪器和探头的哪些组合性能指标?

考题 水平线性误差测量时,将2.0MHz0°直探头放在CSK-1A标准试块上,仪器自动测量1~5次回波,按“确定”自动计算水平线性误差,完成后进入分辨力测量。

考题 CSK-IA试块将IIW试块的φ50孔改为φ40、φ44和φ50台阶孔,其目的是()A、测定斜探头K值B、测定直探头盲区范围C、测定斜探头分辨率D、以上全部

考题 70度探头折射角测定应()。A、在CSK-1A试块A面探测Ф50圆弧B、在CSK-1A试块B面探测Ф50圆弧C、在CSK-1A试块探测Ф1.5横孔D、在半圆试块上测定

考题 通用探伤仪的水平线性误差测定应()。A、在CSK-1A试块探测厚度25mm的底面B、在CSK-1A试块探测厚度100mm的底面C、在CSK-1A试块探测厚度91mm的底面D、在CSK-1A试块探测半径50mm的圆弧面

考题 铁路货车小角度纵波探头回波频率及频率误差的测试在()回波。A、DB-H1型标准试块扫查3×80mm的横通孔B、CSK-1A型标准试块扫查1.5mm的横通孔C、DB-PZ20-4型标准试块扫查4×200mm的平底孔D、CSK-1A型标准试块扫查50mm的横通孔

考题 70°探头折射角测定应()。A、在CSK-1A试块A面探测φ50圆弧B、在CSK-1A试块B面探测φ50圆弧C、在CSK-1A试块探测φ1.5横孔D、在半圆试块上测定

考题 CSK-1A试块有机玻璃可测定()。A、直探头盲区B、直探头穿透能力C、直探头盲区和穿透能力D、上述都不能测

考题 试块的用途有哪些?CSK-IA试块可测定仪器和探头的哪些性能?

考题 CSK-1A试块φ50有机玻璃圆孔可用于测试斜探头的折射角和分辨率。

考题 A型显示超声波探伤设备(包括仪器和探头)的距离分辨力通常用()试块测量。

考题 CSK-1A试块1.5横孔用来测量斜探头K()的探头.A、>1.5B、>2C、>2.5D、>3

考题 0°探头分辨率的测定应使用()。A、CSK-1A试块85、91台阶底面B、CSK-1A试块φ40、44圆弧面C、WGT-1试块D、WGT-2试块

考题 问答题用CSK-1A试块测定探头和仪器分辨力,现测得台孔φ50、φ44反射波等高时,波峰高H1=80%,波谷高H2=50%,求分辨力为多少?

考题 判断题CSK-ⅠA试块上φ50 、φ44、φ40 三孔的台阶,可用来测定斜探头的分辨力。A 对B 错

考题 单选题CSK-1A试块有机玻璃可测定()。A 直探头盲区B 直探头穿透能力C 直探头盲区和穿透能力D 上述都不能测

考题 问答题用CSK-1A试块可测定仪器和探头的哪些组合性能指标?

考题 单选题70°探头折射角测定应()。A 在CSK-1A试块A面探测φ50圆弧B 在CSK-1A试块B面探测φ50圆弧C 在CSK-1A试块探测φ1.5横孔D 在半圆试块上测定

考题 单选题CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔,其目的是()A 测定斜探头K值B 测定直探头盲区范围C 测定斜探头分辨力D 以上全是

考题 单选题CSK-1A试块1.5横孔用来测量斜探头K()的探头.A >1.5B >2C >2.5D >3

考题 单选题CSK-1A试块φ40、φ44、φ50、台阶孔,主要用来测试斜探头的()。A 入射点B 折射角C 分辨率D K值